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유기발광다이오드 수명시험 장치

  • 기술번호 : KST2015222980
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요약 본 발명의 일 실시예에 따른 유기발광다이오드 수명시험 장치는, 복수의 회로가 연결된 단자를 구비하며 유기발광다이오드 시편이 중앙에 연결된 광원 시험용 검사키트를 이송시키는 이송부, 이송중인 시편이 외부로 노출되도록 상부가 개방되며, 시편의 육안검사를 위해 검사키트를 설정된 시간동안 고정시키는 육안검사부, 검사키트를 적분구의 하부에 배치시켜 시편의 광속을 검사하는 광속검사부를 포함한다.
Int. CL H01L 21/66 (2006.01) H01L 51/56 (2006.01)
CPC H01L 51/56(2013.01)
출원번호/일자 1020140026562 (2014.03.06)
출원인 재단법인 한국기계전기전자시험연구원
등록번호/일자
공개번호/일자 10-2015-0105511 (2015.09.17) 문서열기
공고번호/일자
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 거절
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2014.03.06)
심사청구항수 4

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 재단법인 한국기계전기전자시험연구원 대한민국 경기도 군포시 흥안대로**번길 ** (

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 임홍우 대한민국 경기 군포시 한세로**번길 *-**, *
2 형재필 대한민국 경기도 군포시
3 이영주 대한민국 경기 안산시 단원구
4 김의준 대한민국 경기도 용인시 수지구
5 정의효 대한민국 경기 안양시 동안구
6 이민혁 대한민국 서울 서초구
7 원동조 대한민국 경기 수원시 영통구
8 김준성 대한민국 경기 안산시 상록구
9 장인혁 대한민국 경기 군포시 번영로***번길 *, ***호 (

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 특허법인(유한) 대아 대한민국 서울특별시 강남구 역삼로 ***, 한양빌딩*층(역삼동)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2014.03.06 수리 (Accepted) 1-1-2014-0220417-16
2 보정요구서
Request for Amendment
2014.03.21 발송처리완료 (Completion of Transmission) 1-5-2014-0049223-25
3 [출원서등 보정]보정서
[Amendment to Patent Application, etc.] Amendment
2014.03.24 수리 (Accepted) 1-1-2014-0280491-69
4 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2014.06.25 수리 (Accepted) 4-1-2014-0071490-14
5 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2015.02.10 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2015-0097372-77
6 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2015.04.10 수리 (Accepted) 1-1-2015-0353016-20
7 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2015.04.10 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2015-0353017-76
8 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2015.08.18 수리 (Accepted) 4-1-2015-5109812-21
9 거절결정서
Decision to Refuse a Patent
2015.08.24 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2015-0573530-27
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번호 청구항
1 1
복수의 회로가 연결된 단자를 구비하며 유기발광다이오드 시편이 중앙에 연결된 광원 시험용 검사키트를 이송시키는 이송부;상기 이송중인 시편이 외부로 노출되도록 상부가 개방되며, 시편의 육안검사를 위해 상기 검사키트를 설정된 시간동안 고정시키는 육안검사부; 및상기 검사키트를 적분구의 하부에 배치시켜 시편의 광속을 검사하는 광속검사부;를 포함하는 유기발광다이오드 수명시험 장치
2 2
제 1 항에 있어서,상기 육안검사부는상기 검사키트의 위치를 감지하는 근접센서;상기 검사키트에 구비된 삽입공을 관통하여 상기 검사키트를 고정하는 핀을 구비하는 고정판;상기 검사키트의 단자와 연결되어 상기 검사키트에 필요한 전원을 전달하는 전원연결핀; 및상기 근접센서로부터 감지된 상기 검사키트의 위치에 따라 상기 핀과 상기 전원연결핀을 승강 구동하는 승강구동부;를 포함하는 유기발광다이오드 수명시험 장치
3 3
제 2 항에 있어서,상기 전원연결핀은시편으로 공급되는 전류를 측정하기 위해 구비된 전류측정용 핀과,시편의 색상을 변환하기 위해 구비된 색상변환용 핀을 포함하는 유기발광다이오드 수명시험 장치
4 4
제 2 항에 있어서,상기 이송부와 상기 승강구동부를 제어하는 제어부를 더 포함하며,상기 제어부는상기 이송부와 상기 승강구동부를 번갈아 구동시키는 유기발광다이오드 수명시험 장치
5 5
제 2 항에 있어서,상기 근접센서는바닥 상에 매립되어 직상방향으로 광을 조사하는 광학식 센서 인 유기발광다이오드 수명시험 장치
6 6
제 2 항에 있어서,상기 고정판의 길이방향 중앙에는상기 근접센서의 설치 구간을 마련하는 제1함몰부와,상기 제1함몰부와 폭 방향으로 마주하게 형성되며, 상기 전원연결핀의 설치 구간을 마련하는 제2함몰부가 구비되는 유기발광다이오드 수명시험 장치
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제 2 항에 있어서,상기 고정판의 핀은상부 방향으로 갈수록 단면 폭이 좁아지는 구조를 갖는 유기발광다이오드 수명시험 장치
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
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순번 연구부처 주관기관 연구사업 연구과제
1 산업통상자원부 전자부품연구원 소재부품기술기반혁신 부품소재 신뢰성평가기반구축사업(전자분야)