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임상용 시스템 검출 양자효율 검출 방법 및 그 시스템

  • 기술번호 : KST2015210451
  • 담당센터 : 서울서부기술혁신센터
  • 전화번호 : 02-6124-6930
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요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 검출기의 성능 평가 뿐만아니라, 환자에서 발생하는 산란선, 엑스선의 투과력 및 선량, 엑스선 발생장치의 특성 등의 임상환경을 반영하여 전체 엑스선 촬영 장치의 정량적인 평가를 함으로서 장비의 유지 및 환자 피폭선량의 최적화를 할 수 있게 한, 시스템 검출 양자 효율(sDQE) 검출 방법과 그 시스템에 관한 것이다.본 발명의 X선 영상용 시스템의 검출 양자효율 검출 시스템은, 시스템 변조전달함수(sMTF) 연산을 위한 에지 검사장치의 영상인 sMTF용 영상과, 시스템 정규화된 잡음 파워 스펙트럼(sNNPS) 연산을 위한 화이트(White) 영상 및 다크(dark) 영상이 추출되는 이미지 획득부; 조사선량값, 투과력값, 산란선값이 입력되는 키입력부; 상기 이미지 획득부로부터 수신된 sMTF용 영상으로부터 시스템 변조전달함수(sMTF)를 구하며, 상기 이미지 획득부로부터 수신된 화이트(White) 영상 및 다크(dark) 영상으로부터 시스템 정규화된 잡음 파워 스펙트럼(sNNPS)을 구하고, 상기 시스템 변조전달함수(sMTF)와 상기 시스템 정규화된 잡음 파워 스펙트럼(sNNPS)를 이용하여 시스템 검출 양자효율를 검출하는 연산처리부;를 포함하여 이루어진 것을 특징으로 한다.
Int. CL G01T 1/16 (2006.01) A61B 6/00 (2006.01)
CPC A61B 6/50(2013.01) A61B 6/50(2013.01) A61B 6/50(2013.01) A61B 6/50(2013.01)
출원번호/일자 1020120057994 (2012.05.31)
출원인 연세대학교 원주산학협력단
등록번호/일자 10-1270002-0000 (2013.05.27)
공개번호/일자
공고번호/일자 (20130531) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 소멸
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2012.06.01)
심사청구항수 29

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 연세대학교 원주산학협력단 대한민국 강원도 원주시

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 김희중 대한민국 강원도 원주시 늘품로 **
2 박혜숙 대한민국 강원도 원주시
3 김예슬 대한민국 강원도 원주시

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 민혜정 대한민국 서울특별시 송파구 오금로 **, ***호(방이동, 잠실리시온)(스텔라국제특허법률사무소)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 연세대학교 원주산학협력단 강원도 원주시
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application		 2012.05.31 수리 (Accepted) 1-1-2012-0435765-96
2 [심사청구]심사청구(우선심사신청)서
[Request for Examination] Request for Examination (Request for Preferential Examination)		 2012.06.01 수리 (Accepted) 1-1-2012-0440549-58
3 [우선심사신청]심사청구(우선심사신청)서
[Request for Preferential Examination] Request for Examination (Request for Preferential Examination)		 2012.10.08 수리 (Accepted) 1-1-2012-0814144-98
4 보정요구서
Request for Amendment		 2012.10.09 발송처리완료 (Completion of Transmission) 1-5-2012-0124627-81
5 [출원서등 보정]보정서
[Amendment to Patent Application, etc.] Amendment		 2012.10.10 수리 (Accepted) 1-1-2012-0820471-09
6 [우선심사신청]선행기술조사의뢰서
[Request for Preferential Examination] Request for Prior Art Search		 2012.10.10 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
7 [우선심사신청]선행기술조사보고서
[Request for Preferential Examination] Report of Prior Art Search		 2012.10.18 수리 (Accepted) 9-1-2012-0078451-99
8 의견제출통지서
Notification of reason for refusal		 2013.02.14 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2013-0101594-77
9 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)		 2013.02.15 수리 (Accepted) 1-1-2013-0136733-90
10 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment		 2013.02.15 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2013-0136723-33
11 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2013.02.26 수리 (Accepted) 4-1-2013-0003835-11
12 등록결정서
Decision to grant		 2013.02.28 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2013-0142534-43
13 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2013.04.24 수리 (Accepted) 4-1-2013-5062749-37
14 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2013.06.03 수리 (Accepted) 4-1-2013-5080015-66
15 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2013.06.24 수리 (Accepted) 4-1-2013-5088566-87
16 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2014.09.25 수리 (Accepted) 4-1-2014-5114224-78
17 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2016.05.10 수리 (Accepted) 4-1-2016-5057268-74
18 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2017.06.23 수리 (Accepted) 4-1-2017-5098886-10
19 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2018.05.14 수리 (Accepted) 4-1-2018-5085255-51
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
시스템 변조전달함수(sMTF) 연산을 위한 에지 검사장치의 영상인 sMTF용 영상과, 시스템 정규화된 잡음 파워 스펙트럼(sNNPS) 연산을 위한 화이트(White) 영상 및 다크(dark) 영상이 추출되는 이미지 획득부; 조사선량값, 투과력값, 산란선값이 입력되는 키입력부;상기 이미지 획득부로부터 수신된 sMTF용 영상으로부터 시스템 변조전달함수(sMTF)를 구하며, 상기 이미지 획득부로부터 수신된 화이트(White) 영상 및 다크(dark) 영상으로부터 시스템 정규화된 잡음 파워 스펙트럼(sNNPS)을 구하고,상기 시스템 변조전달함수(sMTF)와 상기 시스템 정규화된 잡음 파워 스펙트럼(sNNPS)를 이용하여 시스템 검출 양자효율를 검출하는 연산처리부;를 포함하여 이루어진 것을 특징으로 하는 X선 영상용 시스템의 검출 양자효율 검출 시스템
2 2
제1항에 있어서,관전압에 따른 광자 유량(photon fluence) 값이 저장되어 있는 메모리부;를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 X선 영상용 시스템의 검출 양자효율 검출 시스템
3 3
제2항에 있어서,시스템 검출 양자효율(sDQE(f'))은(단, SF는 산란선, TF는 투과력, K는 조사선량, q는 광자 유량(Photon fluence)임)에 의해 구하여지는 것을 특징으로 하는 X선 영상용 시스템의 검출 양자효율 검출 시스템
4 4
제3항에 있어서,광자 유량(q)은 (단, X는 조사선량이며, ф(E)는 측정하고자 하는 관전압의 에너지스펙트럼이고, E는 측정하고자 하는 관전압이며, μen(E)/ρ는 질량에너지 감약계수임)에 의해 구하여지는 것을 특징으로 하는 X선 영상용 시스템의 검출 양자효율 검출 시스템
5 5
제4항에 있어서,상기 연산처리부의 출력신호를 디스플레이하는 디스플레이부를 더 포함하며,상기 키입력부와 상기 디스플레이부는 하나의 GUI부로 이루어진 것을 특징으로 하는 X선 영상용 시스템의 검출 양자효율 검출 시스템
6 6
시스템 변조전달함수(sMTF) 연산을 위한 에지 검사장치의 영상인 sMTF용 영상과, 시스템 정규화된 잡음 파워 스펙트럼(sNNPS) 연산을 위한 화이트(White) 영상 및 다크(dark) 영상이 추출되는 이미지 획득부; 이미지 획득부로부터 수신된 sMTF용 영상으로부터 시스템 변조전달함수(sMTF)를 검출하는 sMTF 측정부;이미지 획득부로부터 수신된 화이트(White) 영상 및 다크(dark) 영상으로부터 시스템 정규화된 잡음 파워 스펙트럼(sNNPS)을 검출하는 sNNPS 측정부;관전압 및 엑스레이 발생기의 타겟물질, 필터물질 및 두께를 확인하여 사용되는 관전압의 에너지 스펙트럼을 도출하고, 관전압의 에너지 스펙트럼을 이용하여 광자 유량(photon fluence)을 검출하는 광자 유량 측정부;sMTF 측정부로부터 수신된 시스템 변조전달함수(sMTF)와, sNNPS 측정부로부터 수신된 시스템 정규화된 잡음 파워 스펙트럼(sNNPS)과, 광자 유량 측정부로부터 수신된 광자 유량을 이용하여 시스템 검출 양자효율(sDQE)를 검출하는 sDQE 연산부;를 포함하여 이루어진 것을 특징으로 하는 X선 영상용 시스템의 검출 양자효율 검출 시스템
7 7
제6항에 있어서,시스템 검출 양자효율(sDQE(f'))은(단, SF는 산란선, TF는 투과력, K는 조사선량, q는 광자 유량(Photon fluence)임)에 의해 구하여지는 것을 특징으로 하는 X선 영상용 시스템의 검출 양자효율 검출 시스템
8 8
제7항에 있어서,이온쳄버를 이용하여 검출기에 입사한 선량을 mR단위로 측정하는 조사선량측정부;이온쳄버를 이용하여, 인체팬텀이 있을때 검출기에 입사한 선량과, 인체팬텀이 없을때 검출기에 입사한 선량을 측정하여, 투과력으로서, 인체팬텀이 있을때 검출기에 입사한 선량을, 인체팬텀이 없을때 검출기에 입사한 선량으로, 나눈값을 검출하는 투과력측정부;빔스톱 어레이(Beam stop array)를 인체팬텀의 표면에 놓고 조사하여 획득한 영상으로부터 빔스톱이 있는 곳과 빔스톱이 없는 곳의 픽셀값의 비로 산란선을 검출하는 산란선측정부;를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 X선 영상용 시스템의 검출 양자효율 검출 시스템
9 9
제7항에 있어서,조사선량값, 투과력값, 산란선값이 입력되는 키입력부;를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 X선 영상용 시스템의 검출 양자효율 검출 시스템
10 10
제7항에 있어서,광자 유량(q)은 (단, X는 조사선량이며, ф(E)는 측정하고자 하는 관전압의 에너지스펙트럼이고, E는 측정하고자 하는 관전압이며, μen(E)/ρ는 질량에너지 감약계수임)에 의해 구하여지는 것을 특징으로 하는 X선 영상용 시스템의 검출 양자효율 검출 시스템
11 11
제1항 내지 제10항 중 어느 한 항에 있어서,이미지 획득부에서, sMTF용 영상은, 검출기 앞에 인체팬텀을 위치키고, 상기 인체팬텀의 표면 위에 에지 검사장치를 올려놓고, 상기 에지 검사장치의 이미지를 획득한 것이며,화이트(White) 영상은, 검출기 앞에 인체팬텀을 위치시켜 획득한 이미지이며, 다크(dark) 영상은, 엑스선 발생기 앞에 납판을 장착하여 획득한 이미지인 것을 특징으로 하는 X선 영상용 시스템의 검출 양자효율 검출 시스템
12 12
제11항에 있어서,sMTF용 영상은 2분 이상의 간격으로 획득된 5장의 영상으로 이루어지며,화이트(White) 영상은 2분 이상의 간격으로 획득된 4장의 영상으로 이루어지며,다크(dark) 영상은 2분 이상의 간격으로 획득된 4장의 영상으로 이루어진 것을 특징으로 하는 X선 영상용 시스템의 검출 양자효율 검출 시스템
13 13
제6항 내지 제10항 중 어느 한 항에 있어서,sMTF 측정부는,이미지 획득부로부터 다수 장의 영상으로 이루어진 sMTF용 영상을 수신하여 평균하여 한 장의 sMTF용 영상을 생성하고, 평균된 sMTF용 영상에서 관심영역(ROI)을 설정하며, 관심영역(ROI)에서 에지를 따라 일정 구간을 반복적으로 설정하여 픽셀의 값들을 나열하여 시스템 에지 확산 함수(sESF)를 구하는 sESF 획득부;sESF 획득부로부터 수신된 시스템 에지 확산 함수(sESF)를 미분하여 시스템 선 확산 함수(sLSF)를 획득하여, 정규화(normalization)하는 sLSF 연산부;sLSF 연산부로부터 수신된 시스템 선 확산 함수(sLSF)를 푸리에변환하여, 복합 시스템 에지 확산 함수(Composite sESF)의 유효 픽셀 간격을 계산하고, 인체팬텀에 의한 확대도를 계산하고, 얻어진 확대도를 이용하여 주파수를 보정하여 이를 시스템 변조전달함수(sMTF)로서 획득하며, 획득된 시스템 변조전달함수(sMTF)로부터 0
14 14
제6항 내지 제10항 중 어느 한 항에 있어서,sNNPS 측정부는,이미지 획득부로부터 4개의 화이트(white) 영상과 4개의 다크 영상을 수신하며, 수신된 4장의 화이트 영상의 가운데 영역에 640×640 매트릭스 크기로 관심영역(ROI)을 설정하여 자르고, 생성된 화이트 영상의 관심영역(ROI) 영상을, 오버랩핑(overlapping) 방법으로 세부 관심영역(sub_ROI)을 256×256 매트릭스 크기로 총 16개의 영상으로 분할하는 ROI추출부; ROI추출부에서 출력된 16장의 각각의 세부 관심영역(sub_ROI)의 화이트 영상들에서 각 화이트 영상의 평균값을 차감한 후 푸리에 변환을 행하여, 시스템 잡음 파워 스펙트럼(sNPS)을 구하며, 이미지 획득부로부터 수신된 4장의 다크 영상을 가운데 영역에 640×640 매트릭스 크기로 관심영역(ROI)를 설정하여 잘라, 관심영역(ROI)만으로 이루어진 4장의 다크 영상을 평균하여 한 장의 평균된 다크 영상을 생성하고, 화이트 영상도 관심영역(ROI)만으로 이루어진 4장의 화이트 영상을 평균하여 평균된 화이트 영상을 생성하며, 평균된 화이트 영상에서 평균된 다크 영상을 차감한 영상의 평균값의 제곱으로, 상기 시스템 잡음 파워 스펙트럼(sNPS)을 나누어, 정규화하여, 2차원 시스템 정규화된 잡음 파워 스펙트럼(2D sNNPS)을 획득하는 2D sNNPS연산부;주파수 상에서 중심을 지나는 수직축인 V축과 중심을 지나는 수평축인 u축을 기준으로 나누어 생성된 4개의 면을 한 장으로 평균하며, u축 상의 위 4줄을 추출하여 1차원 시스템 정규화된 잡음 파워 스펙트럼(1D sNNPS)를 획득하며, 인체팬텀에 의한 확대도를 계산하여, 구하여진 인체팬텀에 의한 확대도에 의해 주파수를 보정한 후, 0
15 15
이미지획득부에서 시스템 변조전달함수(sMTF) 연산을 위한 에지 검사장치의 영상인 sMTF용 영상과, 시스템 정규화된 잡음 파워 스펙트럼(sNNPS) 연산을 위한 화이트(White) 영상 및 다크(dark) 영상이 추출되는 이미지 획득단계; 키입력부에서 입력된 조사선량값, 투과력값, 산란선값이 연산처리부로 전송되는 키입력단계;연산처리부에서, 상기 이미지 획득부로부터 수신된 sMTF용 영상으로부터 시스템 변조전달함수(sMTF)를 구하며, 상기 이미지 획득부로부터 수신된 화이트(White) 영상 및 다크(dark) 영상으로부터 시스템 정규화된 잡음 파워 스펙트럼(sNNPS)을 구하고,상기 시스템 변조전달함수(sMTF)와 상기 시스템 정규화된 잡음 파워 스펙트럼(sNNPS)를 이용하여 시스템 검출 양자효율를 검출하는 연산처리단계;를 포함하여 이루어진 것을 특징으로 하는 X선 영상용 시스템의 검출 양자효율 검출 방법
16 16
제15항에 있어서,시스템 검출 양자효율(sDQE(f'))은(단, SF는 산란선, TF는 투과력, K는 조사선량, q는 광자 유량(Photon fluence)임)에 의해 구하여지는 것을 특징으로 하는 X선 영상용 시스템의 검출 양자효율 검출 방법
17 17
제16항에 있어서,광자 유량은 메모리부에 기 저장된 관전압에 따른 광자 유량(photon fluence) 값으로부터 설정되는 것을 특징으로 하는 X선 영상용 시스템의 검출 양자효율 검출 방법
18 18
제16항에 있어서,광자 유량(q)은 (단, X는 조사선량이며, ф(E)는 측정하고자 하는 관전압의 에너지스펙트럼이고, E는 측정하고자 하는 관전압이며, μen(E)/ρ는 질량에너지 감약계수임)에 의해 구하여지는 것을 특징으로 하는 X선 영상용 시스템의 검출 양자효율 검출 방법
19 19
시스템 변조전달함수(sMTF) 연산을 위한 에지 검사장치의 영상인 sMTF용 영상과, 시스템 정규화된 잡음 파워 스펙트럼(sNNPS) 연산을 위한 화이트(White) 영상 및 다크(dark) 영상이 추출되는 이미지 획득단계; 이미지 획득단계로부터 수신된 sMTF용 영상으로부터 시스템 변조전달함수(sMTF)를 검출하는 sMTF 측정단계;이미지 획득단계로부터 수신된 화이트(White) 영상 및 다크(dark) 영상으로부터 시스템 정규화된 잡음 파워 스펙트럼(sNNPS)을 검출하는 sNNPS 측정단계;관전압 및 엑스레이 발생기의 타겟물질, 필터물질 및 두께를 확인하여 사용되는 관전압의 에너지 스펙트럼을 도출하고, 관전압의 에너지 스펙트럼을 이용하여 광자 유량(photon fluence)을 검출하는 광자 유량 측정단계;sMTF 측정부로부터 수신된 시스템 변조전달함수(sMTF)와, sNNPS 측정부로부터 수신된 시스템 정규화된 잡음 파워 스펙트럼(sNNPS)과, 광자 유량 측정부로부터 수신된 광자 유량을 이용하여 시스템 검출 양자효율(sDQE)를 검출하는 sDQE 연산단계;를 포함하여 이루어진 것을 특징으로 하는 X선 영상용 시스템의 검출 양자효율 검출 방법
20 20
제19항에 있어서,시스템 검출 양자효율(sDQE(f'))은(단, SF는 산란선, TF는 투과력, K는 조사선량, q는 광자 유량(Photon fluence)임)에 의해 구하여지는 것을 특징으로 하는 X선 영상용 시스템의 검출 양자효율 검출 방법
21 21
제20항에 있어서,조사선량은, 이온쳄버를 이용하여 검출기에 입사한 선량을 mR단위로 측정하며,투과력은, 이온쳄버를 이용하여, 인체팬텀이 있을때 검출기에 입사한 선량과, 인체팬텀이 없을때 검출기에 입사한 선량을 측정하고, 인체팬텀이 있을때 검출기에 입사한 선량을, 인체팬텀이 없을때 검출기에 입사한 선량으로, 나눈값이며,산란선은, 빔스톱 어레이(Beam stop array)를 인체팬텀의 표면에 놓고 조사하여 획득한 영상으로부터 빔스톱이 있는 곳과 빔스톱이 없는 곳의 픽셀값의 비로 산란선을 검출하는 것을 특징으로 하는 X선 영상용 시스템의 검출 양자효율 검출 방법
22 22
제21항에 있어서,광자 유량(q)은 (단, X는 조사선량이며, ф(E)는 측정하고자 하는 관전압의 에너지스펙트럼이고, E는 측정하고자 하는 관전압이며, μen(E)/ρ는 질량에너지 감약계수임)에 의해 구하여지는 것을 특징으로 하는 X선 영상용 시스템의 검출 양자효율 검출 방법
23 23
제15항 내지 제22항 중 어느 한 항에 있어서,이미지 획득단계에서, sMTF용 영상은, 검출기 앞에 인체팬텀을 위치키고, 상기 인체팬텀의 표면 위에 에지 검사장치를 올려놓고, 상기 에지 검사장치의 이미지를 획득한 것이며,화이트(White) 영상은, 검출기 앞에 인체팬텀을 위치시켜 획득한 이미지이며, 다크(dark) 영상은, 엑스선 발생기 앞에 납판을 장착하여 획득한 이미지인 것을 특징으로 하는 X선 영상용 시스템의 검출 양자효율 검출 방법
24 24
제23항에 있어서,sMTF용 영상은 2분 이상의 간격으로 획득된 5장의 영상으로 이루어지며,화이트(White) 영상은 2분 이상의 간격으로 획득된 4장의 영상으로 이루어지며,다크(dark) 영상은 2분 이상의 간격으로 획득된 4장의 영상으로 이루어진 것을 특징으로 하는 X선 영상용 시스템의 검출 양자효율 검출 방법
25 25
제19항 내지 제22항 중 어느 한 항에 있어서,sMTF 측정단계는,이미지 획득단계로부터 다수 장의 영상으로 이루어진 sMTF용 영상을 수신하여 평균하여 한 장의 sMTF용 영상을 생성하고, 평균된 sMTF용 영상에서 관심영역(ROI)을 설정하며, 관심영역(ROI)에서 에지를 따라 일정 구간을 반복적으로 설정하여 픽셀의 값들을 나열하여 시스템 에지 확산 함수(sESF)를 구하는 sESF 획득단계;sESF 획득단계로부터 수신된 시스템 에지 확산 함수(sESF)를 미분하여 시스템 선 확산 함수(sLSF)를 획득하여, 정규화(normalization)하는 sLSF 연산단계;sLSF 연산단계로부터 수신된 시스템 선 확산 함수(sLSF)를 푸리에변환하여, 복합 시스템 에지 확산 함수(Composite sESF)의 유효 픽셀 간격을 계산하고, 인체팬텀에 의한 확대도를 계산하고, 얻어진 확대도를 이용하여 주파수를 보정하여 이를 시스템 변조전달함수(sMTF)로서 획득하며, 획득된 시스템 변조전달함수(sMTF)로부터 0
26 26
제19항 내지 제22항 중 어느 한 항에 있어서,sNNPS 측정단계는,이미지 획득단계로부터 4개의 화이트(white) 영상과 4개의 다크 영상을 수신하며, 수신된 4장의 화이트 영상의 가운데 영역에 640×640 매트릭스 크기로 관심영역(ROI)을 설정하여 자르고, 생성된 화이트 영상의 관심영역(ROI) 영상을, 오버랩핑(overlapping) 방법으로 세부 관심영역(sub_ROI)을 256×256 매트릭스 크기로 총 16개의 영상으로 분할하는 ROI추출단계; ROI추출단계에서 출력된 16장의 각각의 세부 관심영역(sub_ROI)의 화이트 영상들에서 각 화이트 영상의 평균값을 차감한 후 푸리에 변환을 행하여, 시스템 잡음 파워 스펙트럼(sNPS)을 구하며, 이미지 획득부로부터 수신된 4장의 다크 영상을 가운데 영역에 640×640 매트릭스 크기로 관심영역(ROI)를 설정하여 잘라, 관심영역(ROI)만으로 이루어진 4장의 다크 영상을 평균하여 한 장의 평균된 다크 영상을 생성하고, 화이트 영상도 관심영역(ROI)만으로 이루어진 4장의 화이트 영상을 평균하여 평균된 화이트 영상을 생성하며, 평균된 화이트 영상에서 평균된 다크 영상을 차감한 영상의 평균값의 제곱으로, 상기 시스템 잡음 파워 스펙트럼(sNPS)을 나누어, 정규화하여, 2차원 시스템 정규화된 잡음 파워 스펙트럼(2D sNNPS)을 획득하는 2D sNNPS연산단계;주파수 상에서 중심을 지나는 수직축인 V축과 중심을 지나는 수평축인 u축을 기준으로 나누어 생성된 4개의 면을 한 장으로 평균하며, u축 상의 위 4줄을 추출하여 1차원 시스템 정규화된 잡음 파워 스펙트럼(1D sNNPS)를 획득하며, 인체팬텀에 의한 확대도를 계산하여, 구하여진 인체팬텀에 의한 확대도에 의해 주파수를 보정한 후, 0
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제23항의 X선 영상용 시스템의 검출 양자효율 검출 방법에 대한 컴퓨터 프로그램 소스를 저장한 기록매체
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제25항의 X선 영상용 시스템의 검출 양자효율 검출 방법에 대한 컴퓨터 프로그램 소스를 저장한 기록매체
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제26항의 X선 영상용 시스템의 검출 양자효율 검출 방법에 대한 컴퓨터 프로그램 소스를 저장한 기록매체
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