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레이저 광원으로부터 대상물체에 투사된 후 반사되는 레이저광의 반사광을 검출하여 전기 신호로 변환하는 광신호검출부에 역 바이어스 전압을 인가하는 역 바이어스 전압 제어기;상기 광신호검출부에 의해 변환된 전기 신호를 처리하여 기준광과 상기 반사광의 위상차를 검출하는 신호처리부의 출력신호의 실효값(RMS, Root-Mean-Square)을 검출하는 실효값 검출기;기준전압으로부터 상기 실효값 검출기로부터 검출되는 신호처리부의 출력신호의 실효값을 뺄셈연산하는 뺄셈기; 및상기 기준전압과 상기 실효값의 차이값을 비례적분 연산하여 상기 역 바이어스 전압 제어기의 제어 신호로 출력하는 비례적분 제어기;를 포함하는 위상 검출 방식 레이저 스캐너의 검출신호 크기 제어 장치
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제1항에 있어서,상기 광신호검출부는 APD(Avalanche Photo Diode)인 위상 검출 방식 레이저 스캐너의 검출신호 크기 제어 장치
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제1항에 있어서,상기 레이저 광원은 레이저 다이오드인 위상 검출 방식 레이저 스캐너의 검출신호 크기 제어 장치
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광신호검출부가 대상물체에서 반사되는 레이저광의 반사광을 검출하여 전기 신호로 변환하는 단계;신호처리부가 상기 광신호검출부에 의해 변환된 상기 반사광의 검출신호를 처리하는 단계;실효값 검출기가 상기 신호처리부의 출력신호의 실효값을 검출하는 단계;뺄셈시가 기준전압과 상기 실효값을 비교하여 차이값을 얻는 단계;비례적분 제어기가 상기 차이값을 비례적분 연산하여 제어값을 출력하는 단계; 및역 바이어스 전압 제어기가 상기 제어값을 입력받아 역 바이어스 전압을 상기 광신호검출부에 인가하는 단계;를 포함하는 위상 검출 방식 레이저 스캐너의 검출신호 크기 제어 방법
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제4항에 있어서,상기 광신호검출부는 APD(Avalanche Photo Diode)인 위상 검출 방식 레이저 스캐너의 검출신호 크기 제어 방법
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제4항에 있어서,상기 레이저광은 레이저 다이오드로부터 출력되는 위상 검출 방식 레이저 스캐너의 검출신호 크기 제어 방법
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