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기설정된 개수의 CMOS 이미지 센서가 정렬된 정렬 CMOS 이미지 센서를 구현하기 위해, 복수개의 CMOS 이미지 센서에 각각에 대해서 비전 검사를 수행하여, 상기 복수개의 CMOS 이미지 센서 각각의 픽셀 어레이 가장자리로부터 상기 CMOS 이미지 센서의 절단면까지의 거리를 측정하여 측정값을 획득하는 비전 검사 장치; 및 상기 비전 검사 장치에서 획득한 상기 측정값을 저장하고, 저장된 상기 복수개의 CMOS 이미지 센서 각각에 대한 상기 측정값에 따라 상기 복수개의 CMOS 이미지 센서를 상기 정렬 CMOS 이미지 센서의 CMOS 이미지 센서 정렬 구조에 따라 가상으로 정렬하고, 가상으로 정렬된 상기 CMOS 이미지 센서 중 인접하여 배치되는 상기 CMOS 이미지 센서들의 상기 픽셀 어레이 사이의 간격이 상기 픽셀 어레이를 구성하는 복수개의 픽셀 중 1 픽셀의 크기 이하로 배치되어 상기 정렬 CMOS 이미지 센서를 구성할 수 있는지 판별하는 제어부를 포함하는 CMOS 이미지 센서들의 정렬 가능 여부를 판별하기 위한 CMOS 이미지 센서들의 정밀 정렬 검사 장치
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제1 항에 있어서, 상기 비전 검사 장치는 상기 CMOS 이미지 센서의 상기 픽셀 어레이의 각 변에서 절단면까지의 직선 거리를 측정하여 상기 측정값으로 상단 측정값, 하단 측정값, 좌측단 측정값 및 우측단 측정값의 4개의 측정값을 획득하는 것을 특징으로 하는 CMOS 이미지 센서들의 정렬 가능 여부를 판별하기 위한 CMOS 이미지 센서들의 정밀 정렬 검사 장치
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제3 항에 있어서, 상기 제어부는 상기 좌측단 측정값과 상기 우측단 측정값을 비교하여 작은 측정값에 대응하는 위치에 다른 CMOS 이미지 센서가 인접하여 배치될 수 있도록 상기 CMOS 이미지 센서의 위치를 정렬하는 것을 특징으로 하는 CMOS 이미지 센서들의 정렬 가능 여부를 판별하기 위한 CMOS 이미지 센서들의 정밀 정렬 검사 장치
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제4 항에 있어서, 상기 제어부는 상기 상단 측정값과 상기 하단 측정값을 비교하여 작은 측정값에 대응하는 위치에 다른 CMOS 이미지 센서가 인접하여 배치될 수 있도록 상기 CMOS 이미지 센서의 위치를 정렬하는 것을 특징으로 하는 CMOS 이미지 센서들의 정렬 가능 여부를 판별하기 위한 CMOS 이미지 센서들의 정밀 정렬 검사 장치
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제5 항에 있어서, 상기 제어부는 가로로 서로 인접하여 배치되는 상기 CMOS 이미지 센서들의 상기 픽셀 어레이 사이의 간격이 상기 픽셀 어레이를 구성하는 복수개의 픽셀 중 1 픽셀의 가로 크기 이하로 배치 가능한 경우에, 상기 CMOS 이미지 센서들을 정렬 CMOS 이미지 센서로 사용할 수 있는 것으로 판별하는 것을 특징으로 하는 CMOS 이미지 센서들의 정렬 가능 여부를 판별하기 위한 CMOS 이미지 센서들의 정밀 정렬 검사 장치
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제6 항에 있어서, 상기 제어부는 세로로 서로 인접하여 배치되는 상기 CMOS 이미지 센서들의 상기 픽셀 어레이 사이의 간격이 상기 픽셀 어레이를 구성하는 복수개의 픽셀 중 1 픽셀의 세로 크기 이하로 배치 가능한 경우에, 상기 CMOS 이미지 센서들을 정렬 CMOS 이미지 센서로 사용할 수 있는 것으로 판별하는 것을 특징으로 하는 CMOS 이미지 센서들의 정렬 가능 여부를 판별하기 위한 CMOS 이미지 센서들의 정밀 정렬 검사 장치
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제5 항에 있어서, 상기 센서 비전 장치는 상기 CMOS 이미지 센서의 상기 픽셀 어레이의 각 변의 양단으로부터 절단면까지의 직선 거리를 측정하여 상기 각 변당 2개씩의 측정값을 획득하는 것을 특징으로 하는 CMOS 이미지 센서들의 정렬 가능 여부를 판별하기 위한 CMOS 이미지 센서들의 정밀 정렬 검사 장치
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제8 항에 있어서, 상기 제어부는 상기 각 변당 2개씩의 측정값 각각의 평균값을 상기 상단 측정값, 하단 측정값, 좌측단 측정값 및 우측단 측정값으로 설정하는 것을 특징으로 하는 CMOS 이미지 센서들의 정렬 가능 여부를 판별하기 위한 CMOS 이미지 센서들의 정밀 정렬 검사 장치
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제8 항에 있어서, 상기 제어부는 상기 각 변당 2개씩의 측정값 각각에서 큰 값을 상기 상단 측정값, 하단 측정값, 좌측단 측정값 및 우측단 측정값으로 설정하는 것을 특징으로 하는 CMOS 이미지 센서들의 정렬 가능 여부를 판별하기 위한 CMOS 이미지 센서들의 정밀 정렬 검사 장치
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제1 항에 있어서, 상기 CMOS 이미지 센서들의 정밀 정렬 검사 장치는 상기 복수개의 CMOS 이미지 센서가 적재되는 센서 로딩 장치; 상기 센서 로딩 장치에 적재된 상기 복수개의 CMOS 이미지 센서 중 검수가 수행될 CMOS 이미지 센서를 선택하여 이송하는 센서 이송 장치; 및 상기 센서 이송 장치가 이송한 상기 CMOS 이미지 센서가 거치되어 상기 비전 검사 장치가 상기 CMOS 이미지 센서에 대한 비전 검사를 수행할 수 있도록 하는 작업 스테이지;를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 CMOS 이미지 센서들의 정렬 가능 여부를 판별하기 위한 CMOS 이미지 센서들의 정밀 정렬 검사 장치
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제1 항에 있어서, 상기 복수개의 CMOS 이미지 센서는 동일한 제조 공정으로 제조되는 것을 특징으로 하는 CMOS 이미지 센서들의 정렬 가능 여부를 판별하기 위한 CMOS 이미지 센서들의 정밀 정렬 검사 장치
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기설정된 개수의 CMOS 이미지 센서가 정렬된 정렬 CMOS 이미지 센서를 구현하기 위해, CMOS 이미지 센서들의 정밀 정렬 검사를 수행하는 CMOS 이미지 센서들의 정밀 정렬 검사 장치의 CMOS 이미지 센서들의 정밀 정렬 검사 방법에 있어서, 상기 CMOS 이미지 센서들의 정밀 정렬 검사 방법은,상기 복수개의 CMOS 이미지 센서에 각각에 대해 비전 검사를 수행하여, 복수개의 CMOS 이미지 센서 각각의 픽셀 어레이 가장자리로부터 절단면까지의 거리를 상기 픽셀 어레이의 각 변에서 상기 CMOS 이미지 센서의 절단면까지의 직선거리를 측정하여 측정값으로 상단 측정값, 하단 측정값, 좌측단 측정값 및 우측단 측정값의 4개의 측정값을 획득하는 단계; 상기 획득된 측정값에 근거하여, 상기 복수개의 CMOS 이미지 센서들이 상기 정렬 CMOS 이미지 센서의 상기 CMOS 이미지 센서들의 정렬 구조에 대응하여 정렬될 위치를 선택하는 단계; 상기 정렬된 CMOS 이미지 센서와 인접하여 배치되는 상기 CMOS 이미지 센서들의 상기 픽셀 어레이 사이의 간격이 상기 픽셀 어레이를 구성하는 복수개의 픽셀 중 1 픽셀의 크기이하인지 판별하는 단계; 및 상기 픽셀 어레이 사이의 간격이 상기 1픽셀 크기 이하이면, 상기 CMOS 이미지 센서의 정렬 위치를 저장하는 단계; 를 포함하는 것을 특징으로 하는 CMOS 이미지 센서들의 정렬 가능 여부를 판별하기 위한 CMOS 이미지 센서들의 정밀 정렬 검사 방법
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제13 항에 있어서, 상기 정렬될 위치를 선택하는 단계는 상기 좌측단 측정값과 상기 우측단 측정값을 비교하여 작은 측정값에 대응하는 위치에 다른 CMOS 이미지 센서가 인접하여 배치될 수 있도록 상기 CMOS 이미지 센서의 위치를 선택하는 것을 특징으로 하는 CMOS 이미지 센서들의 정렬 가능 여부를 판별하기 위한 CMOS 이미지 센서들의 정밀 정렬 검사 방법
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제16 항에 있어서, 상기 정렬될 위치를 선택하는 단계는 상기 상단 측정값과 상기 하단 측정값을 비교하여 작은 측정값에 대응하는 위치에 다른 CMOS 이미지 센서가 인접하여 배치될 수 있도록 상기 CMOS 이미지 센서의 위치를 선택하는 것을 특징으로 하는 CMOS 이미지 센서들의 정렬 가능 여부를 판별하기 위한 CMOS 이미지 센서들의 정밀 정렬 검사 방법
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제17 항에 있어서, 상기 1 픽셀의 크기이하인지 판별하는 단계는 가로로 서로 인접하여 배치되는 상기 CMOS 이미지 센서들의 상기 픽셀 어레이 사이의 간격이 상기 픽셀 어레이를 구성하는 복수개의 픽셀 중 1 픽셀의 가로 크기 이하인지 판별하는 것을 특징으로 하는 CMOS 이미지 센서들의 정렬 가능 여부를 판별하기 위한 CMOS 이미지 센서들의 정밀 정렬 검사 방법
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제18 항에 있어서, 상기 1 픽셀의 크기이하인지 판별하는 단계는 세로로 서로 인접하여 배치되는 상기 CMOS 이미지 센서들의 상기 픽셀 어레이 사이의 간격이 상기 픽셀 어레이를 구성하는 복수개의 픽셀 중 1 픽셀의 세로 크기 이하인지 판별하는 것을 특징으로 하는 CMOS 이미지 센서들의 정렬 가능 여부를 판별하기 위한 CMOS 이미지 센서들의 정밀 정렬 검사 방법
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