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안테나 원형 기준점 검출을 이용한 RFID 칩 본딩 시스템 및 본딩 방법

  • 기술번호 : KST2015212199
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요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 RFID 칩의 패턴에 기준점을 새겨 그 위치를 검출함으로써 칩본딩 위치를 정확하게 제어하기 위한 안테나 원형 기준점 검출을 이용한 RFID 칩 본딩 시스템 및 본딩 방법에 관한 것이다.본 발명에 따르는 안테나 원형 기준점 검출을 이용한 RFID 칩 본딩 방법은, 안테나 패턴에 원형의 기준점을 포함하여 RFID 안테나를 설계하는 단계; 상기 원형의 기준점이 포함된 RFID 안테나를 제작하는 단계; 비젼 인식 장치를 구성하는 단계; RFID 안테나 필름을 스프로켓에 장착하여 이송하는 단계; RFID 안테나의 원형 기준점 영역이 포함된 영역의 영상을 비젼용 카메라에 의해 획득하는 단계; 획득한 RFID 안테나의 영상으로부터 필름 영역과 안테나 영역을 구분하는 단계; RFID 안테나의 원형 기준점을 검출하는 단계; RFID 안테나의 본딩 위치를 계산하는 단계; 및 RFID 안테나의 칩을 본딩하는 단계;를 포함하여 이루어진다.
Int. CL H01L 23/00 (2006.01.01) G06K 19/077 (2006.01.01)
CPC H01L 24/01(2013.01) H01L 24/01(2013.01)
출원번호/일자 1020100055921 (2010.06.14)
출원인 동명대학교산학협력단
등록번호/일자 10-1127079-0000 (2012.03.08)
공개번호/일자 10-2011-0136119 (2011.12.21) 문서열기
공고번호/일자 (20120322) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 소멸
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2010.06.14)
심사청구항수 6

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 동명대학교산학협력단 대한민국 부산광역시 남구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 안현식 대한민국 부산광역시 해운대구
2 황건용 대한민국 부산광역시 해운대구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 홍순우 대한민국 서울특별시 서초구 서초중앙로 **, 영진벤처빌딩 *층 (서초동)(라온국제특허법률사무소)
2 김해중 대한민국 서울특별시 서초구 서초중앙로 **, 영진벤처빌딩 *층 라온국제특허법률사무소 (서초동)
3 윤석운 대한민국 서울특별시 서초구 서초중앙로 **, 영진벤처빌딩 *층 라온국제특허법률사무소 (서초동)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 동명대학교산학협력단 부산광역시 남구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2010.06.14 수리 (Accepted) 1-1-2010-0379534-84
2 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2011.05.16 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
3 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2011.06.17 수리 (Accepted) 9-1-2011-0053127-46
4 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2011.08.29 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2011-0485227-62
5 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2011.10.31 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2011-0851074-67
6 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2011.10.31 수리 (Accepted) 1-1-2011-0851070-85
7 등록결정서
Decision to grant
2012.02.29 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2012-0121785-14
8 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2013.04.02 수리 (Accepted) 4-1-2013-0010131-41
9 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2020.04.02 수리 (Accepted) 4-1-2020-5076870-68
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
안테나 패턴에 원형의 기준점을 포함하여 RFID 안테나를 설계하는 단계;상기 원형의 기준점이 포함된 RFID 안테나를 제작하는 단계;비젼 인식 장치를 구성하는 단계;RFID 안테나 필름을 스프로켓에 장착하여 이송하는 단계;RFID 안테나의 원형 기준점 영역이 포함된 영역의 영상을 비젼용 카메라에 의해 획득하는 단계;획득한 RFID 안테나의 영상으로부터 필름 영역과 안테나 영역을 구분하는 단계;RFID 안테나의 원형 기준점을 검출하는 단계; RFID 안테나의 본딩 위치를 계산하는 단계; 및RFID 안테나의 칩을 본딩하는 단계를 포함하고,획득한 RFID 안테나의 영상으로부터 필름 영역과 안테나 영역을 구분하는 단계는,획득한 RFID 안테나의 영상에 포함되어 있는 노이즈를 제거하기 위해 미디언 필터링을 수행하는 단계; 및노이즈가 제거된 안테나의 영상으로부터 필름 영역과 안테나 영역을 구분하기 위해 영역 성장을 수행하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는안테나 원형 기준점 검출을 이용한 RFID 칩 본딩 방법
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제1항에 있어서,상기 원형의 기준점의 크기는 0
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제1항에 있어서,상기 비젼 인식 장치는 비젼용 카메라와 카메라 전방에 부착되는 마크로 렌즈를 포함하는 것을 특징으로 하는안테나 원형 기준점 검출을 이용한 RFID 칩 본딩 방법
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삭제
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제1항에 있어서,RFID 안테나의 원형 기준점을 검출하는 단계는, 원형 기준점 영역의 화소의 개수 및 전후좌우 최대 위치를 기준으로 하여 원형 기준점을 검출하는 것을 특징으로 하는안테나 원형 기준점 검출을 이용한 RFID 칩 본딩 방법
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제5항에 있어서,검출된 상기 원형 기준점의 1차 영상 모멘트에 의해 원형 기준점의 중심 위치를 얻을 수 있는 것을 특징으로 하는안테나 원형 기준점 검출을 이용한 RFID 칩 본딩 방법
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RFID 원형 안테나의 원형 기준점 영역이 포함된 영역의 영상을 획득하기 위한 카메라;상기 카메라를 통해 획득한 영상으로부터 필름영역과 RFID 안테나 영역을 구분한 후, 상기 RFID 안테나 영역에서 RFID 안테나의 원형 기준점을 검출하고, RFID 안테나의 본딩 위치를 계산하여 스프로켓에 전달하는 컴퓨터;상기 컴퓨터로부터 전달받은 본딩 위치에 RFID 안테나의 칩이 위치하도록 RFID 안테나가 구성된 필름을 이동시키는 스프로켓;계산된 본딩 위치에 RFID 안테나 칩을 본딩하는 본딩 장치를 포함하고,상기 스프로켓은,본딩 헤드 컨트롤러를 포함하는 것을 특징으로 하는안테나 원형 기준점 검출을 이용한 RFID 칩 본딩 시스템
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삭제
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패밀리정보가 없습니다
국가 R&D 정보가 없습니다.