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폴리머와 상기 폴리머 내에 배치된 전도성 나노입자를 포함하는 복합소재로 이루어지는 베이스부와;상기 베이스부의 가장자리 둘레로 상호 이격되게 연결되는 복수의 전극들과;상기 전극들에 전기적으로 연결되어, 상기 전극 사이의 저항값을 측정하는 저항측정기와;상기 베이스부를 복수 영역들의 배열로 나눈 상태에서 상기 저항측정기에 검출된 상기 전극 사이의 저항값을 입력받아 분석하며, 상기 베이스부 상으로 응력에 따른 변형이 발생되면서 변화하는 상기 전극 사이 저항값의 변화를 통해, 변형이 발생된 상기 영역의 위치와 변형의 크기를 산출하는 변형분포산출부를 포함하는 나노 복합체 스트레인 측정장치
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청구항 1에 있어서,상기 베이스부는 판 형상의 필름인 나노 복합체 스트레인 측정장치
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청구항 1에 있어서,상기 전도성 나노입자는, 탄소나노튜브 또는 그래핀이나 탄소나노튜브에 그래핀이 혼합된 것 중 선택된 어느 하나인 나노 복합체 스트레인 측정장치
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청구항 1 또는 청구항 3에 있어서,상기 전도성 나노입자는 산 처리되어 카르복시산 작용기를 가지는 나노 복합체 스트레인 측정장치
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청구항 1에 있어서,상기 변형분포산출부는,상기 저항측정기에 검출된 저항값을 입력받아 변형이 발생된 상기 영역의 위치와 변형의 크기를 산출하는 산출용 컴퓨터와,상기 산출용 컴퓨터를 통해 산출된 변형 발생위치와 변형 크기를 출력하는 디스플레이부를 포함하는 나노 복합체 스트레인 측정장치
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청구항 5에 있어서,상기 산출용 컴퓨터에는, 각각의 상기 영역에 응력이 발생된 상태 및 복수의 응력이 발생된 상태에서 상기 전극들 사이의 정보 및 복수의 응력에 따라 산출되는 변형 크기가 저장된 기초위치DB를 포함하여,상기 응력에 의해 선택된 어느 하나의 상기 영역에 변형이 발생시, 상기 저항측정기로부터 전달되는 상기 전극들 사이의 저항값을 상기 기초위치DB의 상기 전극들 사이 정보와 비교하여, 변형이 발생된 상기 영역의 위치 및 변형 크기를 파악하는 나노 복합체 스트레인 측정장치
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청구항 5에 있어서,상기 디스플레이부는, 상기 산출용 컴퓨터를 통해 산출된 변형 발생위치와 변형 크기를 색상이나 채도로 표현하는 나노 복합체 스트레인 측정장치
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폴리머와 전도성 나노입자를 포함하는 복합소재로 이루어지며, 가장자리 둘레로 상호 이격되게 복수개의 전극들을 가지는 베이스부에 저항측정기를 연결하는 단계와;산출용 컴퓨터가 상기 베이스부를 복수 영역들의 배열로 나눈 상태로 상기 베이스부에 응력이 발생되지 않은 상태 및 복수의 응력이 상기 베이스부의 각 영역에 가해진 상태에서, 상기 저항측정기에 검출된 상기 전극들 사이의 저항값을 입력받아, 각각의 상기 영역에 관여하는 초기 상기 전극들의 정보 및 각각의 상기 영역에서의 상기 응력에 따른 변형크기를 저장하는 단계와;실제로 외부에서 가해지는 응력에 따른 상기 베이스부 상으로 변형이 발생되면, 상기 산출용 컴퓨터가 상기 저항측정기에서 입력되는 상기 전극들 사이의 저항값을 통해 변형이 발생된 영역 및 변형 크기를 산출하는 단계; 및,상기 산출용 컴퓨터를 통해 산출된 상기 베이스부의 변형 발생영역 및 변형 크기를 화면으로 출력시키는 단계를 포함하는 나노 복합체 스트레인 측정장치를 이용한 스트레인 측정방법
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청구항 8에 있어서,상기 베이스부의 변형이 발생된 영역 및 변형크기를 산출하는 단계는, 상기 저항측정기로부터 전달되는 상기 전극들 사이의 저항값들 중 수치가 증가된 상기 전극들을 파악한 후, 저장된 각각의 상기 영역에 관여하는 초기 상기 전극들 정보와 비교하여 해당 영역을 산출하며,상기 전극들 사이의 저항값을 통해 산출되는 응력을 파악한 후, 저장된 상기 응력과 비교하여 해당 영역에서의 변형 크기를 산출하는 나노 복합체 스트레인 측정장치를 이용한 스트레인 측정방법
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