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다파장 위상을 적용한 3차원 측정방법

  • 기술번호 : KST2015213324
  • 담당센터 : 대전기술혁신센터
  • 전화번호 : 042-610-2279
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요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 임의 형상을 갖는 3차원 측정장치에 있어서, 측정대상물의 광대역 측정위상(Po)을 구하기 위해 짧은파장(λa)을 갖는 격자패턴을 측정대상물에 영사하는 단계;와 상기 측정대상물에 영사된 짧은파장(λa)을 갖는 격자패턴의 이미지를 획득하는 단계;와 긴파장(λb)을 갖는 격자패턴을 측정대상물에 영사하는 단계;와 상기 측정대상물에 영사된 긴파장(λb)을 갖는 격자패턴의 이미지를 획득하는 단계;와 짧은파장(λa)을 갖는 격자패턴을 이동시켜 측정대상물에 영사하는 단계;와 상기 이동시켜 영사된 짧은파장(λa)의 격자패턴 이미지를 획득하는 단계;와 긴파장(λb)를 갖는 격자패턴을 이동시켜 측정대상물에 영사하는 단계;와 상기 이동시켜 영사된 긴파장(λb)의 격자패턴 이미지를 획득하는 단계;와 상기 짧은파장(λa)의 격자패턴의 이미지로 짧은파장(λa)의 측정위상(Poa)를 획득하는 단계;와 상기 긴파장(λb)의 격자패턴의 이미지로 긴파장(λb)의 측정위상(Pob)을 획득하는 단계;로 이루어지며, 상기 획득된 짧은파장(λa)의 측정위상(Poa)과 긴파장(λb)의 측정위상(Pob)으로부터 광대역 측정위상(Po)을 획득하는 단계:를 포함하는 것을 특징으로 한다. 다른파장, 모아레, 맥놀이, 격자패턴, 측정위상, 광대역 측정위상, 짧은파장, 긴파장
Int. CL G01B 11/24 (2006.01.01) G01B 11/25 (2006.01.01) G01B 9/02 (2006.01.01)
CPC G01B 11/2441(2013.01) G01B 11/2441(2013.01) G01B 11/2441(2013.01) G01B 11/2441(2013.01)
출원번호/일자 1020080050430 (2008.05.29)
출원인 선문대학교 산학협력단, 지스캔(주)
등록번호/일자 10-0910574-0000 (2009.07.28)
공개번호/일자
공고번호/일자 (20090804) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 등록
심사진행상태 수리
심판사항 심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2008.05.29)
심사청구항수 5

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 선문대학교 산학협력단 대한민국 충청남도 아산시
2 지스캔(주) 대한민국 서울특별시 용산구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 박윤창 대한민국 충청남도 천안시 서북구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 공인복 대한민국 서울특별시 서초구 바우뫼로**길*-**, 대송빌딩 *층(특허법인 대한(서초분사무소))

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 선문대학교 산학협력단 대한민국 충청남도 아산시
2 지스캔(주) 대한민국 서울특별시 용산구
번호, 서류명, 접수/발송일자, 처리상태, 접수/발송일자의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 행정처리 표입니다.
번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application		 2008.05.29 수리 (Accepted) 1-1-2008-0386832-91
2 [우선심사신청]심사청구(우선심사신청)서
[Request for Preferential Examination] Request for Examination (Request for Preferential Examination)		 2008.07.09 수리 (Accepted) 1-1-2008-0495102-14
3 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search		 2008.07.17 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
4 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search		 2008.08.12 수리 (Accepted) 9-1-2008-0049930-50
5 의견제출통지서
Notification of reason for refusal		 2008.09.10 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2008-0471685-94
6 [지정기간연장]기간연장(단축, 경과구제)신청서
[Designated Period Extension] Application of Period Extension(Reduction, Progress relief)		 2008.11.10 수리 (Accepted) 1-1-2008-0777147-94
7 [지정기간연장]기간연장(단축, 경과구제)신청서
[Designated Period Extension] Application of Period Extension(Reduction, Progress relief)		 2008.12.10 수리 (Accepted) 1-1-2008-0850230-22
8 [지정기간연장]기간연장(단축, 경과구제)신청서
[Designated Period Extension] Application of Period Extension(Reduction, Progress relief)		 2009.01.12 수리 (Accepted) 1-1-2009-0016228-35
9 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)		 2009.02.10 수리 (Accepted) 1-1-2009-0082240-65
10 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment		 2009.02.10 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2009-0082253-58
11 거절결정서
Decision to Refuse a Patent		 2009.04.07 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2009-0149244-98
12 명세서 등 보정서(심사전치)
Amendment to Description, etc(Reexamination)		 2009.05.22 보정승인 (Acceptance of amendment) 7-1-2009-0025129-19
13 등록결정서
Decision to grant		 2009.06.15 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2009-0252678-83
14 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2013.03.25 수리 (Accepted) 4-1-2013-5048303-60
15 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2016.05.10 수리 (Accepted) 4-1-2016-5057695-56
16 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2019.08.26 수리 (Accepted) 4-1-2019-5169188-72
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
임의의 형상을 갖는 측정대상물의 3차원 측정방법에 있어서, 측정대상물의 광대역 측정위상(Po)을 구하기 위해 짧은파장(a)을 갖는 격자패턴을 측정대상물에 영사하는 단계;와 상기 측정대상물에 영사된 짧은파장(a)을 갖는 격자패턴의 이미지를 획득하는 단계;와 긴파장(b)을 갖는 격자패턴을 측정대상물에 영사하는 단계;와 상기 측정대상물에 영사된 긴파장(b)을 갖는 격자패턴의 이미지를 획득하는 단계;와 짧은파장(a)을 갖는 격자패턴을 이동시켜 측정대상물에 영사하는 단계;와 상기 이동시켜 영사된 짧은파장(a)의 격자패턴 이미지를 획득하는 단계;와 긴파장(b)를 갖는 격자패턴을 이동시켜 측정대상물에 영사하는 단계;와 상기 이동시켜 영사된 긴파장(b)의 격자패턴 이미지를 획득하는 단계;와 상기 짧은파장(a)의 격자패턴의 이미지로 짧은파장(a)의 측정위상(Poa)을 획득하는 단계;와 상기 긴파장(b)의 격자패턴의 이미지로 긴파장(b)의 측정위상(Pob)을 획득하는 단계;로 이루어지며, 상기 획득된 짧은파장(a)의 측정위상(Poa)과 긴파장(b)의 측정위상(Pob)으로부터 광대역 측정위상(Po)을 획득하는 단계:를 포함하며, 기준평면의 광대역 기준위상(Pr)을 구하기 위해 짧은파장(a)을 갖는 격자패턴을 기준평면에 영사하는 단계;와 상기 기준평면에 영사된 짧은파장(a)을 갖는 격자패턴의 이미지를 획득하는 단계;와 긴파장(b)을 갖는 격자패턴을 기준평면에 영사하는 단계;와 상기 기준평면에 영사된 긴파장(b)을 갖는 격자패턴의 이미지를 획득하는 단계;와 짧은파장(a)를 갖는 격자패턴을 이동시켜 기준평면에 영사하는 단계;와 상기 이동시켜 영사된 짧은파장(a)의 격자패턴 이미지를 획득하는 단계;와 긴파장(b)를 갖는 격자패턴을 이동시켜 기준평면에 영사하는 단계;와 상기 이동시켜 영사된 긴파장(b)의 격자패턴 이미지를 획득하는 단계;와 상기 짧은파장(a)의 격자패턴의 이미지로 짧은파장(a)의 기준위상(Pra)을 획득하는 단계;와 상기 긴파장(b)의 격자패턴의 이미지로 긴파장(b)의 기준위상(Prb)을 획득하는 단계;로 이루어지며, 상기 획득된 짧은파장(a)의 기준위상(Pra)과 긴파장(b)의 기준위상(Prb)으로부터 광대역 기준위상(Pr)을 획득하는 단계;를 포함하는 것을 특징으로 하는 다파장 위상을 적용한 3차원 측정방법
2 2
삭제
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제1항에 있어서 측정대상물이나 기준평면에 짧은파장(a)을 갖는 패턴을 영사하는 단계에서는 1번째에서 3번째의 격자패턴을 영사하되, 1번째 패턴은 밝기 변화가 정현파 모양으로 반복되는 규칙적인 줄무늬 형태이며, 2번째 패턴은 1번째 패턴에서 a의 1/3만큼 위상차를 갖도록 측정물의 표면과 같은 방향으로 이동된 패턴이고, 3번째 패턴은 1번째 패턴에서 a의 2/3만큼 위상차를 갖도록 측정물의 표면과 같은 방향으로 이동된 패턴이고, 측정대상물이나 기준평면에 긴파장(b)을 갖는 패턴을 영사하는 단계에서는 1번째에서 3번째의 격자패턴을 영사하되, 1번째 패턴은 밝기 변화가 정현파 모양으로 반복되는 규칙적인 줄무늬 형태이며, 2번째 패턴은 1번째 패턴에서 b의 1/3만큼 위상차를 갖도록 측정물의 표면과 같은 방향으로 이동된 패턴이고, 3번째 패턴은 1번째 패턴에서 b의 2/3만큼 위상차를 갖도록 측정물의 표면과 같은 방향으로 이동된 패턴이며, 상기 영사된 패턴의 영상을 획득하는 것을 특징으로 하는 다파장 위상을 적용한 3차원 측정방법
4 4
제3항에 있어서 짧은파장(λa)의 측정위상(Poa)을 구하는 단계는 식을 적용해서 구하되 여기서 Ioa1 : 측정대상물에 영사된 짧은파장(λa)의 격자패턴(도5의 1번째 격자패턴 참조)에서 얻은 영상의 화소 밝기값 Ioa2 : 측정대상물에 영사된 짧은파장(λa)의 격자패턴에서 λa의 1/3만큼 위상차를 갖도록 측정물의 표면과 같은 방향으로 이동한 격자패턴 (도 5의 2번째 격자패턴 참조)에서 얻은 영상의 화소 밝기값 Ioa3 : 측정대상물에 영사된 짧은파장(λa)의 격자패턴에서 λa의 2/3만큼 위상차를 갖도록 측정물의 표면과 같은 방향으로 이동한 격자패턴 (도 5의 3번째 격자패턴 참조)에서 얻은 영상의 화소 밝기값 이고 상기에서 긴파장(λb)의 측정위상(Pob)을 구하는 단계는 식을 적용해서 구하되 여기서 Iob1 : 측정대상물에 영사된 긴파장(λb)의 격자패턴(도 5의 4번째 격자패턴)에서 얻은 영상의 화소 밝기값 Iob2 : 측정대상물에 영사된 긴파장(λb)의 격자패턴에서 λb의 1/3만큼 위상차를 갖도록 측정물의 표면과 같은 방향으로 이동한 격자패턴 (도 5의 5번째 격자패턴 참조)에서 얻은 영상의 화소 밝기값 Iob3 : 측정대상물에 영사된 긴파장(λb)의 격자패턴에서 λb의 2/3만큼 위상차를 갖도록 측정물의 표면과 같은 방향으로 이동한 격자패턴 (도 5의 6번째 격자패턴 참조)에서 얻은 영상의 화소 밝기값 인 것을 특징으로 하는 다파장 위상을 적용한 3차원 측정방법
5 5
제3항에 있어서
6 6
제5항에 있어서 모아레위상(Pm)을 구하는 단계는 모아레위상(Pm) = 광대역 측정위상(Po) - 광대역 기준위상(Pr) 으로 구하되 구해진 모아레 위상(Pm)이, 이면, 를 Pm값으로 정하고, 이면, 를 Pm값으로 정하는 것을 특징으로 하는 다파장 위상을 적용한 3차원 측정방법
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
국가 R&D 정보가 없습니다.