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경로를 이루는 광섬유;상기 광섬유에서 일부 구간을 차지하는 희토류 첨가 광섬유;상기 희토류 첨가 광섬유로부터 전달되는 신호광의 일부를 감지하여 상기 신호광의 파장별 세기를 측정하는 광감지부; 및상기 광섬유와 개별적으로 상기 광감지부에 연결되며, 구조물 변형도 측정을 위해 광섬유 격자를 구비하는 단일 모드 광섬유;를 포함하며,상기 희토류 첨가 광섬유에서의 상기 신호광의 감소를 통해 방사선량을 측정하고, 상기 단일 모드 광섬유에서의 파장 신호의 첨두 파장 이동을 통해 구조물 변형도를 동시 측정하는 광섬유 기반 방사선량 및 구조물 변형도 측정 시스템
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제1항에 있어서,상기 희토류 첨가 광섬유가 개재된 상기 광섬유에 연결되며, 펌핑에 의해 펌프광을 생성함으로써 상기 신호광을 발생시키는 펌프 광원을 더 포함하는 광섬유 기반 방사선량 및 구조물 변형도 측정 시스템
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제2항에 있어서,상기 펌프 광원과 상기 희토류 첨가 광섬유가 개재된 상기 광섬유 사이에 개재되며, 상기 펌프광 및 상기 신호광을 다중화하는 파장 다중화부를 더 포함하는 광섬유 기반 방사선량 및 구조물 변형도 측정 시스템
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제3항에 있어서,상기 파장 다중화부와 개별적으로 연결되며, 상기 신호광을 반복적으로 반사하여 상기 희토류 첨가 광섬유를 통과하도록 하는 반사부를 더 포함하는 광섬유 기반 방사선량 및 구조물 변형도 측정 시스템
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제4항에 있어서,상기 반사부는, 사그낙 고리 반사경, 광순환기, 패러데이 반사경, 단부에 금속이 코팅된 광섬유 반사경 중 적어도 어느 하나를 포함하는 선형의 레이저 공진기 구조를 갖는 광섬유 기반 방사선량 및 구조물 변형도 측정 시스템
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제3항에 있어서,상기 희토류 첨가 광섬유가 개재된 상기 광섬유 및 상기 단일 모드 광섬유와, 상기 광감지부를 각각 연결시키도록 개재되며, 상기 희토류 첨가 광섬유로부터 발생되는 상기 신호광의 일부 또는 상기 단일 모드 광섬유로부터 발생되는 파장 신호 일부를 출력하는 탭 커플러를 더 포함하는 광섬유 기반 방사선량 및 구조물 변형도 측정 시스템
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제6항에 있어서,상기 탭 커플러와 상기 파장 다중화부는 별도의 광섬유에 의해 연결됨으로써 고리형 구조를 갖는 광섬유 기반 방사선량 및 구조물 변형도 측정 시스템
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제2항에 있어서,상기 희토류 첨가 광섬유의 일단 및 상기 광섬유 격자의 일단에 결합되어 상기 신호광을 광순환시키는 광순환부를 더 포함하는 광섬유 기반 방사선량 및 구조물 변형도 측정 시스템
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제1항에 있어서,상기 희토류 첨가 광섬유가 개재된 상기 광섬유의 일단에 연결되며, 상기 희토류 첨가 광섬유에 외부 신호광을 제공하는 외부 신호 광원을 더 포함하는 광섬유 기반 방사선량 및 구조물 변형도 측정 시스템
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제1항에 있어서,측정 대상의 면적에 분포형으로 배치되어 상기 측정 대상의 복수 지점의 방사선량 및 구조물 변형도를 계측한 후 계측된 정보를 토대로 상기 측정 대상의 방사선량 및 구조물 변형도를 분석하는 광섬유 기반 방사선량 및 구조물 변형도 측정 시스템
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제1항에 있어서상기 희토류 첨가 광섬유는, 900~950 nm, 1030~1100 nm, 1320~1350 nm의 신호광을 발생 및 증폭시키는 네오디뮴(Nd), 1000~1100 nm의 신호광을 발생 및 증폭시키는 이터븀(Yb), 1300 nm의 신호광을 발생 및 증폭시키는 프라세오디뮴(Pr), 1500~1600 nm의 신호광을 발생 및 증폭시키는 어븀(Er), 1700~2100 nm의 신호광을 발생 및 증폭시키는 툴륨(Tm), 2100 nm, 2900 nm의 신호광을 발생 및 증폭시키는 홀뮴(Ho) 중 적어도 어느 하나의 희토류 원소를 포함하는 광섬유 기반 방사선량 및 구조물 변형도 측정 시스템
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