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나노 채널 형성 방법

  • 기술번호 : KST2015223436
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요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 나노 채널을 형성하는 방법으로서 특히 나노 트렌치를 형성하기 위한 주형을 형성하는 주형 가공 단계와, 상기 주형을 나노 유동 장치의 본체에 스탬핑하여 상기 나노 유동 장치의 본체에 나노 트렌치를 형성하는 임프린트 단계와, 상기 나노 트렌치를 실링하는 실링 단계를 포함하여 상기 나노 유동 장치에 나노 채널을 형성하는 방법에 관한 것이다.이러한 본 발명에 의해 고가의 나노 가공 툴을 사용하지 않고 높은 종횡비(HAR)을 가지는 나노 채널을 간이하고도 저렴하게 가공할 수 있는 방법을 제공한다.또한, 본 발명에 의해 단일의 나노 유동 장치에 다양한 폭을 갖는 나노 채널을 구비할 수 있으며, 이는 상기 실험을 위한 시간이나 비용을 크게 절감시킬 수 있어 바이오 분자 연구(예를 들어 DNA 스트레칭 거동)에 큰 혜택을 줄 수 있는 효과가 있다나노 채널, 실링, 증기, 나노 트렌치, 나노 임프린트 주형
Int. CL G01N 33/50 (2006.01) B29C 33/38 (2006.01) B82B 3/00 (2006.01)
CPC B82B 3/0095(2013.01) B82B 3/0095(2013.01) B82B 3/0095(2013.01) B82B 3/0095(2013.01) B82B 3/0095(2013.01) B82B 3/0095(2013.01)
출원번호/일자 1020090105662 (2009.11.03)
출원인 재단법인 서울테크노파크
등록번호/일자 10-1155515-0000 (2012.06.05)
공개번호/일자 10-2011-0048913 (2011.05.12) 문서열기
공고번호/일자 (20120618) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 등록
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2009.11.03)
심사청구항수 17

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 재단법인 서울테크노파크 대한민국 서울특별시 노원구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 김범준 대한민국 서울특별시 서초구
2 박재원 대한민국 부산광역시 남구
3 조영학 대한민국 서울특별시 노원구
4 한아름 대한민국 **** 케스케이트 코트

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 특허법인다나 대한민국 서울특별시 강남구 역삼로 *길 **, 신관 *층~*층, **층(역삼동, 광성빌딩)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 재단법인 서울테크노파크 서울특별시 노원구
번호, 서류명, 접수/발송일자, 처리상태, 접수/발송일자의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 행정처리 표입니다.
번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2009.11.03 수리 (Accepted) 1-1-2009-0676640-35
2 [출원서등 보정]보정서
[Amendment to Patent Application, etc.] Amendment
2009.11.17 수리 (Accepted) 1-1-2009-0704650-94
3 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2011.03.08 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
4 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2011.04.15 수리 (Accepted) 9-1-2011-0033789-82
5 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2011.04.21 수리 (Accepted) 4-1-2011-5079528-72
6 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2011.06.01 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2011-0300876-35
7 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2011.08.01 수리 (Accepted) 1-1-2011-0592590-51
8 [출원서등 보정]보정서
[Amendment to Patent Application, etc.] Amendment
2011.12.22 수리 (Accepted) 1-1-2011-1020956-87
9 [출원서등 보정]보정서
[Amendment to Patent Application, etc.] Amendment
2011.12.22 수리 (Accepted) 1-1-2011-1020967-89
10 거절결정서
Decision to Refuse a Patent
2012.01.09 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2012-0013474-75
11 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2012.02.08 수리 (Accepted) 1-1-2012-0103043-08
12 [명세서등 보정]보정서(재심사)
Amendment to Description, etc(Reexamination)
2012.02.08 보정승인 (Acceptance of amendment) 1-1-2012-0103044-43
13 등록결정서
Decision to Grant Registration
2012.03.06 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2012-0131791-78
14 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2014.06.16 수리 (Accepted) 4-1-2014-0069496-95
15 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2017.03.27 수리 (Accepted) 4-1-2017-5046751-03
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
삭제
2 2
삭제
3 3
나노 트렌치를 형성하기 위한 주형을 형성하는 주형 가공 단계(S100)와, 상기 주형을 나노 유동 장치의 본체에 스탬핑하여 상기 나노 유동 장치의 본체에 나노 트렌치를 형성하는 임프린트 단계(S200)와, 상기 나노 트렌치를 실링하는 실링 단계(S300)를 포함하여 상기 나노 유동 장치에 나노 채널을 형성하는 방법(S10)으로서,상기 주형 가공 단계(S100)는 실리콘 웨이퍼상에 Si3N4층이 일정 패턴을 구비하도록 하는 단계(S110)와,상기 실리콘 웨이퍼를 이방성 에칭하여 상기 Si3N4층의 저면에 폭이 좁은 수직방향의 실리콘 릿지를 각각 형성하는 단계(S120)와,상기 Si3N4층을 제거하여 상기 실리콘 릿지를 노출시키는 단계(S130)를 포함하고,상기 실링 단계(S300)는 상기 나노 트렌치의 개방부를 증기에 노출하여 상기 나노 트렌치의 개방부 단부가 상호 융착됨에 의해 상기 나노 트렌치의 개방부를 실링하는 것을 특징으로 하는 나노 채널 형성 방법
4 4
제3항에 있어서,상기 나노 트렌치의 실링 단계(S300)에 사용되는 증기는 톨루엔 또는 메탄올 증기인 것을 특징으로 하는 나노 채널 형성 방법
5 5
제3항에 있어서,상기 실리콘 릿지를 형성하는 단계(S120)는 상기 Si3N4층이 제거된 실리콘 웨이퍼를 염기성 용액에 함침하는 것을 특징으로 하는 나노 채널 형성 방법
6 6
제5항에 있어서,상기 염기성 용액은 수산화칼륨 수용액(농도 20wt% 내지 50wt%, 온도 40℃ 내지 70℃)을 포함하되 상기 실리콘 웨이퍼를 1분 내지 5분동안 함침하는 것을 특징으로 하는 나노 채널 형성 방법
7 7
제4항에 있어서,상기 증기는 10초 내지 30초 동안 상기 나노 트렌치측으로 제공되는 것을 특징으로 하는 나노 채널 형성 방법
8 8
제4항에 있어서,상기 증기는 상기 나노 트렌치로부터 3cm 내지 10cm 이격된 것을 특징으로 하는 나노 채널 형성 방법
9 9
제4항에 있어서,상기 톨루엔은 200℃ 내지 300℃로 가열되어 증기로 되는 것을 특징으로 하는 나노 채널 형성 방법
10 10
제4항에 있어서,상기 메탄올은 50℃ 내지 150℃로 가열되어 증기로 되는 것을 특징으로 하는 나노 채널 형성 방법
11 11
제3항에 있어서,상기 Si3N4층이 일정 패턴을 구비하도록 하는 단계(S110)은 상기 실리콘 웨이퍼상에 Si3N4층 및 상기 Si3N4층상에 일정 패턴을 갖는 포토 레지스트를 적층하는 단계(S111)와,상기 Si3N4층 및 포토 레지스트가 적층된 실리콘 웨이퍼를 포토리쏘그라피 처리하는 단계(S112)와,상기 실리콘 웨이퍼를 반응성 이온 에칭(RIE)하는 단계(S113)와,상기 포토 레지스트를 제거하여 상기 Si3N4층이 상기 포토 레지스트의 패턴과 동일한 패턴을 구비하도록 하는 단계(S114)를 포함하는 것을 특징으로 하는 나노 채널 형성 방법
12 12
제3항에 있어서,상기 실리콘 릿지를 노출시키는 단계(S130)는 상기 실리콘 웨이퍼를 산화시켜 SiO2층을 형성하는 단계(S131)와,상기 실리콘 웨이퍼상의 SiO2층과 Si3N4층을 제거하여 상기 실리콘 릿지를 노출시키는 단계(S132)를 포함하는 것을 특징으로 하는 나노 채널 형성 방법
13 13
제12항에 있어서,상기 실리콘 웨이퍼를 산화시켜 SiO2층을 형성하는 단계(S131)는 상기 실리콘 웨이퍼의 최종 두께가 200nm 내지 500nm가 되도록 800℃ 내지 1500℃의 산화로에서 3시간 내지 5시간 산화시키는 것을 특징으로 하는 나노 채널 형성 방법
14 14
제12항에 있어서,상기 실리콘 릿지를 노출시키는 단계(S132)는 불산(HF)을 이용한 상기 SiO2층을 제거하는 단계(S132a)와,상기 Si3N4층을 반응성 이온 에칭(RIE)에 의해 제거되는 단계(S132b)를 포함하는 것을 특징으로 하는 나노 채널 형성 방법
15 15
제11항 또는 제14항에 있어서,상기 반응성 이온 에칭(RIE)은 50sccm 유량을 가지는 CF4가스를 75mTorr의 기압과 75W 출력조건에서 수행되는 것을 특징으로 하는 나노 채널 형성 방법
16 16
제3항에 있어서,상기 나노 유동 장치의 재질은 PMMA인 것을 특징으로 하는 나노 채널 형성 방법
17 17
제3항에 있어서,상기 임프린트 단계(S200)는 150℃ 내지 200℃온도에서 1분 내지 10분간 1MPa 내지 10MPa의 압력으로 상기 주형을 상기 나노 유동 장치의 본체에 가압하여 상기 본체에 나노 트렌치를 형성하는 것을 특징으로 하는 나노 채널 형성 방법
18 18
제17항에 있어서,상기 임프린트(S200)단계 수행 후 60℃까지 냉각한 후 상기 주형과 나노 유동 장치의 본체를 상호 분리하는 것을 특징으로 하는 나노 채널 형성 방법
19 19
제17항에 있어서,상기 임프린트(S200)단계 수행 후 상기 나노 유동 장치가 친수성 특성을 갖도록 산소 플라즈마 처리를 하는 것을 특징으로 하는 나노 채널 형성 방법
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순번 연구부처 주관기관 연구사업 연구과제
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