맞춤기술찾기

홈으로 가기
맞춤기술찾기
이전대상기술
프린트하기

이전대상기술

화면내 에지를 검출하는 방법

  • 기술번호 : KST2015218868
  • 담당센터 : 서울서부기술혁신센터
  • 전화번호 : 02-6124-6930
상담신청 PDF 받기
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 개시된 에지 검출 방법은 비디오 프레임을 블록 단위로 구획하는 단계, 타겟 블록에서 에지 세그먼트를 검출하는 단계 및 상기 타겟 블록에서 검출된 에지 세그먼트들을 연결하여 에지맵을 생성하는 단계를 포함한다. 상기 에지 세그먼트를 검출하는 단계는 타겟 블록 내 각 픽셀에 대해 밝기 변화율(Intensity gradient)을 계산하는 단계, 상기 밝기 변화율을 기초로 상기 타겟 블록 내 에지 세그먼트의 위치를 나타내는 이진 에지맵(binary edge map)을 생성하는 단계, 상기 이진 에지맵에서 노이즈를 제거하는 단계 및 상기 노이즈가 제거된 이진 에지맵에서 복수의 에지 라인이 검출되는 경우 가장 외곽의 에지 세그먼트를 제외한 나머지 에지 세그먼트는 제거하는 단계를 포함하며, 상기 에지맵을 생성하는 단계는 상기 에지 세그먼트의 끝점(end point)을 결정하는 단계 및 상기 에지 세그먼트의 끝점 사이의 간극(gap)을 채워서 각 에지 세그먼트를 연결하는 단계를 포함한다.
Int. CL G06T 9/20 (2006.01)
CPC G06T 7/12(2013.01) G06T 7/12(2013.01) G06T 7/12(2013.01) G06T 7/12(2013.01) G06T 7/12(2013.01)
출원번호/일자 1020120047364 (2012.05.04)
출원인 상명대학교 천안산학협력단
등록번호/일자 10-1220816-0000 (2013.01.04)
공개번호/일자
공고번호/일자 (20130110) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 소멸
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2012.05.04)
심사청구항수 8

출원인

번호, 이름, 국적, 주소의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 인명정보 - 출원인 표입니다.
번호 이름 국적 주소
1 상명대학교 천안산학협력단 대한민국 충청남도 천안시 동남구

발명자

번호, 이름, 국적, 주소의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 인명정보 - 발명자 표입니다.
번호 이름 국적 주소
1 박천수 대한민국 서울특별시 중랑구

대리인

번호, 이름, 국적, 주소의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 인명정보 - 대리인 표입니다.
번호 이름 국적 주소
1 특허법인 에이치엠피 대한민국 서울특별시 중구 세종대로*길 **, *층 (서소문동, 부영빌딩)

최종권리자

번호, 이름, 국적, 주소의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 인명정보 - 최종권리자 표입니다.
번호 이름 국적 주소
1 상명대학교 천안산학협력단 충청남도 천안시 동남구
번호, 서류명, 접수/발송일자, 처리상태, 접수/발송일자의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 행정처리 표입니다.
번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application		 2012.05.04 수리 (Accepted) 1-1-2012-0357109-57
2 [우선심사신청]심사청구(우선심사신청)서
[Request for Preferential Examination] Request for Examination (Request for Preferential Examination)		 2012.05.07 수리 (Accepted) 1-1-2012-0360934-79
3 [우선심사신청]선행기술조사의뢰서
[Request for Preferential Examination] Request for Prior Art Search		 2012.05.15 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
4 [우선심사신청]선행기술조사보고서
[Request for Preferential Examination] Report of Prior Art Search		 2012.05.24 수리 (Accepted) 9-1-2012-0041500-83
5 의견제출통지서
Notification of reason for refusal		 2012.07.26 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2012-0431235-63
6 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment		 2012.08.29 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2012-0695488-74
7 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)		 2012.08.29 수리 (Accepted) 1-1-2012-0695486-83
8 등록결정서
Decision to grant		 2012.09.26 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2012-0573900-14
9 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2013.04.29 수리 (Accepted) 4-1-2013-5064388-05
10 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2013.05.06 수리 (Accepted) 4-1-2013-0017055-87
11 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2017.11.02 수리 (Accepted) 4-1-2017-5174736-31
12 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2017.11.02 수리 (Accepted) 4-1-2017-5174763-64
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
비디오 프레임에서 에지를 검출하는 방법에 있어서,상기 프레임을 블록 단위로 구획하는 단계;타겟 블록에서 에지 세그먼트를 검출하는 단계; 및상기 타겟 블록에서 검출된 에지 세그먼트들을 연결하여 에지맵을 생성하는 단계를 포함하고, 상기 에지 세그먼트를 검출하는 단계는 타겟 블록 내 각 픽셀에 대해 밝기 변화율(Intensity gradient)을 계산하는 단계; 상기 밝기 변화율을 기초로 상기 타겟 블록 내 에지 세그먼트의 위치를 나타내는 이진 에지맵(binary edge map)을 생성하는 단계; 상기 이진 에지맵에서 노이즈를 제거하는 단계; 및 상기 노이즈가 제거된 이진 에지맵에서 복수의 에지 라인이 검출되는 경우 일측 방향을 기준으로 가장 외곽의 에지 세그먼트를 제외한 나머지 에지 세그먼트는 제거하는 단계를 포함하며, 상기 에지맵을 생성하는 단계는 상기 에지 세그먼트의 끝점(end point)을 결정하는 단계; 및 상기 에지 세그먼트의 끝점 사이의 간극(gap)을 채워서 각 에지 세그먼트를 연결하는 단계를 포함하는 에지 검출 방법
2 2
제1항에 있어서, 상기 이진 에지맵에서 노이즈를 제거하는 단계는고립된 위치의 픽셀을 제거하여 노이즈를 제거하는 에지 검출 방법
3 3
제1항에 있어서, 상기 에지 세그먼트를 검출하는 단계는수평 방향(horizontal direction)의 밝기 변화율을 계산하여 수평 방향의 이진 에지맵을 생성하고, 수직 방향(vertital direction)의 밝기 변화율을 계산하여 수직 방향의 이진 에지맵을 생성하는 에지 검출 방법
4 4
제1항에 있어서, 상기 에지 세그먼트의 끝점을 결정하는 단계는 모폴로지컬 필터(morphological filter)를 이용하여 상기 이진 에지맵을 필터링하여 상기 끝점을 결정하는 에지 검출 방법
5 5
제1항에 있어서, 상기 에지 세그먼트를 연결하는 단계는상기 에지 세그먼트들의 끝점 사이를 채우는데 필요한 비용을 계산하는 단계; 및상기 계산된 비용이 최소인 경로에 위치한 점(point)을 채우는 단계를 포함하는 에지 검출 방법
6 6
제5항에 있어서, 상기 비용은 하기 수학식을 통해 계산하는 에지 검출 방법
7 7
제5항에 있어서, 상기 계산된 비용이 최소인 경로에 위치한 점(point)을 채우는 단계는상기 비용이 최소인 경로가 복수인 경우에는 상기 비용이 최소인 경로들 중 유클리디언 거리(Euclidean distance)가 최소인 경로에 위치한 점을 채우는 에지 검출 방법
8 8
제1항에 있어서, 상기 에지맵을 생성하는 단계는수평 방향의 이진 에지맵을 기초로 에지 세그먼트를 연결하여 수평 방향 에지맵을 생성하고, 수직 방향의 이진 에지맵을 기초로 에지 세그먼트를 연결하여 수직 방향 에지맵을 생성하는 에지 검출 방법
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
국가 R&D 정보가 없습니다.