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영역 검출을 이용한 방사선 검사 장치 및 방법

  • 기술번호 : KST2015221076
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요약 본 발명은 검사 대상물의 외곽 위치에 따라 최적의 영역에만 방사선을 조사할 수 있도록 하는 영역 검출을 이용하는 방사선 검사 장치 및 방법에 관한 것이다.이를 위해, 본 발명은 검사대에 놓인 검사 대상물의 외곽 라인과 위치 센서와의 거리에 따라 방사선 조사 영역을 검출하는 방사선 조사 영역 검출부; 방사선을 조사하는 방사선 발생부; 프레임을 따라 상기 방사선 발생부를 이동시키는 이동부; 방사선을 상기 검사 대상물에 조사함에 따라 생성되는 방사선 투과 영상을 검출하는 방사선 검출부; 및 상기 방사선 조사 영역 검출부에서 감지된 방사선 조사 영역에 따라 상기 방사선 발생부와 이동부를 제어하여 필요한 영역에만 방사선을 조사시키는 제어부를 포함하며, 상기 방사선 조사 영역 검출부는, 상기 검사대가 수납되는 본체 케이스의 양 내측면에 틸팅 가능하게 설치되어, 상기 검사 대상물의 외곽 라인과의 이격 거리를 각각 측정하는 한 쌍의 위치 센서; 및 상기 각각의 위치 센서에서 측정된 이격 거리를 내부에 기저장된 기준 이격 거리와 비교하여 상기 검사 대상물에 대한 방사선 조사의 시작 지점과 끝 지점을 검출하는 검출부를 포함하여 이루어지는 것이 바람직하다.이에 따라, 본 발명은 검사 대상물의 외곽 위치에 따라 필요한 영역에만 방사선을 조사하므로, 방사선 발생원의 사용 수명을 연장하고, 불필요하게 전력이 낭비되는 것을 방지한다.
Int. CL G01N 23/04 (2018.01.01)
CPC G01N 23/04(2013.01)
출원번호/일자 1020140010274 (2014.01.28)
출원인 인하공업전문대학산학협력단, 주식회사 엘제이텍
등록번호/일자
공개번호/일자 10-2015-0089534 (2015.08.05) 문서열기
공고번호/일자
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 거절
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2014.01.28)
심사청구항수 4

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 인하공업전문대학산학협력단 대한민국 인천광역시 남구
2 주식회사 엘제이텍 대한민국 인천광역시 서구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 이정익 대한민국 서울특별시 서초구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 김영철 대한민국 서울특별시 종로구 종로*길 **, **층 케이씨엘특허법률사무소 (수송동, 석탄회관빌딩)
2 김 순 영 대한민국 서울특별시 종로구 종로*길 **, **층 케이씨엘특허법률사무소 (수송동, 석탄회관빌딩)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2014.01.28 수리 (Accepted) 1-1-2014-0090013-13
2 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2015.05.11 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
3 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2015.07.10 수리 (Accepted) 9-1-2015-0047224-29
4 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2015.10.20 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2015-0721745-19
5 거절결정서
Decision to Refuse a Patent
2016.01.07 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2016-0014981-28
6 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2020.02.06 수리 (Accepted) 4-1-2020-5027077-30
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번호 청구항
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검사대에 놓인 검사 대상물의 외곽 라인과 위치 센서와의 거리에 따라 방사선 조사 영역을 검출하는 방사선 조사 영역 검출부;방사선을 조사하는 방사선 발생부;프레임을 따라 상기 방사선 발생부를 이동시키는 이동부;방사선을 상기 검사 대상물에 조사함에 따라 생성되는 방사선 투과 영상을 검출하는 방사선 검출부; 및상기 방사선 조사 영역 검출부에서 감지된 방사선 조사 영역에 따라 상기 방사선 발생부와 이동부를 제어하여 필요한 영역에만 방사선을 조사시키는 제어부를 포함하며,상기 방사선 조사 영역 검출부는,상기 검사대가 수납되는 본체 케이스의 양 내측면에 틸팅 가능하게 설치되어, 상기 검사 대상물의 외곽 라인과의 이격 거리를 각각 측정하는 한 쌍의 위치 센서; 및상기 각각의 위치 센서에서 측정된 이격 거리를 내부에 기저장된 기준 이격 거리와 비교하여 상기 검사 대상물에 대한 방사선 조사의 시작 지점과 끝 지점을 검출하는 검출부를 포함하여 이루어지는 영역 검출을 이용하는 방사선 검사 장치
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제 1항에 있어서, 상기 한 쌍의 위치 센서는,상기 방사선 발생부가 이동하는 방향과 평행한 방향에 위치하되, 본체 케이스의 양 내측면에 서로 마주보게 설치되는 것을 특징으로 하는 영역 검출을 이용하는 방사선 검사 장치
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방사선 조사 영역 검출부가 검사대에 놓인 검사 대상물의 외곽 라인과 위치 센서와의 거리를 감지하고, 감지된 상기 검사 대상물의 외곽 라인과 위치 센서와의 거리에 의거하여 상기 검사 대상물에 대한 방사선 조사의 시작 지점과 끝 지점을 검출하는 방사 조사 영역 검출 과정; 및제어부가 상기 방사선 조사 영역 검출부를 통해 검출된 상기 검사 대상물에 대한 방사선 조사의 시작 지점과 끝 지점에 의거하여 방사선 발생부와 이송부를 제어하여 상기 검사 대상물이 놓인 영역에만 방사선을 조사시키는 과정을 포함하여 이루어지는 영역 검출을 이용하는 방사선 검사 방법
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제 3항에 있어서, 상기 방사 조사 영역 검출 과정은,상기 검사대가 수납되는 본체 케이스의 양 내측면에 틸팅 가능하게 설치된 한 쌍의 위치 센서에서 출력되는 출력 신호에 의거하여 상기 검사 대상물의 외곽 라인과 위치 센서와의 거리를 감지하는 과정; 및상기 감지된 상기 검사 대상물의 외곽 라인과 위치 센서와의 거리에 의거하여 상기 검사 대상물에 대한 방사선 조사의 시작 지점과 끝 지점을 검출하는 과정을 포함하여 이루어지는 것을 특징으로 하는 영역 검출을 이용하는 방사선 검사 방법
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