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회전다면경과 듀얼 미러를 이용한 입체 형상 측정 장치 및 그를 이용한 입체 형상 측정 방법

  • 기술번호 : KST2015213172
  • 담당센터 : 대전기술혁신센터
  • 전화번호 : 042-610-2279
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 입체면에 의해 입사광에 대하여 그림자 영역이 형성되는 입체 형상을 갖는 측정대상물에 대하여 서로 다른 방향에서 패턴광을 조사함으로써, 그림자 영역이 없이 정확도 높은 영상을 획득할 수 있는 회전다면경과 듀얼 미러를 이용한 입체 형상 측정 장치 및 그를 이용한 측정 방법에 관한 것이다. 이를 위한 본 발명의 회전다면경과 듀얼 미러를 이용한 입체 형상 측정 장치는 회전을 통해 입사되는 광을 반사시켜 측정대상물에 패턴광을 영사하기 위한 다수의 반사면을 갖는 회전다면경과, 상기 회전다면경의 양측에 구비되며 상기 회전다면경의 반사면에 광을 조사하는 한쌍의 광원과, 상기 회전다면경의 반사면에서 반사되는 광을 수광하여 광로를 인식하여 동기신호를 발생하는 광경로인식수단과, 상기 광경로인식수단으로부터 발생하는 동기신호에 동기시켜 상기 광원의 점멸주기를 조정하여 직선 줄무늬의 주기와 위상을 제어하는 제어수단과, 상기 측정대상물 표면으로부터 반사되는 광을 촬상하는 광검출장치를 포함하는 입체 형상 측정 장치에 있어서, 상기 회전다면경의 양측에 각각 구비되어 상기 회전다면경의 반사면으로부터 반사된 광을 반사시켜 측정대상물에 영사 하는 듀얼 미러를 포함한다. 회전다면경, 듀얼 미러, 패턴광, 입체 형상, 그림자
Int. CL G01B 11/25 (2006.01.01) G01B 11/24 (2006.01.01) G02B 26/12 (2006.01.01) G01N 21/88 (2006.01.01) G01V 8/22 (2006.01.01) G01N 21/01 (2006.01.01)
CPC G01B 11/254(2013.01) G01B 11/254(2013.01) G01B 11/254(2013.01) G01B 11/254(2013.01) G01B 11/254(2013.01) G01B 11/254(2013.01) G01B 11/254(2013.01) G01B 11/254(2013.01)
출원번호/일자 1020080125372 (2008.12.10)
출원인 선문대학교 산학협력단, 지스캔(주)
등록번호/일자 10-0895856-0000 (2009.04.24)
공개번호/일자
공고번호/일자 (20090506) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 소멸
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2008.12.10)
심사청구항수 5

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 선문대학교 산학협력단 대한민국 충청남도 아산시
2 지스캔(주) 대한민국 서울특별시 용산구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 박윤창 대한민국 충청남도 천안시
2 강문호 대한민국 충청남도 천안시 쌍

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 특허법인 웰 대한민국 서울특별시 서초구 방배로**길*, *~*층(방배동)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 선문대학교 산학협력단 대한민국 충청남도 아산시
2 지스캔(주) 대한민국 서울특별시 용산구
번호, 서류명, 접수/발송일자, 처리상태, 접수/발송일자의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 행정처리 표입니다.
번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2008.12.10 수리 (Accepted) 1-1-2008-0850870-22
2 보정요구서
Request for Amendment
2008.12.16 발송처리완료 (Completion of Transmission) 1-5-2008-0135247-64
3 [출원서등 보정]보정서
[Amendment to Patent Application, etc.] Amendment
2008.12.17 수리 (Accepted) 1-1-2008-0867620-12
4 [우선심사신청]심사청구(우선심사신청)서
[Request for Preferential Examination] Request for Examination (Request for Preferential Examination)
2008.12.22 수리 (Accepted) 1-1-2008-0881179-17
5 등록결정서
Decision to grant
2009.03.25 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2009-0128577-49
6 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2013.03.25 수리 (Accepted) 4-1-2013-5048303-60
7 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2016.05.10 수리 (Accepted) 4-1-2016-5057695-56
8 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2019.08.26 수리 (Accepted) 4-1-2019-5169188-72
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번호 청구항
1 1
회전을 통해 입사되는 광을 반사시켜 측정대상물에 패턴광을 영사하기 위한 다수의 반사면을 갖는 회전다면경과, 상기 회전다면경의 양측에 구비되며 상기 회전다면경의 반사면에 광을 조사하는 한쌍의 광원과, 상기 회전다면경의 반사면에서 반사되는 광을 수광하여 광로를 인식하여 동기신호를 발생하는 광경로인식수단과, 상기 광경로인식수단으로부터 발생하는 동기신호에 동기시켜 상기 광원의 점멸주기를 조정하여 직선 줄무늬의 주기와 위상을 제어하는 제어수단과, 상기 측정대상물 표면으로부터 반사되는 광을 촬상하는 광검출장치를 포함하는 입체 형상 측정 장치에 있어서, 상기 회전다면경의 양측에 각각 구비되어 상기 회전다면경의 반사면으로부터 반사된 광을 반사시켜 측정대상물에 영사하는 듀얼 미러를 포함함을 특징으로 하는 회전다면경과 듀얼 미러를 이용한 입체 형상 측정 장치
2 2
제 1항에 있어서, 상기 한쌍의 광원은 서로 다른 파장대를 갖으며, 상기 광검출장치는 서로 다른 파장대의 광을 분리하여 인식하는 컬러카메라를 포함함을 특징으로 하는 회전다면경과 듀얼 미러를 이용한 입체 형상 측정 장치
3 3
제 2항에 있어서, 상기 측정 대상물과 광검출장치 사이에는 측정대상물 표면에서 반사되는 패턴광의 경로를 변환하여 광검출장치에 입사시키는 보조 미러가 더 구비됨을 특징으로 하는 회전다면경과 듀얼 미러를 이용한 입체 형상 측정 장치
4 4
회전다면경 양측에 각각 구비되는 광원과 회전다면경의 반사면으로부터 반사되는 광을 측정대상물의 양측에서 각각 조사하도록 회전다면경의 양측에 구비되는 듀얼미러를 포함하는 입체 형상 측정 장치를 이용한 방법에 있어서, 회전다면경 일측에 구비된 광원으로부터 광을 발생시키고 회전다면경을 회전시켜 반사시키는 단계(S10)와, 상기 회전다면경 회전에 의해 상기 회전다면경의 반사면에서 연속적으로 반사되는 광을 수광하는 단계(S20)와, 상기 수광된 광경로를 인식하여 동기신호를 발생하는 단계(S30)와, 상기 동기신호에 동기되어 상기 광원의 점멸주기를 조절하여 일정 주기와 위상을 갖는 패턴광이 회전다면경 일측에 위치하는 일측 미러를 통해 측정대상물 표면에 영사되도록 하는 단계(S40)와, 상기 측정대상물 표면으로부터 반사되는 제 1 변형 패턴광을 촬상하는 단계(S50)와, 상기 회전다면경의 타측에 구비된 광원으로부터의 광을 반사시키는 단계(S60)와, 상기 광원의 점멸주기를 조절하여 일정 주기와 위상을 갖는 패턴광이 회전다면경 타측에 위치하는 타측 미러를 통해 측정대상물 표면에 영사되도록 하는 단계(S70)와, 상기 측정대상물 표면으로부터 반사되는 제 2 변형 패턴광을 촬상하는 단계(S80)와, 상기 제 1 변형 패턴광 영상과 제 2 패턴광 영상을 단일 영상으로 합성하는 단계(S90)를 포함함을 특징으로 하는 회전다면경과 듀얼 미러를 이용한 입체 형상 측정 방법
5 5
회전다면경 양측에 각각 구비되며 각각 서로 다른 파장대를 갖는 광원과 회전다면경의 반사면으로부터 반사되는 광을 측정대상물의 양측에서 각각 조사하도록 회전다면경의 양측에 구비되는 듀얼미러를 포함하는 입체 형상 측정 장치를 이용한 방법에 있어서, 회전다면경 양측에 구비된 서로 다른 파장대를 갖는 광원 각각으로부터 광을 발생시키고 회전다면경을 회전시켜 광을 반사시키는 단계(S100)와, 상기 회전다면경 회전에 의해 상기 회전다면경의 반사면에서 연속적으로 반사되는 광을 수광하는 단계(S200)와, 상기 수광된 광경로를 인식하여 동기신호를 발생하는 단계(S300)와, 상기 동기신호에 동기되어 상기 광원의 점멸주기를 조절하여 일정 주기와 위상을 갖는 패턴광이 회전다면경 양측에 위치하는 듀얼 미러를 통해 동시에 측정대상물 표면에 영사되도록 하는 단계(S400)와, 상기 측정대상물 표면으로부터 반사되는 패턴광을 컬러 카메라로 촬상하는 단계(S500)와, 상기 컬러 카메라로 촬상된 영상의 서로 다른 파장 영역의 컬러 성분을 각각 분리하여 각각의 형상을 측정하는 단계(S600)와, 상기 분리된 각각의 형상을 단일 영상으로 합성하는 단계(S700)를 포함함을 특징으로 하는 회전다면경과 듀얼 미러를 이용한 입체 형상 측정 방법
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
국가 R&D 정보가 없습니다.