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표면 검사를 실시할 패널과;상기 패널의 표면을 점별, 라인별 및 일정 영역별 중 어느 하나의 방법으로 촬영하는 적어도 하나의 카메라와;상기 카메라로부터 각각 영상을 제공 받고, 제공 받은 영상을 다중 스레드 및 다중 CPU를 이용하여 처리하는 적어도 하나의 컴퓨터 단말기와; 상기 컴퓨터 단말기로부터 전송된 결함 정보를 디스플레이 하는 맨 머신 인터페이스를 포함하며, 상기 컴퓨터 단말기는상기 카메라로부터 제공되는 영상을 획득하는 영상 스레드와;상기 획득된 영상으로부터 결함을 추출하여 결함 정보를 생성하는 다수의 결함 검출 스레드와; 상기 결함 정보를 포함한 패킷을 상기 맨 머신 인터페이스에 제공하는 통신 스레드를 포함하는 것을 특징으로 하는 다중 스레드를 이용한 실시간 패널 검사 시스템
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제 1 항에 있어서,상기 결함 검출 스레드들에 각각 대응하는 개수로 형성되며 상기 영상 스레드와 상기 결함 검출 스레드들 간의 신호 전달을 위한 제 1 원형 큐와; 상기 결함 검출 스레드들과 상기 통신 스레드 간의 신호 전달을 위한 제 2 원형 큐를 더 구비하는 것을 특징으로 하는 다중 스레드를 이용한 실시간 패널 검사 시스템
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제 1 항에 있어서,상기 영상 스레드는상기 카메라로부터 취득하는 취득 영상과 상기 영상 획득 스레드에 전송하는 전송 영상을 중첩하여 취득 및 전송하는 다수개의 버퍼를 포함하는 영상 취득 보드와; 상기 영상 취득 보드로부터 전송되는 영상을 상기 결함 정보 스레드들에 전송하는 영상 획득 스레드를 포함하는 것을 특징으로 하는 다중 스레드를 이용한 실시간 패널 검사 시스템
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제 1 항에 있어서,상기 결함 검출 스레드들은 상기 영상 스레드로부터 획득된 영상에 대하여 영상 메모리를 가지는 메모리 분할 처리 방식을 이용하여 상기 획득된 영상을 처리하며,상기 결함 검출 스레드들은상기 영상 스레드로부터 전송되는 영상을 표시하는 영상 표시부와;상기 표시된 영상으로부터 변화점을 검사하는 변화점 검사부와;상기 검사된 변화점으로부터 후보 결함을 추출하는 후보결함 추출부와;추출된 후보결함의 상호거리를 계산하여 일정거리 이내인 결함들을 결합하는 후보결함 연결부와;상기 결합된 결함들로부터 결함 특징을 분석하는 결함특징 분석부와;상기 분석된 결함특징을 이용하여 결함 형태를 분류하는 결함형태 분류부와; 상기 분류된 결함 형태를 결함 정보로 정의하고 이를 포함하는 패킷으로 이루어진 결함정보 패킷 구성부를 포함하는 것을 특징으로 하는 다중 스레드를 이용한 실시간 패널 검사 시스템
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컴퓨터 단말기를 초기화하고, 카메라 및 패널을 얼라인하는 단계와;다수개의 버퍼를 이용하여 일부 버퍼가 상기 카메라로부터 영상을 취득하는 동안 나머지 버퍼가 취득된 영상을 전송하여 상기 카메라로부터 영상을 획득하는 단계와;상기 획득된 영상에 대하여 다중 결함 검출 스레드 및 다중 CPU를 통해 상기 결함 검출 스레드들에 연결된 각 영상 메모리를 가지는 메모리 분할 처리 방식으로 분석하여 결함 정보를 생성하는 단계와;상기 결함 정보를 표시하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 다중 스레드를 이용한 실시간 패널 검사 방법
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제5항에 있어서,상기 영상 획득 단계는조명에 따른 화소 레벨의 차이를 조정하는 조명 불균형 처리 단계와;조명 불균형 처리된 영상에서 변화점을 검사하기 위한 임계점을 설정하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 다중 스레드를 이용한 실시간 패널 검사 방법
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제5항에 있어서,상기 결함 정보 생성 단계는상기 획득된 영상을 표시하는 단계와;상기 화면에 표시된 영상 중 변화점을 검사하는 단계와;상기 변화점이 검사된 각 영상의 각 라인으로부터 후보 결함을 추출하는 단계와;상기 각 라인별로 추출한 후보 결함들은 분석하여 후보 결함들의 상호 거리를 계산하며, 계산된 상호 거리가 미리 정한 임계치이하일 경우 결함들을 상호 결합하는 단계와;상기 결합한 결함들을 결함형태별로 분류하는 단계와;상기 결함형태를 포함하는 결함 정보를 생성하고, 패킷으로 구성하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 다중 스레드를 이용한 실시간 패널 검사 방법
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