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근적외선 신호 및 테라헤르츠 대역의 신호를 검출하는 광학 시스템

  • 기술번호 : KST2015219861
  • 담당센터 : 대전기술혁신센터
  • 전화번호 : 042-610-2279
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요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 근적외선 신호 및 테라헤르츠 대역의 신호를 검출하는 광학 시스템의 한 예는 광통부를 가지는 제1 주반사경과 상기 제1 주반사경의 둘레에 위치하는 복수개의 제2 주반사경을 구비한 주반사경부, 상기 주반사경부와 마주보게 위치하며, 상기 제1 주반사경에서 반사된 빛을 상기 광통부로 반사시키는 제1 부반사경과 상기 제2 주반사경에서 반사된 빛을 상기 광통부로 반사시키며 제1 부반사경의 둘레에 위치하는 복수개의 제2 부반사경을 구비한 부반사경부, 상기 광통부 하단에 위치하며 상기 광통부를 통과한 빛에서 적외선을 필터링하고 촬상하여 전기적인 신호로 출력하는 이미지 센서(image sensor)부, 그리고 상기 광통부 하단에 위치하며 상기 광통부를 통과한 빛에서 테라헤르츠 대역의 신호를 필터링(filtering)하여 검출하는 테라헤르츠 검출부를 포함하는 근적외선 신호 및 테라헤르츠 대역의 신호를 검출하는 광학 시스템.
Int. CL G02B 23/00 (2006.01) G01N 21/35 (2014.01) G02B 17/06 (2006.01)
CPC G02B 17/0605(2013.01) G02B 17/0605(2013.01) G02B 17/0605(2013.01) G02B 17/0605(2013.01)
출원번호/일자 1020130001585 (2013.01.07)
출원인 한국 천문 연구원
등록번호/일자 10-1455232-0000 (2014.10.21)
공개번호/일자 10-2014-0091124 (2014.07.21) 문서열기
공고번호/일자 (20141104) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 등록
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2013.01.07)
심사청구항수 1

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한국 천문 연구원 대한민국 대전광역시 유성구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 한정열 대한민국 대전 유성구
2 강용우 대한민국 대전광역시 유성구
3 남욱원 대한민국 대전 유성구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 정회환 대한민국 대전광역시 서구 둔산중로 ***(둔산동), ****호(정국제특허법률사무소)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 한국 천문 연구원 대전광역시 유성구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application		 2013.01.07 수리 (Accepted) 1-1-2013-0014959-73
2 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search		 2013.08.02 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
3 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search		 2013.08.27 수리 (Accepted) 9-1-2013-0071533-61
4 의견제출통지서
Notification of reason for refusal		 2014.03.19 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2014-0193575-23
5 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment		 2014.05.15 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2014-0458160-36
6 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)		 2014.05.15 수리 (Accepted) 1-1-2014-0458041-12
7 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2014.07.07 수리 (Accepted) 4-1-2014-5081575-14
8 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2014.07.07 수리 (Accepted) 4-1-2014-5081573-23
9 거절결정서
Decision to Refuse a Patent		 2014.08.08 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2014-0543729-23
10 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)		 2014.09.03 수리 (Accepted) 1-1-2014-0842935-66
11 [명세서등 보정]보정서(재심사)
Amendment to Description, etc(Reexamination)		 2014.09.03 보정승인 (Acceptance of amendment) 1-1-2014-0842958-16
12 등록결정서
Decision to Grant Registration		 2014.10.14 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2014-0698934-77
13 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2015.02.13 수리 (Accepted) 4-1-2015-5021226-45
14 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2015.02.13 수리 (Accepted) 4-1-2015-5021227-91
15 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2018.04.06 수리 (Accepted) 4-1-2018-5061979-36
16 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2018.04.06 수리 (Accepted) 4-1-2018-5061983-19
17 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2018.04.06 수리 (Accepted) 4-1-2018-5061989-93
18 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2018.04.06 수리 (Accepted) 4-1-2018-5061990-39
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
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광통부(111)를 가지는 제1 주반사경(110)과 상기 제1 주반사경(110)의 둘레에 위치하는 복수개의 제2 주반사경(120)을 구비한 주반사경부(100),상기 주반사경부(100)와 마주보게 위치하며, 상기 제1 주반사경(110)에서 반사된 빛을 상기 광통부(111)로 반사시키는 제1 부반사경(210)과 상기 제2 주반사경(120)에서 반사된 빛을 상기 광통부(111)로 반사시키며 제1 부반사경(210)의 둘레에 위치하는 복수개의 제2 부반사경(220)을 구비한 부반사경부(200),상기 광통부(111) 하단에 위치하며 상기 광통부(111)를 통과한 빛에서 근적외선을 필터링하고 촬상하여 전기적인 신호로 출력하는 이미지 센서(image sensor)부(310), 그리고상기 광통부(111) 하단에 위치하며 상기 광통부(111)를 통과한 빛에서 테라헤르츠 대역의 신호를 필터링(filtering)하여 검출하는 테라헤르츠 검출부(320)를 포함하고,상기 이미지 센서부(310)는 상기 제1 주반사경(110)에서 일차 반사되고 상기 제1 부반사경(210)에서 이차 반사된 후 상기 광통부(111)를 통과한 빛에서 근적외선을 필터링하여 상을 맺어주는 제1 결상광학계(311), 그리고 상기 제1 결상광학계(311)에 의해 얻어진 상기 상을 촬상하여 전기적인 신호로 출력하는 이미지 센서(image sensor, 312)를 포함하며, 상기 테라헤르츠 검출부(320)는 상기 복수개의 제2 주반사경(120)에서 일차 반사되고 상기 복수개의 제2 부반사경(220)에서 이차 반사된 후 상기 광통부(111)를 통과한 빛에서 테라헤르츠 대역의 신호를 필터링(filtering)하는 제2 결상광학계(321), 그리고 상기 제2 결상광학계(321)에 의해 필터링 된 상기 테라헤르츠 대역의 신호를 검출하는 테라헤르츠 검출기(322)를 포함하며,상기 이미지 센서부(310)와 상기 테라헤르츠 검출부(320)는 상기 광통부(111)의 하단에 서로 다른 위치에 위치하여 상기 광통부(111)를 통과한 각각의 빛을 수신하고,상기 부반사경부(200)는 상기 주반사경부(100)의 상기 제1 및 제2 주반사경(110, 120) 각각의 개수의 합과 동일한 개수의 부반사경을 가지며,상기 제1 및 제2 부반사경(210, 220)은 상기 제1 및 제2 주반사경(110, 120) 중 어느 하나의 지름보다 작은 지름을 갖는 근적외선 신호 및 테라헤르츠 대역의 신호를 검출하는 광학 시스템
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