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나노미러가 형성된 집중형 광프로브

  • 기술번호 : KST2015213170
  • 담당센터 : 대전기술혁신센터
  • 전화번호 : 042-610-2279
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 집중형 광프로브에 관한 것으로, 더욱 구체적으로는 프로브의 측면에 금속박막에 의한 나노미러를 형성한 집중형 광프로브 및 그 제조방법에 관한 것이다. 본 발명에 따른 광프로브는 나노미러가 형성되어 기존의 광 프로브의 투과율에 비해 월등히 향상된 투과율을 제공할 수 있다.
Int. CL G01Q 60/22 (2010.01.01) G01Q 70/16 (2010.01.01) A61B 5/00 (2006.01.01) B82Y 20/00 (2017.01.01) B82B 1/00 (2017.01.01) G02B 21/00 (2006.01.01)
CPC G01Q 60/22(2013.01) G01Q 60/22(2013.01) G01Q 60/22(2013.01) G01Q 60/22(2013.01) G01Q 60/22(2013.01) G01Q 60/22(2013.01) G01Q 60/22(2013.01)
출원번호/일자 1020080083539 (2008.08.26)
출원인 선문대학교 산학협력단, 최성수
등록번호/일자 10-0928233-0000 (2009.11.17)
공개번호/일자
공고번호/일자 (20091124) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 등록
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2008.08.26)
심사청구항수 8

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 선문대학교 산학협력단 대한민국 충청남도 아산시
2 최성수 대한민국 충청남도 천안시 서북구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 최성수 대한민국 충남 천안시

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 한양특허법인 대한민국 서울특별시 강남구 논현로**길 **, 한양빌딩 (도곡동)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 선문대학교 산학협력단 충청남도 아산시
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2008.08.26 수리 (Accepted) 1-1-2008-0608766-16
2 [우선심사신청]심사청구(우선심사신청)서
[Request for Preferential Examination] Request for Examination (Request for Preferential Examination)
2009.01.20 불수리 (Non-acceptance) 1-1-2009-0037185-07
3 [우선심사신청]심사청구(우선심사신청)서
[Request for Preferential Examination] Request for Examination (Request for Preferential Examination)
2009.01.21 수리 (Accepted) 1-1-2009-0039142-91
4 서류반려이유통지서
Notice of Reason for Return of Document
2009.01.30 발송처리완료 (Completion of Transmission) 1-5-2009-0006835-43
5 [우선심사신청]선행기술조사의뢰서
[Request for Preferential Examination] Request for Prior Art Search
2009.02.03 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
6 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2009.02.13 수리 (Accepted) 9-1-2009-0007157-34
7 서류반려통지서
Notice for Return of Document
2009.03.05 발송처리완료 (Completion of Transmission) 1-5-2009-0014946-45
8 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2009.04.16 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2009-0161747-23
9 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2009.06.16 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2009-0364711-05
10 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2009.06.16 수리 (Accepted) 1-1-2009-0364708-67
11 등록결정서
Decision to grant
2009.08.17 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2009-0342735-21
12 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2019.08.26 수리 (Accepted) 4-1-2019-5169188-72
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
광센서의 프로브의 정점을 중심으로 프로브와 인접한 측면에 금속박막에 의한 나노미러가 광의 진행방향과 90°미만의 각도를 갖도록 형성된 집중형 광프로브
2 2
웨이퍼의 식각된 홈의 중앙에 광프로브가 배치되고 그 홈의 내 주면에 금속박막에 의한 나노미러가 형성된 집중형 광프로브
3 3
청구항 1 또는 청구항 2에 있어서, 상기 프로브는 피라미드형 또는 원뿔형 구조인 것을 특징으로 하는 집중형 광프로브
4 4
청구항 1 또는 청구항 2에 있어서, 상기 금속박막은 프로브의 정점을 중심으로 1 내지 3 ㎛ 이내에 광의 진행방향과 90°미만의 각도를 갖도록 형성되는 것을 특징으로 하는 집중형 광프로브
5 5
청구항 1 또는 청구항 2에 있어서, 상기 금속박막은 알루미늄, 금 및 은으로 이루어진 군에서 선택되는 하나 이상의 금속을 포함하는 것을 특징으로 하는 집중형 광프로브
6 6
청구항 1 또는 청구항 2에 있어서, 상기 프로브의 정점에는 직경이 입사파장의 λ/10 내지 λ인 구멍(aperture)이 형성되어 있는 것을 특징으로 하는 집중형 광프로브
7 7
(a) 실리콘 웨이퍼의 앞면 및 뒷면에 실리콘 산화막, 실리콘 질화막, 또는 실리콘 산화막과 실리콘 질화막을 형성하는 단계, (b) 상기 실리콘 웨이퍼의 앞면에 형성된 실리콘 산화막, 실리콘 질화막, 또는 실리콘 산화막과 실리콘 질화막에 패턴을 전사하고 건식 식각을 통해 식각 마스크를 형성한 후, 습식 식각을 통해 앞면의 실리콘 웨이퍼를 식각하여 V-골을 형성하는 단계, (c) 상기 골을 열산화하여 골 표면에 저온산화막을 형성하는 단계, (d) 상기 실리콘 웨이퍼의 뒷면에 형성된 실리콘 산화막, 실리콘 질화막, 또는 실리콘 산화막과 실리콘 질화막을 건식 식각을 통해 식각 마스크를 형성한 후, 습식 식각을 통해 뒷면의 실리콘 웨이퍼를 식각하는 단계, (e) V-골의 정점에 구멍을 형성하여 프로브를 형성하고, 상기 형성된 구멍을 통하여 알칼리성 용액을 흘려주어 뒷면의 실리콘을 식각하여 돌출된 프로브를 갖는 홈을 형성하는 단계, 및 (f) 상기 돌출된 프로브를 갖는 홈의 내 주면에 금속박막을 형성하는 단계를 포함하는 광센서의 프로브의 정점을 중심으로 프로브와 인접한 측면에 금속박막에 의한 나노미러가 형성된 집중형 광프로브의 제조방법
8 8
청구항 7에 있어서, 상기 금속박막은 알루미늄, 금 및 은으로 이루어진 군에서 선택되는 하나 이상의 금속을 포함하는 것을 특징으로 하는 집중형 광프로브의 제조방법
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
국가 R&D 정보가 없습니다.