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실리콘 트렌치가 형성된 반도체 소자를 제조하는 방법

  • 기술번호 : KST2015217192
  • 담당센터 : 경기기술혁신센터
  • 전화번호 : 031-8006-1570
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 실리콘 트렌치가 형성된 반도체 소자를 제조하는 방법에 관한 것으로서, 진공챔버를 포함하는 증착장비를 이용하여 실리콘 트렌치가 형성된 반도체 소자를 제조하는 방법에 있어서, 실리콘 기판을 준비하는 제1단계와, 상기 실리콘 기판 상에 산화막을 증착시키는 제2단계와, 상기 산화막을 패터닝한 후, 상기 실리콘 기판 상에 트렌치를 형성하는 제3단계와, 상기 트렌치 형성 후 전열처리를 통해 실리콘의 (111)면이 나타나도록 상기 트렌치 에칭영역을 형성시키는 제4단계 및 상기 트렌치 에칭영역 형성 후 화합물 반도체를 증착시키는 제5단계를 포함하여 이루어지는 것을 특징으로 하는 실리콘 트렌치가 형성된 반도체 소자를 제조하는 방법을 기술적 요지로 한다. 이에 의해 'V'자 또는 'U'자 형태의 트렌치 에칭영역을 형성시켜, 실리콘 트렌치 표면의 자연산화막을 완전히 제거할 수 있고, 실리콘과 Ⅲ-Ⅴ화합물 반도체 계면에서 생성되는 관통전위(threading dislocation)가 측벽에 고정되는 높이를 낮추어 넓은 영역의 결함이 없는 Ⅲ-Ⅴ화합물 반도체를 성장시킬 수 있어 고품질의 반도체 소자를 제공할 수 있는 이점이 있다.
Int. CL H01L 21/3065 (2006.01) H01L 21/027 (2006.01)
CPC H01L 21/3065(2013.01) H01L 21/3065(2013.01) H01L 21/3065(2013.01)
출원번호/일자 1020130096406 (2013.08.14)
출원인 (재)한국나노기술원
등록번호/일자 10-1450521-0000 (2014.10.07)
공개번호/일자
공고번호/일자 (20141016) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 등록
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2013.08.14)
심사청구항수 7

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 (재)한국나노기술원 대한민국 경기도 수원시 영통구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 조영대 대한민국 경기 고양시 덕양구
2 고대홍 대한민국 경기 고양시 일산서구
3 신찬수 대한민국 경기도 용인시 수지구
4 박원규 대한민국 서울 서초구
5 김대현 대한민국 미국, 뉴욕 *****

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 이준성 대한민국 서울특별시 강남구 삼성로**길 **, ***호 준성특허법률사무소 (대치동, 대치빌딩)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 (재)한국나노기술원 경기도 수원시 영통구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2013.08.14 수리 (Accepted) 1-1-2013-0737416-17
2 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2014.04.04 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
3 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2014.05.13 수리 (Accepted) 9-1-2014-0036131-90
4 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2014.07.21 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2014-0495443-11
5 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2014.09.18 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2014-0886216-77
6 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2014.09.18 수리 (Accepted) 1-1-2014-0886217-12
7 등록결정서
Decision to grant
2014.10.02 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2014-0680541-72
8 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2015.06.30 수리 (Accepted) 4-1-2015-5087922-39
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
진공챔버를 포함하는 증착장비를 이용하여 실리콘 트렌치가 형성된 반도체 소자를 제조하는 방법에 있어서,실리콘 기판을 준비하는 제1단계;상기 실리콘 기판 상에 산화막을 증착시키는 제2단계;상기 산화막을 패터닝한 후, 상기 실리콘 기판 상에 트렌치를 형성하는 제3단계;상기 트렌치 형성 후 전열처리를 통해 실리콘의 (111)면이 나타나도록 상기 트렌치 에칭영역을 형성시키는 제4단계; 및상기 트렌치 에칭영역 형성 후 화합물 반도체를 증착시키는 제5단계;를 포함하여 이루어지되,상기 제4단계의 전열처리는, 인시츄(in-situ) 하에서 이루어지고,상기 실리콘의 (111)면이 나타나도록 형성된 트렌치 에칭영역은, 'V'자 모양 또는 'U'자 모양으로 형성된 것을 특징으로 하는 실리콘 트렌치가 형성된 반도체 소자를 제조하는 방법
2 2
삭제
3 3
제 1항에 있어서, 상기 제4단계는,전열처리하는 동안 진공챔버 내부에서의 아웃게싱된 가스와 노출된 실리콘과의 고용체 형성을 통하여 상기 트렌치 에칭영역을 형성시키는 것을 특징으로 하는 실리콘 트렌치가 형성된 반도체 소자를 제조하는 방법
4 4
제 3항에 있어서, 상기 아웃게싱된 가스는,진공챔버 내부에 존재하며, Ga 또는 Ga 계통의 화합물인 것을 특징으로 하는 실리콘 트렌치가 형성된 반도체 소자를 제조하는 방법
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제 4항에 있어서, 상기 Ga 계통의 화합물은,주기율표 상의 3족인 Ga을 포함하는 Ⅲ-Ⅴ화합물 반도체인 것을 특징으로 하는 실리콘 트렌치가 형성된 반도체 소자를 제조하는 방법
6 6
제 1항에 있어서, 상기 제4단계는,전열처리하는 동안 진공챔버 내부로 Ga 가스를 주입하여 노출된 실리콘과의 고용체 형성을 통하여 상기 트렌치 에칭영역을 형성시키는 것을 특징으로 하는 실리콘 트렌치가 형성된 반도체 소자를 제조하는 방법
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삭제
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제 1항에 있어서, 상기 산화막은,SiO2, SiNx 및 SiOxNy 중에 어느 하나인 것을 특징으로 하는 실리콘 트렌치가 형성된 반도체 소자를 제조하는 방법
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제 1항에 있어서, 상기 화합물 반도체는, Ⅲ-Ⅴ화합물 반도체인 것을 특징으로 하는 실리콘 트렌치가 형성된 반도체 소자를 제조하는 방법
10 10
삭제
11 11
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12 12
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13 13
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