| 요약 |
본 발명은 실제 측정에 앞서 예비 측정을 통해 실제 측정 가능 영역을 벗어나는 부분에 서로 다른 컬러를 구현하여 측정물의 현재 위치를 파악하고, 측정물을 실제 측정 가능 영역으로 이동시킨 후 실제 측정을 수행하여 신뢰성을 향상시킬 수 있는 입체 형상 측정에서의 측정물 위치 설정 방법에 관한 것이다. 이를 위한 본 발명의 입체형상 측정에서의 측정물 위치 설정 방법은, 일정 주기를 갖는 기준 패턴광을 측정물 표면에 영사하는 단계(S150)와, 상기 측정물에 영사된 기준 패턴광이 측정물의 형상에 따라 변형된 영상을 영상획득부에서 획득하는 단계(S160)와, 상기 획득된 영상의 위상 계산을 통해 측정물의 형상을 산출하는 단계(S170)를 포함하는 입체 형상 측정에서의 측정물 위치 설정 방법에 있어서, 상기 일정 주기를 갖는 기준 패턴광을 측정물에 영사하여 실제 측정하기 이전에 기준 패턴광의 주기보다 큰 주기의 패턴을 갖는 예비 패턴광을 영사하는 단계(S100)와, 상기 예비 패턴광이 측정물의 형상에 따라 변형된 영상을 영상획득부에서 획득하는 단계(S110)와, 상기 획득된 예비 측정 영상의 위상값을 산출하여 산출된 예비측정 위상값이 실제 측정 가능 영역의 위상 범위에 있는 영역에 대하여는 모아레 무늬를 구현하고, 예비측정 위상값이 실제 측정 가능 영역 위상 범위 이하 또는 이상인 영역에 대하여 각각 서로 다른 컬러를 구현하여 예비측정 결과영상을 제공하는 단계(S120)와, 상기 획득된 예비측정영상에서 위상을 산출한 후 분석하여 측정물이 실제 측정 가능 영역에 위치하는지 판단하는 단계(S130)와, 상기 측정물의 위치 판단 결과 실제 측정 가능 영역에 위치하지 않을 경우 상기 S120 단계에서 제공된 영상을 토대로 측정물을 전방 또는 후방으로 이동시키는 단계(S140)를 더 포함하고, 상기 측정물을 전방 또는 후방으로 이동시킨 후에 측정물이 실제 측정 가능 영역에 위치할 때까지 S100 단계에서 S140 단계를 반복한다. 입체 형상, 예비 측정, 실제 측정, 큰 주기, 기준 패턴광, 예비 패턴광
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