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임베디드 시스템의 신뢰성 평가를 위한 시뮬레이션 커널을 이용하는 오류주입시험 장치

  • 기술번호 : KST2015211329
  • 담당센터 : 서울서부기술혁신센터
  • 전화번호 : 02-6124-6930
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 오류주입 시험장치 및 시험방법에 관한 것으로, 구체적으로는 하드웨어 시뮬레이션 커널에 오류주입 기능 등을 추가함으로써 하드웨어 시뮬레이션 커널을 변형시킨 오류주입 하드웨어 시뮬레이션 커널을 이용하여 오류주입시험을 수행하고, 오류주입시험 결과를 정상시험 결과와 비교 분석하는 오류주입시험 분석기를 포함하는 오류주입 시험장치 및 이를 이용한 오류주입시험 방법에 관한 것이다. 오류주입, 시뮬레이션 커널, 임베디드 시스템
Int. CL G06F 11/16 (2006.01) G06F 19/00 (2011.01)
CPC G06F 11/277(2013.01) G06F 11/277(2013.01) G06F 11/277(2013.01)
출원번호/일자 1020090101256 (2009.10.23)
출원인 한국항공대학교산학협력단
등록번호/일자 10-1042979-0000 (2011.06.14)
공개번호/일자 10-2011-0044530 (2011.04.29) 문서열기
공고번호/일자 (20110621) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 소멸
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2009.10.23)
심사청구항수 3

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한국항공대학교산학협력단 대한민국 경기도 고양시 덕양구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 나종화 대한민국 경기도 파주시
2 이동우 대한민국 경기도 부천시 원미구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 장한특허법인 대한민국 서울특별시 서초구 서초대로 ***, **층 (서초동, 서초지웰타워)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 나종화 경기도 파주시
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2009.10.23 수리 (Accepted) 1-1-2009-0650906-87
2 [출원서등 보정]보정서
[Amendment to Patent Application, etc.] Amendment
2009.10.30 수리 (Accepted) 1-1-2009-0669657-46
3 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2010.04.09 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
4 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2010.04.16 수리 (Accepted) 4-1-2010-5067222-46
5 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2010.05.19 수리 (Accepted) 9-1-2010-0032395-94
6 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2011.03.03 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2011-0121631-68
7 [지정기간연장]기간연장(단축, 경과구제)신청서
[Designated Period Extension] Application of Period Extension(Reduction, Progress relief)
2011.05.03 수리 (Accepted) 1-1-2011-0327472-23
8 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2011.06.03 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2011-0418781-38
9 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2011.06.03 수리 (Accepted) 1-1-2011-0418780-93
10 등록결정서
Decision to grant
2011.06.07 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2011-0309968-92
11 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2019.01.03 수리 (Accepted) 4-1-2019-5001058-51
12 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2020.02.26 수리 (Accepted) 4-1-2020-5043901-23
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
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전자 시스템 수준 (Electronic Systems Level or ESL) 하드웨어 기술언어인 SystemC 또는 레지스터 전송 수준 (Register Transfer Level or RTL)의 하드웨어 기술언어인 Verilog, VHDL을 이용하거나 ESL과 RTL이 연동되어 설계된, 전자제품이 장착된 보드가 연결되어 있는 하드웨어, 및 설계된 하드웨어 메모리 시뮬레이션 모델에 실장(loading)되어 실행되는 소프트웨어를 포함하는 대상 디자인 모델; 상기 하드웨어의 시뮬레이션 커널에 오류주입 기능을 추가하여 하드웨어 시뮬레이션 커널을 변형시켜, 상기 대상 디자인 모델에 오류를 주입하는, 오류주입 하드웨어 시뮬레이션 커널; 상기 보드에 구비되어 오류주입 시나리오를 설정하는 오류주입시험 설정용 그래픽 UI (Graphic User Interface); 및 상기 오류주입시험 설정용 그래픽 UI를 통해 주입된 복수 회의 오류주입시험 결과를 정상시험 결과와 비교 분석하는 오류주입시험 분석기를 포함하되, 상기 대상 디자인 모델에 복수회의 상기 오류 발생 시나리오를 주입하여 결과 값이 신뢰구간 내에서 정규화된 값인지 분석함으로써, 상기 대상 디자인 모델의 신뢰성을 평가하고, 상기 오류주입시험 분석기는 시뮬레이션 결과 로그 파일 내역, 통신 기록 내역 및 메모리 기록 내역을 포함하는 오류주입시험 결과를 정상시험 결과와 비교 분석하고, 분석 결과를 출력하는 수단을 구비하는 것을 특징으로 하는 임베디드 시스템의 신뢰성 평가를 위한 시뮬레이션 커널을 이용하는 오류주입시험 장치
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제1항에 있어서, 상기 대상 디자인 모델은 임베디드 시스템, 시스템 온 칩(System-on-a-chip) 또는 시스템 온 플랫폼(System-on-a-platform)인 것을 특징으로 하는 임베디드 시스템의 신뢰성 평가를 위한 시뮬레이션 커널을 이용하는 오류주입시험 장치
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삭제
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제1항에 있어서, 상기 오류주입 시나리오는 오류주입 하드웨어 시뮬레이션 커널의 기능을 확장하기 위한 소프트웨어로, 오류발생 시간, 오류발생 위치, 오류발생 유형, 오류발생 빈도를 포함하며, 상기 오류발생 시간은 결정형 또는 랜덤형 중 하나가 선택되고, 상기 오류발생 위치는 결정형 또는 랜덤형 중 하나가 선택되며, 상기 오류발생 유형은 일반적인 오류 모델인 stuck-at-0, stuck-at-1, stuck-at-multi-bit-1, stuck-at-multi-bit-0, bridge fault 중 하나가 선택되고, 상기 오류발생 빈도는 일시적 오류, 지속적 오류, 영구적 오류, 간헐적 오류 중 어느 하나가 선택되는 것을 특징으로 하는 임베디드 시스템의 신뢰성 평가를 위한 시뮬레이션 커널을 이용하는 오류주입시험 장치
5 5
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6 6
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