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시료를 장착하는 시료 장착부;상기 시료에 에너지를 띠 모양으로 인가하는 에너지 인가부;상기 띠 모양의 에너지의 길이를 조절하는 띠 길이 조절부; 및상기 시료에서 방출된 광의 자연 증폭 방출(ASE; amplified spontaneous emission) 스펙트럼을 분석하여, 파장, 에너지 띠 길이, 및 모드 이득(MODAL GAIN) 으로 구성된 컨투어 맵을 생성하는 시료특성 측정부를 포함하며,상기 시료특성 측정부는, ASE 신호에 대한 추론(extrapolating)을 수행하여 실제 시료에 여기 된 띠가 없는 지점(x=0)을 구하고, 띠 길이 내 비균질성 측정을 통하여 모드 이득값을 보정하고, 모드 이득값의 시간적 변화 측정을 위하여 ASE 신호를 시간 분해하여 길이별로 측정하는 것을 특징으로 하는 광학적 모드이득 특성 측정 장치
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제 1 항에 있어서, 상기 시료특성 측정부의 띠 길이 내 비균질성 측정은,나이프 에지(knife-edge) 방법을 사용하여 샘플을 제거한 후 동일한 광학배열 조건하에서 샘플에 주입되는 광의 세기를 빔블락을 움직여 띠길이 x만을 조절하여 포토다이오드로 측정하는 것을 특징으로 하는 광학적 모드이득 특성 측정 장치
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제 1 항에 있어서, 상기 시료특성 측정부의 띠 길이 내 비균질성 측정에 따른 보정된 모드 이득값은, 이고,여기서, 는 모드 이득, 는 ASE 세기, 는 ASE 세기를 에너지 띠 길이에 대하여 미분한 값, 는 자발발광밀도(띠길이=0인 경우 결과값)이고, 는 최대치를 1로 기준으로 하는 정규화된 비균질분포인 것을 특징으로 하는 광학적 모드이득 특성 측정 장치
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제 1 항에 있어서, 상기 시료특성 측정부의 모드 이득값의 시간적 변화 측정을 위하여,파장별 모드 이득을 계산하고, 모드 이득의 동적 거동을 측정하기 위해 스트리크 카메라 장치와 결합하여 ASE 신호를 시간 분해하여 길이별로 측정하는 것을 특징으로 하는 광학적 모드이득 특성 측정 장치
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제 1 항에 있어서, 상기 실제 시료에 여기 된 띠가 없는 지점(x=0)을 구하여 진행되는 자발발광 밀도와 모드 구속 측정은,으로 나타내고, 여기서, 는 모드 이득, 는 ASE 세기, 는 ASE 세기를 에너지 띠 길이에 대하여 미분한 값, 는 자발발광밀도(띠길이=0인 경우 결과값)이고,실제 시료에 여기 된 띠가 없는 지점(x=0)에서의 기울기 값이 인 것을 특징으로 하는 광학적 모드이득 특성 측정 장치
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띠 모양의 에너지를 시료에 주입하는 단계;광 수집부에서 상기 시료로부터 방출된 광을 수집하는 단계;수집된 광으로부터 파장별 에너지 띠 길이 및 ASE 세기를 포함하는 ASE 스펙트럼을 분석하여 파장별 모드 이득을 계산하는 단계;를 포함하고,ASE 신호에 대한 추론(extrapolating)을 수행하여 실제 시료에 여기 된 띠가 없는 지점(x=0)을 구하고, 띠 길이 내 비균질성 측정을 통하여 모드 이득값을 보정하고, 모드 이득값의 시간적 변화 측정을 위하여 ASE 신호를 시간 분해하여 길이별로 측정하는 것을 특징으로 하는 광학적 모드이득 특성 측정 방법
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제 6 항에 있어서, 상기 띠 길이 내 비균질성 측정을 통하여 모드 이득값을 보정하기 위하여,나이프 에지(knife-edge) 방법을 사용하여 샘플을 제거한 후 동일한 광학배열 조건하에서 샘플에 주입되는 광의 세기를 빔블락을 움직여 띠길이 x만을 조절하여 포토다이오드로 측정하는 것을 특징으로 하는 광학적 모드이득 특성 측정 방법
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제 6 항에 있어서, 상기 모드 이득값의 시간적 변화 측정을 위하여,파장별 모드 이득을 계산하고, 모드 이득의 동적 거동을 측정하기 위해 스트리크 카메라 장치와 결합하여 ASE 신호를 시간 분해하여 길이별로 측정하는 것을 특징으로 하는 광학적 모드이득 특성 측정 방법
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