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다중배열 엘이디 픽스처유닛의 열화평가 장치 및 그의 제어방법

  • 기술번호 : KST2015223268
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요약 본 발명은 다중배열 엘이디 픽스처유닛의 열화평가 장치 및 그의 제어방법을 개시한다. 상기 다중배열 엘이디 픽스처유닛의 열화평가 장치는 챔버(2)와, 상기 챔버 내에 구비되고 상기 챔버의 내부 온도를 조절하는 냉각기(10a)를 포함하는 챔버 조절부(10)와, 정전류를 공급하는 정전류 공급부(20)를 포함하고, 엘이디 패키지의 엘이디의 열화를 평가하는 열화평가 장치에 있어서, 엘이디(31a) 및 상기 엘이디의 온도를 측정할 수 있는 엘이디 온도센서(31b)를 구비하는 적어도 하나의 엘이디 패키지(31)와, 상기 엘이디 패키지를 지지하고 상기 엘이디 패키지에 열을 가하거나 냉각시킬 수 있는 온도 조절부(35)를 포함하며, 상기 챔버(2) 내에 일정간격을 두고 배치되는 적어도 두 개의 엘이디 픽스처유닛(30); 상기 인접한 두 엘이디 픽스처유닛(30) 사이의 상기 챔버 내에 설치되고 상기 엘이디 픽스처유닛의 주위 온도를 감지하는 주위 온도센서(40a)를 포함하는 온도센서 지지부(40); 및 상기 챔버 조절부(10), 상기 정전류 공급부(20), 상기 엘이디 픽스처유닛(30) 및 상기 온도센서 지지부(40)의 주위 온도센서(40a)와 각각 전기적으로 연결되며, 상기 엘이디(31a)의 온도와 정전류를 제어하고 상기 챔버 조절부(10)와 상기 온도 조절부(35)를 통해 상기 챔버 내의 온도를 제어하는 제어부(50);를 포함하는 것을 특징으로 한다.
Int. CL G05D 23/19 (2014.01) H01L 21/66 (2014.01) G01R 31/26 (2014.01)
CPC G01R 31/2862(2013.01) G01R 31/2862(2013.01) G01R 31/2862(2013.01) G01R 31/2862(2013.01) G01R 31/2862(2013.01)
출원번호/일자 1020110081974 (2011.08.18)
출원인 재단법인 한국조명연구원
등록번호/일자 10-1154530-0000 (2012.06.01)
공개번호/일자
공고번호/일자 (20120613) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 소멸
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2011.08.18)
심사청구항수 21

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 재단법인 한국조명아이씨티연구원 대한민국 경기도 부천시 도약로 ***, 에이동 ***호-***호, 에이

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 박창규 대한민국 경기도 용인시 기흥구
2 김진선 대한민국 경기도 부천시 소사구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 김윤배 대한민국 서울특별시 중구 을지로 **길 ** ***호(수표동, 동화빌딩)(썬리치국제특허법률사무소)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 재단법인 한국조명연구원 경기도 부천시 원미구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2011.08.18 수리 (Accepted) 1-1-2011-0637703-13
2 [우선심사신청]심사청구(우선심사신청)서
[Request for Preferential Examination] Request for Examination (Request for Preferential Examination)
2011.09.09 수리 (Accepted) 1-1-2011-0708315-55
3 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2011.11.25 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2011-0689146-91
4 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2011.12.14 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2011-0993210-77
5 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2011.12.14 수리 (Accepted) 1-1-2011-0993217-96
6 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2012.03.12 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2012-0143876-86
7 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2012.03.13 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2012-0203796-71
8 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2012.04.03 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2012-0200507-25
9 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2012.04.10 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2012-0284490-37
10 등록결정서
Decision to grant
2012.05.18 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2012-0291568-11
11 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2013.03.07 수리 (Accepted) 4-1-2013-0004820-05
12 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2019.06.21 수리 (Accepted) 4-1-2019-5123392-13
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
챔버와, 상기 챔버 내에 구비되고 상기 챔버의 내부 온도를 조절하는 냉각기를 포함하는 챔버 조절부와, 정전류를 공급하는 정전류 공급부를 포함하고, 다중배열 엘이디 픽스처유닛의 엘이디의 열화를 평가하는 열화평가 장치에 있어서,엘이디 및 상기 엘이디의 온도를 측정할 수 있는 엘이디 온도센서를 구비하는 적어도 하나의 엘이디 패키지와, 상기 엘이디 패키지를 지지하고 상기 엘이디 패키지에 열을 가하거나 냉각시킬 수 있는 온도 조절부를 포함하며, 상기 챔버 내에 일정간격을 두고 배치되는 적어도 두 개의 엘이디 픽스처유닛;상기 인접한 두 엘이디 픽스처유닛 사이의 상기 챔버 내에 설치되고 상기 엘이디 픽스처유닛의 주위 온도를 감지하는 주위 온도센서를 포함하는 온도센서 지지부; 및상기 챔버 조절부, 상기 정전류 공급부, 상기 엘이디 픽스처유닛 및 상기 온도센서 지지부의 주위 온도센서와 각각 전기적으로 연결되며, 상기 엘이디의 온도와 정전류를 제어하고 상기 챔버 조절부와 상기 온도 조절부를 통해 상기 챔버 내의 온도를 제어하는 제어부;를 포함하는 다중배열 엘이디 픽스처유닛의 열화평가 장치
2 2
제 1 항에 있어서,상기 챔버의 내부에는 상기 챔버 내의 바닥으로부터 일정높이에 위치되는 플로어 패널과, 상기 플로어 패널을 상기 챔버 내의 바닥에 대해 지지하는 지지대와, 상기 엘이디 픽스처유닛과 동일한 형태를 이루고 상호 간에 일정간격을 가지며, 상기 플로어 패널의 상면에 배치되는 적어도 두 개의 엘이디 픽스처유닛과, 상기 플로어 패널 상의 상기 엘이디 픽스처유닛의 주위 온도를 감지하는 주위 온도센서를 구비하는 온도센서 지지부를 더 포함하는 것인 다중배열 엘이디 픽스처유닛의 열화평가 장치
3 3
제 1 항 또는 제 2 항에 있어서,제 1 항에 기재되어 있는 상기 온도센서 지지부와 제 2 항에 기재되어 있는 상기 온도센서 지지부는 각각 메인컬럼과, 상기 메인컬럼에 대해 경사지게 연결되고 선단부에 상기 주위 온도센서가 부착되는 지지바와, 상기 메인컬럼의 상단부와 상기 지지바의 후단부 사이에 제공되는 피벗부로 구성된 것인 다중배열 엘이디 픽스처유닛의 열화평가 장치
4 4
제 3 항에 있어서,상기 메인컬럼과 상기 지지바는 각각 텔레스코프식으로 신장 또는 수축 가능한 이중관 구조로 이루어지고, 상기 지지바는 상기 피벗부를 매개로 하여 상기 메인컬럼에 대해 좌우 수평방향으로 선회 조절되어 새롭게 이동된 위치에 고정될 수 있는 것인 다중배열 엘이디 픽스처유닛의 열화평가 장치
5 5
제 1 항 또는 제 2 항에 있어서,상기 챔버의 내부에는 상기 적어도 두 개의 엘이디 픽스처유닛을 지지하는 베이스 마운트를 더 포함하며, 상기 베이스 마운트는 상기 엘이디 픽스처유닛과 상기 온도센서 지지부를 다같이 지지하는 베이스판과, 상기 베이스판의 저부에 제공되는 적어도 하나의 지지구로 구성된 것인 다중배열 엘이디 픽스처유닛의 열화평가 장치
6 6
제 5 항에 있어서,상기 온도센서 지지부의 하단부와 상기 베이스판의 사이에는 상기 온도센서 지지부를 상기 베이스판을 따라 이동시켜 고정시킬 수 있는 매개 고정유닛을 더 포함하는 것인 다중배열 엘이디 픽스처유닛의 열화평가 장치
7 7
제 5 항에 있어서,상기 베이스 마운트와 상기 챔버의 바닥 사이에는 내부에 냉기공간을 갖고 주위를 냉각시킬 수 있는 챔버 냉각판이 더 제공되고, 상기 챔버 냉각판은 냉기공급용 관로를 매개로 하여 상기 챔버 내의 냉각기와 연결된 것인 다중배열 엘이디 픽스처유닛의 열화평가 장치
8 8
제 2 항에 있어서,상기 온도센서 지지부의 하단부와 상기 플로어 패널의 사이에는 상기 온도센서 지지부를 상기 플로어 패널을 따라 이동시켜 고정시킬 수 있는 매개 고정유닛을 더 포함하는 것인 다중배열 엘이디 픽스처유닛의 열화평가 장치
9 9
제 1 항에 있어서,상기 챔버 내에 상기 엘이디 픽스처유닛과 동일한 구성으로 이루어지는 다수개의 엘이디 픽스처유닛을 더 포함하고, 상기 챔버 내의 전체 엘이디 픽스처유닛은 조합의 행렬식으로 배치될 수 있는 것인 다중배열 엘이디 픽스처유닛의 열화평가 장치
10 10
제 2 항에 있어서,상기 플로어 패널의 상면에 상기 엘이디 픽스처유닛과 동일한 구성으로 이루어지는 다수개의 엘이디 픽스처유닛을 더 포함하고, 상기 플로어 패널 상의 전체 엘이디 픽스처유닛은 조합의 행렬식으로 배치될 수 있는 것인 다중배열 엘이디 픽스처유닛의 열화평가 장치
11 11
제 1 항에 있어서,상기 엘이디 픽스처유닛은 상기 엘이디 패키지가 장착되는 브래킷을 더 포함하고, 상기 온도 조절부는 상기 브래킷의 하부에 배치되며, 상기 온도 조절부는 상기 제어부에 의해 제어되고 상기 브래킷을 가열시키는 가열판과, 상기 브래킷과 상기 가열판 사이 또는 상기 가열판의 하부에 배치되고 상기 제어부에 의해 제어되며, 상기 브래킷을 냉각시키는 냉각판으로 구성된 것인 다중배열 엘이디 픽스처유닛의 열화평가 장치
12 12
제 11 항에 있어서,상기 브래킷의 상부에는 상기 정전류 공급부로부터 상기 엘이디 패키지의 엘이디로 전류를 인가시킬 수 있고 길이를 따라 내측부에 타원형태의 중앙공을 가지며, 스페이서부를 매개로 하여 상기 브래킷의 상면에 일정높이로 고정되는 공통PCB(Printed Circuit Board)를 더 포함하는 것인 다중배열 엘이디 픽스처유닛의 열화평가 장치
13 13
제 2 항에 있어서,상기 플로어 패널의 저부에는 상기 엘이디 픽스처유닛의 엘이디들로부터 발생되는 광을 수광하고 상기 제어부에 의해 제어되는 각각의 수광유닛을 더 포함하는 것인 다중배열 엘이디 픽스처유닛의 열화평가 장치
14 14
제 13 항에 있어서,상기 제어부의 제어에 의해 상기 수광유닛에서 수광된 광량과 상기 각 엘이디의 구동전류 및 온도를 측정하여 그래프로 표시하는 기록계를 더 포함하는 것인 다중배열 엘이디 픽스처유닛의 열화평가 장치
15 15
제 1 항에 있어서,상기 챔버 조절부는 상기 챔버의 온도를 제어할 수 있도록 챔버 온도센서와, 상기 챔버의 내부를 가열시키는 히터와, 상기 챔버의 기능을 조작할 수 있는 조작반을 더 포함하는 것인 다중배열 엘이디 픽스처유닛의 열화평가 장치
16 16
(a)챔버의 히터를 구동하여 상기 챔버 내의 온도를 목표온도에 도달시키고 측정용 전원을 챔버 내의 각 엘이디 픽스처유닛에 구비된 엘이디 패키지의 엘이디에 인가하는 단계;(b)측정용 전원을 인가한 후에 각 엘이디 패키지의 엘이디의 구동전류와 온도 및 상기 엘이디 픽스처유닛의 주위 온도를 측정하는 실험데이터 측정단계;(c)상기 (b)단계에서 측정된 엘이디의 구동전류, 엘이디의 온도 및 엘이디 픽스처유닛의 주위 온도 중 어느 하나 이상의 데이터를 기록계로 출력하여 그래프로 표시하는 단계; 및(d)상기 엘이디 픽스처유닛의 주위에서 측정된 주위 온도를 상기 챔버 내의 평균 허용온도와 비교하여 상기 엘이디 픽스처유닛의 주위 온도를 일정온도에서 유지되도록 제어하는 단계;를 포함하는 열화평가 장치의 제어방법
17 17
제 16 항에 있어서,상기 (b) 단계의 실험데이터 측정단계는 수광 유닛으로 각 엘이디 패키지의 엘이디의 광량을 측정하는 것을 더 포함하고, 상기 (c) 단계의 그래프로 표시하는 단계는 상기 (b) 단계의 실험데이터 측정단계에서 측정된 엘이디의 광량 데이터를 기록계로 출력하여 그래프로 표시하는 것을 더 포함하는 것인 열화평가 장치의 제어방법
18 18
제 16 항에 있어서,상기 (d) 단계의 주위 온도를 일정온도에서 유지되도록 제어하는 단계는 기 측정된 엘이디 픽스처유닛의 주위 온도가 챔버 내의 평균 허용온도의 하한치 보다 낮으면 상기 엘이디 픽스처유닛의 주위의 온도를 상승시키고, 챔버 내의 평균 허용온도의 상한치를 초과하면 상기 엘이디 픽스처유닛의 주위의 온도를 낮추도록 상기 엘이디 픽스처유닛의 가열판과 냉각판을 제어하는 것인 열화평가 장치의 제어방법
19 19
(a)챔버의 히터를 구동하여 상기 챔버 내의 온도를 목표온도에 도달시키고 측정용 전원을 챔버 내의 각 엘이디 픽스처유닛에 구비된 엘이디 패키지의 엘이디에 인가하는 단계;(b)측정용 전원을 인가한 후에 각 엘이디 패키지의 엘이디의 구동전류와 온도 및 상기 엘이디 픽스처유닛의 주위 온도를 측정하는 실험데이터 측정단계;(c)상기 엘이디 픽스처유닛의 주위에서 측정된 주위 온도를 상기 챔버 내의 평균 허용온도와 비교하여 상기 엘이디 픽스처유닛의 주위 온도를 일정온도에서 유지되도록 제어하는 단계; 및(d)상기 (b)측정단계에서 측정된 엘이디의 구동전류, 엘이디의 온도 및 엘이디 픽스처유닛의 주위 온도 중 어느 하나 이상의 데이터를 기록계로 출력하여 그래프로 표시하는 단계;를 포함하는 열화평가 장치의 제어방법
20 20
제 19 항에 있어서,상기 (c) 단계의 주위 온도를 일정온도에서 유지되도록 제어하는 단계는 기 측정된 엘이디 픽스처유닛의 주위 온도가 챔버 내의 평균 허용온도의 하한치 보다 낮으면 상기 엘이디 픽스처유닛의 주위의 온도를 상승시키고, 챔버 내의 평균 허용온도의 상한치를 초과하면 상기 엘이디 픽스처유닛의 주위의 온도를 낮추도록 상기 엘이디 픽스처유닛의 가열판과 냉각판을 제어하는 것인 열화평가 장치의 제어방법
21 21
제 19 항에 있어서,상기 (b) 단계의 실험데이터 측정단계는 수광 유닛으로 각 엘이디 패키지의 엘이디의 광량을 측정하는 것을 더 포함하고, 상기 (d) 단계의 그래프로 표시하는 단계는 상기 (b) 단계의 실험데이터 측정단계에서 측정된 엘이디의 광량 데이터를 기록계로 출력하여 그래프로 표시하는 것을 더 포함하는 것인 열화평가 장치의 제어방법
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
국가 R&D 정보가 없습니다.