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테스트 장치용 커넥터

  • 기술번호 : KST2015223538
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요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 전자 부품의 전기적 특성을 테스트하기 위는 테스트 장치용 커넥터에 관한 것으로서, 특히 커넥터 핀을 가압하는 장치에 관한 것이다. 본 발명에 따른 반도체 테스트 장치는 플러그 핀을 포함하는 플러그, 커넥터 핀을 포함하는 커넥터, 상기 커넥터 핀을 구동하는 구동부재, 상기 구동부재를 구동하는 구동부, 및 상기 구동부를 제어하는 제어부를 포함한다. 커넥터, 구동부재, 가압부재, 마그네틱 스위치
Int. CL G01R 1/04 (2006.01.01) G01R 31/26 (2014.01.01) H01L 21/66 (2006.01.01)
CPC G01R 1/0466(2013.01) G01R 1/0466(2013.01) G01R 1/0466(2013.01)
출원번호/일자 1020090027839 (2009.03.31)
출원인 사단법인 한국전자정보통신산업진흥회, 주식회사 엑시콘
등록번호/일자
공개번호/일자 10-2010-0109287 (2010.10.08) 문서열기
공고번호/일자
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 취하
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 N
심사청구항수 4

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 사단법인 한국전자정보통신산업진흥회 대한민국 서울특별시 마포구
2 주식회사 엑시콘 대한민국 경기도 성남시 분당구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 유교선 대한민국 서울특별시 송파구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 윤창환 대한민국 서울특별시 서초구 반포대로*길 ** *층(서초동, 효원빌딩)(케이아이피씨국제특허법률사무소)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
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번호, 서류명, 접수/발송일자, 처리상태, 접수/발송일자의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 행정처리 표입니다.
번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2009.03.31 수리 (Accepted) 1-1-2009-0195448-71
2 청구범위 제출유예 안내서
Notification for Deferment of Submission of Claims
2009.04.02 발송처리완료 (Completion of Transmission) 1-5-2009-0022253-56
3 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2009.12.18 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2009-0784243-78
4 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2013.10.30 수리 (Accepted) 4-1-2013-5143960-98
5 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2016.05.19 수리 (Accepted) 4-1-2016-0035567-77
6 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2020.03.31 수리 (Accepted) 4-1-2020-5074861-11
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
반도체 소자와 전기적으로 연결되는 플러그; 상기 플러그와 결합되고 테스트 보드 상에 형성된 커넥터; 상기 커넥터를 가압하는 구동부재; 온/오프 신호에 의해 상기 구동부재를 구동하는 마그네틱 스위치를 포함하는 구동부; 및 상기 구동부의 온/오프를 제어하는 제어부를 포함하는 반도체 테스트용 커넥터 장치
2 2
제 1항에 있어서, 상기 커넥터는 상기 플러그로부터 소정 간격 이격 배치되는 커넥터 핀을 포함하고, 상기 커넥터 핀은 상기 가압부재의 움직임에 의해 상기 플러그와 접촉 또는 분리되는 반도체 테스트용 커넥터 장치
3 3
제 1항에 있어서, 상기 구동부는 상기 마그네틱 스위치가 온 되는 경우 상기 구동부재가 마그네틱 스위치 방향으로 당겨지고, 오프되는 경우 다시 원위치되는 반도체용 테스트 장치
4 4
제 2항에 있어서, 상기 플러그의 양측면에는 플러그 핀들이 형성되고, 배치되고, 상기 마그네틱 스위치가 온 될 때 상기 플러그 핀과 상기 커넥트 핀은 접촉하는 반도체용 테스트 장치
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
국가 R&D 정보가 없습니다.