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비휘발성 메모리 및 휘발성 메모리를 포함하는 메모리 시스템 및 그 시스템을 이용한 처리 방법

  • 기술번호 : KST2016001350
  • 담당센터 : 서울동부기술혁신센터
  • 전화번호 : 02-2155-3662
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 비휘발성 메모리 및 휘발성 메모리를 포함하는 메모리 시스템 및 그 시스템을 이용한 동작 처리 방법에 관한 것으로서, 보다 상세하게는, 읽기 참조 및 쓰기 참조를 병렬적으로 수행하는 비휘발성 메모리 및 휘발성 메모리를 포함하는 시스템 및 그 시스템을 이용한 동작 처리 방법에 관한 것이다.복수의 계층의 메모리로 구성된 메모리 시스템은 휘발성 메모리로 구성된 제 1 메모리 계층, 비휘발성 메모리로 구성된 제 2 메모리 계층 및 상기 제 1 메모리 계층 및 제 2 메모리 계층 사이에 배치되고, 복수의 메모리를 포함하며, 상기 제 1 메모리 계층에서 발생한 메모리 참조 실패에 응답하여 읽기 참조 실패가 발생한 데이터 및 쓰기 참조 실패가 발생한 데이터를 로딩(loading)하는 제 3 메모리 계층을 포함할 수 있다.
Int. CL G06F 13/16 (2006.01) G06F 12/08 (2006.01)
CPC
출원번호/일자 1020100140281 (2010.12.31)
출원인 세종대학교산학협력단
등록번호/일자 10-1166803-0000 (2012.07.12)
공개번호/일자 10-2012-0078096 (2012.07.10) 문서열기
공고번호/일자 (20120726) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 등록
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2010.12.31)
심사청구항수 35

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 세종대학교산학협력단 대한민국 서울특별시 광진구 능동로 *** (군

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 박기호 대한민국 서울특별시 성동구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 특허법인엠에이피에스 대한민국 서울특별시 강남구 테헤란로*길 **, *층 (역삼동, 한동빌딩)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 에스케이하이닉스 주식회사 경기도 이천시
번호, 서류명, 접수/발송일자, 처리상태, 접수/발송일자의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 행정처리 표입니다.
번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2010.12.31 수리 (Accepted) 1-1-2010-0880383-05
2 [출원서등 보정]보정서
[Amendment to Patent Application, etc.] Amendment
2011.01.17 수리 (Accepted) 1-1-2011-0037638-36
3 [대리인선임]대리인(대표자)에 관한 신고서
[Appointment of Agent] Report on Agent (Representative)
2011.02.08 수리 (Accepted) 1-1-2011-0090046-05
4 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2011.04.13 수리 (Accepted) 4-1-2011-5073277-77
5 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2011.11.22 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2011-0680218-25
6 [지정기간연장] 기간연장(단축, 경과구제)신청서
[Designated Period Extension] Application of Period Extension(Reduction, Progress relief)
2012.01.25 수리 (Accepted) 1-1-2012-0059179-20
7 [지정기간연장]기간연장(단축, 경과구제)신청서
[Designated Period Extension] Application of Period Extension(Reduction, Progress relief)
2012.02.22 수리 (Accepted) 1-1-2012-0142240-44
8 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2012.03.22 수리 (Accepted) 1-1-2012-0233238-64
9 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2012.03.22 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2012-0233239-10
10 등록결정서
Decision to grant
2012.06.21 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2012-0360464-68
11 [출원서등 보정]보정서
[Amendment to Patent Application, etc.] Amendment
2013.05.08 수리 (Accepted) 1-1-2013-0406489-54
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
복수의 메모리 계층을 포함하는 메모리 시스템에 있어서,휘발성 메모리로 구성된 제 1 메모리 계층,비휘발성 메모리로 구성된 제 3 메모리 계층 및상기 제 1 메모리 계층 및 제 3 메모리 계층 사이에 배치되고, 상기 제 1 메모리 계층에서 발생한 메모리 참조 실패에 응답하여 읽기 참조 실패가 발생한 데이터 및 쓰기 참조 실패가 발생한 데이터가 각각 상기 제 3 메모리 계층으로부터 로딩되는 제 1 서브 메모리와 제 2 서브 메모리를 포함하는 제 2 메모리 계층을 포함하되, 상기 제 1 서브 메모리 또는 제 2 서브 메모리에 로딩된 데이터는 상기 제 1 메모리 계층으로 로딩되는 메모리 시스템
2 2
제 1 항에 있어서,상기 제 1 서브 메모리는 상기 읽기 참조 실패가 발생한 데이터를 로딩하고, 상기 제 2 서브 메모리는 상기 쓰기 참조 실패가 발생한 데이터를 로딩하며,상기 제 1 서브 메모리의 읽기 속도 및 쓰기 속도의 차이는 상기 제 2 서브 메모리의 읽기 속도 및 쓰기 속도의 차이보다 더 큰 것인 메모리 시스템
3 3
제 2 항에 있어서,상기 제 1 서브 메모리는 하나 이상의 비휘발성 메모리를 포함하는 것인 메모리 시스템
4 4
제 3 항에 있어서,상기 제 1 서브 메모리에 포함된 비휘발성 메모리가 복수 개 존재하는 경우, 상기 복수개의 비휘발성 메모리는 서로 읽기 속도가 상이한 것인 메모리 시스템
5 5
제 4 항에 있어서,상기 복수개의 비휘발성 메모리는 상기 제 1 메모리 계층의 하위 계층에 계층 구조를 갖도록 구성되되, 상기 계층 구조는 접근 속도가 빠른 비휘발성 메모리일수록 상위 계층에 배치시키는 구조인 것인 메모리 시스템
6 6
복수의 메모리 계층을 포함하는 메모리 시스템에 있어서,휘발성 메모리로 구성된 제 1 메모리 계층,비휘발성 메모리로 구성된 제 3 메모리 계층 및상기 제 1 메모리 계층 및 제 3 메모리 계층 사이에 배치되고, 제 1 서브 메모리와 제 2 서브 메모리를 포함하는 제 2 메모리 계층을 포함하고,상기 제 1 메모리 계층에서 발생한 메모리 참조 실패에 응답하여, 상기 제 2 서브 메모리에 읽기 참조 실패가 발생한 데이터 및 쓰기 참조 실패가 발생한 데이터가 상기 제 3 메모리 계층으로부터 로딩되며,상기 제 1 서브 메모리는 상기 제 2 서브 메모리에 로딩된 데이터 중 읽기 참조 실패가 발생한 데이터가 우선적으로 교체되어 저장되되, 상기 제 1 서브 메모리 또는 제 2 서브 메모리에 로딩된 데이터는 상기 제 1 메모리 계층으로 로딩되는 것인 메모리 시스템
7 7
제 6 항에 있어서,상기 제 1 메모리 계층에서 발생한 메모리 참조 실패에 응답하여 상기 제 2 메모리 계층에 데이터가 로딩된 경우, 상기 로딩된 데이터의 참조 유형에 대한 정보를 각 로딩된 데이터별로 수집하는 메모리 관리 유닛을 더 포함하되, 상기 참조 유형은 읽기 참조 및 쓰기 참조 발생 여부에 대한 정보를 포함하는 메모리 시스템
8 8
제 7 항에 있어서,상기 메모리 관리 유닛은 상기 제 1 메모리 계층에서 발생한 메모리 참조 실패에 응답하여 상기 메모리 참조 실패가 발생한 데이터를 상기 제 2 서브 메모리에 로딩시키고, 상기 제 2 서브 메모리의 로딩 가능한 용량이 미리 설정된 임계 값 이하인 경우, 상기 읽기 참조 횟수에 기초하여 상기 제 2 서브 메모리에 저장된 데이터를 상기 제 1 서브 메모리에 저장시키는 것인 메모리 시스템
9 9
제 8 항에 있어서,상기 제 서브 1 메모리의 읽기 속도 및 쓰기 속도의 차이는 상기 제 2 서브메모리의 읽기 속도 및 쓰기 속도의 차이보다 더 큰 것인 메모리 시스템
10 10
복수의 메모리 계층을 포함하는 메모리 시스템에 있어서,중앙 처리 장치(central processing unit, CPU)로 저장한 데이터를 전송하는 제 1 메모리 계층,상기 제 1 메모리 계층에서 발생한 참조 실패에 응답하여 읽기 참조 실패가 발생한 데이터 또는 쓰기 참조 실패가 발생한 데이터를 로딩하는 제 2 메모리 계층 및상기 중앙 처리 장치에 의해 구동되는 프로그램에 대한 데이터를 상기 제 2 메모리 계층 및 상기 제 1 메모리 계층을 통해 상기 중앙 처리 장치로 전송하는 제 3 메모리 계층을 포함하고,상기 제 2 메모리 계층은 읽기 속도 및 쓰기 속도의 차이가 서로 상이한 제 1 서브 메모리 및 제 2 서브 메모리를 포함하고, 상기 제 1 서브 메모리 또는 제 2 서브 메모리에 로딩된 데이터는 상기 제 1 메모리 계층으로 로딩되는 메모리 시스템
11 11
제 10 항에 있어서,상기 제 2 메모리 계층은 상기 제 1 메모리 계층에서 발생한 참조 실패에 응답하여 읽기 참조 실패가 발생한 데이터 및 쓰기 참조 실패가 발생한 데이터를 서로 다른 메모리에 로딩(loading)하는 것인 메모리 시스템
12 12
제 11 항에 있어서,상기 제 2 메모리 계층은 제 1 서브 메모리 및 제 2 서브 메모리를 포함하고,상기 제 1 서브 메모리는 상기 읽기 참조 실패가 발생한 데이터를 로딩하고, 상기 제 2 서브 메모리는 상기 쓰기 참조 실패가 발생한 데이터를 로딩하며,상기 제 1 서브 메모리의 읽기 속도 및 쓰기 속도의 차이는 상기 제 2 서브메모리의 읽기 속도 및 쓰기 속도의 차이보다 더 큰 것인 메모리 시스템
13 13
제 12 항에 있어서,상기 제 1 서브 메모리는 하나 이상의 비휘발성 메모리를 포함하는 것인 메모리 시스템
14 14
제 13 항에 있어서,상기 제 1 서브 메모리에 포함된 비휘발성 메모리가 복수 개 존재하는 경우, 상기 복수개의 비휘발성 메모리는 서로 접근 속도가 상이한 것인 메모리 시스템
15 15
제 14 항에 있어서,상기 복수개의 비휘발성 메모리는 상기 제 1 메모리 계층의 하위 계층에 계층 구조를 갖도록 구성되되, 상기 계층 구조는 접근 속도가 빠른 비휘발성 메모리일수록 상위 계층에 배치시키는 구조인 것인 메모리 시스템
16 16
제 12 항에 있어서,상기 제 2 서브 메모리는 하나 이상의 휘발성 메모리를 포함하는 것인 메모리 시스템
17 17
제 10 항에 있어서,상기 제 1 메모리 계층에서 발생한 메모리 참조에 응답하여 상기 제 2 메모리 계층에 데이터가 로딩된 경우, 상기 로딩된 데이터의 참조 유형에 대한 정보를 각 로딩된 데이터별로 수집하는 메모리 관리 유닛을 더 포함하되, 상기 참조 유형은 읽기 참조 및 쓰기 참조 발생 여부에 대한 정보를 포함하는 메모리 시스템
18 18
제 17 항에 있어서,상기 제 2 메모리 계층은 제 1 서브 메모리 및 제 2 서브 메모리를 포함하고,상기 메모리 관리 유닛은 상기 제 1 메모리 계층에서 발생한 메모리 참조 실패에 응답하여 상기 메모리 참조 실패가 발생한 데이터를 상기 제 2 서브 메모리에 로딩시키고, 상기 제 2 서브 메모리에 상기 참조 실패가 발생하여 로딩한 데이터를 저장 가능한 용량이 미리 설정된 임계 값 이하인 경우, 읽기 참조 횟수에 기초하여 상기 제 2 서브 메모리에 저장된 데이터를 상기 제 1 서브 메모리에 저장시키는 것인 메모리 시스템
19 19
제 18 항에 있어서,상기 제 1 메모리의 읽기 속도 및 쓰기 속도의 차이는 상기 제 2 메모리의 읽기 속도 및 쓰기 속도의 차이보다 더 큰 것인 메모리 시스템
20 20
제 18 항에 있어서,상기 메모리 관리 유닛은,상기 제 1 메모리 계층에서 발생한 참조 유형 정보를 상기 제 1 메모리 계층에 로딩된 데이터 별로 생성하는 데이터별 동작 로그 수집부,상기 데이터별 동작 로그 수집부에 의해 생성된 데이터별 참조 유형 정보에 기초하여 상기 제 1 메모리 계층에 로딩된 데이터의 참조 유형을 분류하는 데이터별 참조 유형 분류부 및상기 제 2 서브 메모리의 로딩 가능한 용량이 미리 설정된 임계 값 이하인 경우, 상기 분류된 참조 유형에 기초하여 상기 제 2 서브 메모리에 저장된 데이터를 상기 제 1 서브 메모리에 교체하여 저장시키는 데이터 저장 관리부를 포함하는 것인 메모리 시스템
21 21
복수의 메모리를 포함하는 메인 메모리에 있어서,중앙 처리 장치(central processing unit, CPU)로 데이터를 제공하는 캐쉬 메모리(cache memory)에서 발생한 읽기 참조 실패에 대응하는 데이터를 하위 계층의 저장장치로부터 로딩하는 제 1 서브 메모리 및상기 캐쉬 메모리에서 발생한 쓰기 참조 실패에 대응하는 데이터를 상기 하위 계층의 저장장치로부터 로딩하는 제 2 서브 메모리를 포함하고,상기 제 1 메모리의 읽기 속도 및 쓰기 속도의 차이는 상기 제 2 메모리의 읽기 속도 및 쓰기 속도의 차이보다 더 큰 것이고, 상기 제 1 서브 메모리 또는 제 2 서브 메모리에 로딩된 데이터는 상기 캐쉬 메모리로 로딩되는 메인 메모리
22 22
제 21 항에 있어서,상기 제 1 서브 메모리는 읽기 속도가 상이한 복수의 비휘발성 메모리를 포함하는 것인 메인 메모리
23 23
제 22 항에 있어서,상기 복수의 비휘발성 메모리는 상기 캐쉬 메모리의 하위 계층에 계층 구조를 갖도록 구성되되, 상기 계층 구조는 접근 속도가 빠른 비휘발성 메모리일수록 상위 계층에 배치시키는 구조인 메인 메모리
24 24
제 21 항에 있어서,상기 제 2 서브 메모리는 접근 속도가 상이한 복수의 휘발성 메모리를 포함하는 것인 메인 메모리
25 25
제 24 항에 있어서,상기 복수의 휘발성 메모리는 상기 캐쉬 메모리의 하위 계층에 계층 구조를 갖도록 구성되되, 상기 계층 구조는 접근 속도가 빠른 휘발성 메모리일수록 상위 계층에 배치시키는 구조인 메인 메모리
26 26
복수의 메모리를 포함하는 메인 메모리에 있어서,중앙 처리 장치(central processing unit, CPU)로 데이터를 제공하는 캐쉬 메모리(cache memory)에서 발생한 참조 실패에 대응하는 데이터를 하위 계층의 저장장치로부터 로딩하는 제 2 서브 메모리,상기 제 2 서브 메모리의 로딩 가능한 용량이 미리 설정된 임계 값 이하인 경우, 상기 캐쉬 메모리에서 발생한 메모리 참조 유형에 기초하여 선택된 데이터가 저장되는 제 1 서브 메모리를 포함하고,상기 제 1 서브 메모리의 읽기 속도 및 쓰기 속도의 차이는 상기 제 2 서브 메모리의 읽기 속도 및 쓰기 속도의 차이보다 더 큰 것이고,상기 제 1 서브 메모리 또는 제 2 서브 메모리에 로딩된 데이터는 상기 캐쉬 메모리로 로딩되는 메인 메모리
27 27
제 26 항에 있어서,상기 제 1 서브 메모리는 상기 캐쉬 메모리에서의 읽기 참조 발생율에 기초하여 선택된 데이터가 제 2 서브 메모리로부터 교체되어 저장되는 것인 메인 메모리
28 28
제 26 항에 있어서,상기 제 1 서브 메모리는 접근 속도가 상이한 복수의 비휘발성 메모리를 포함하는 것인 메인 메모리
29 29
제 28 항에 있어서,상기 복수의 비휘발성 메모리는 상기 캐쉬 메모리의 하위 계층에 계층 구조를 갖도록 구성되되, 상기 계층 구조는 접근 속도가 빠른 비휘발성 메모리일수록 상위 계층에 배치시키는 구조인 메인 메모리
30 30
메모리 관리 유닛이 메모리에 로딩된 데이터를 처리하는 방법에 있어서,(a) 캐쉬 메모리로부터 수신한 메모리 참조 실패 정보에 기초하여 참조 실패가 발생한 데이터를 하위 계층의 저장장치로부터 제 2 서브 메모리에 로딩하는 단계,(b) 상기 제 2 서브 메모리에 로딩한 데이터 별로 상기 수신한 메모리 참조 정보에 기초하여 참조 유형을 기록하는 단계 및(c) 상기 제 2 서브 메모리의 로딩 가능한 용량이 미리 설정된 임계 값 이하인 경우, 상기 (b) 단계에서 기록한 참조 유형에 기초하여 상기 제 2 서브 메모리에 로딩된 데이터를 제 1 서브 메모리에 저장하는 단계를 포함하고,상기 제 1 서브 메모리의 읽기 속도 및 쓰기 속도의 차이는 상기 제 2 서브 메모리의 읽기 속도 및 쓰기 속도의 차이보다 더 큰 것이고,상기 제 1 서브 메모리 또는 제 2 서브 메모리에 로딩된 데이터는 상기 캐쉬 메모리로 로딩되는 데이터 처리 방법
31 31
제 30 항에 있어서,상기 (b) 단계는,(b1) 상기 기록한 참조 유형에 기초하여 데이터 별 읽기 참조의 발생율을 산출하는 단계를 포함하고,상기 (c) 단계에서, 상기 제 2 서브 메모리의 로딩 가능한 용량이 미리 설정된 임계 값 이하인 경우, 상기 (b1) 단계에서 산출된 읽기 참조 발생율에 기초하여 선택된 데이터를 제 2 서브 메모리로부터 상기 제 1 서브 메모리로 교체하여 저장하는 것인 데이터 처리 방법
32 32
제 30 항에 있어서,상기 제 1 서브 메모리는 접근 속도가 상이한 복수의 비휘발성 메모리를 포함하는 것인 데이터 처리 방법
33 33
메모리 관리 유닛이 메모리에 로딩된 데이터를 처리하는 방법에 있어서,(a) 캐쉬 메모리로부터 수신한 메모리 참조 실패 정보에 기초하여, 읽기 참조 실패가 발생한 데이터를 하위 계층의 저장장치로부터 제 1 서브 메모리에 로딩하는 단계 및(b) 캐쉬 메모리로부터 수신한 메모리 참조 실패 정보에 기초하여, 쓰기 참조 실패가 발생한 데이터를 하위 계층의 저장장치로부터 제 2 서브 메모리에 로딩하는 단계를 포함하고,상기 제 1 서브 메모리 및 제 2 서브 메모리는 상기 캐쉬 메모리의 하위 계층 메모리에 포함되며,상기 제 1 서브 메모리의 읽기 속도 및 쓰기 속도의 차이는 상기 제 2 서브 메모리의 읽기 속도 및 쓰기 속도의 차이보다 더 큰 것이고,상기 제 1 서브 메모리 또는 제 2 서브 메모리에 로딩된 데이터는 상기 캐쉬 메모리로 로딩되는 데이터 처리 방법
34 34
제 33 항에 있어서,상기 제 1 서브 메모리는 접근 속도가 상이한 복수의 비 휘발성 메모리를 포함하는 것인 데이터 처리 방법
35 35
제 33 항에 있어서,상기 제 2 서브 메모리는 접근 속도가 상이한 복수의 휘발성 메모리를 포함하는 것인 데이터 처리 방법
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순번 패밀리번호 국가코드 국가명 종류
1 US09411719 US 미국 FAMILY
2 US10140060 US 미국 FAMILY
3 US10558395 US 미국 FAMILY
4 US20140019674 US 미국 FAMILY
5 US20160321013 US 미국 FAMILY
6 US20190056889 US 미국 FAMILY
7 US20200125296 US 미국 FAMILY
8 WO2012091234 WO 세계지적재산권기구(WIPO) FAMILY

DOCDB 패밀리 정보

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순번 패밀리번호 국가코드 국가명 종류
1 US10140060 US 미국 DOCDBFAMILY
2 US10558395 US 미국 DOCDBFAMILY
3 US2014019674 US 미국 DOCDBFAMILY
4 US2016321013 US 미국 DOCDBFAMILY
5 US2019056889 US 미국 DOCDBFAMILY
6 US2020125296 US 미국 DOCDBFAMILY
7 US9411719 US 미국 DOCDBFAMILY
8 WO2012091234 WO 세계지적재산권기구(WIPO) DOCDBFAMILY
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순번 연구부처 주관기관 연구사업 연구과제
1 교육과학기술부 세종대학교 산학협력단 신진연구지원사업 3차원 집적 기술에 기반한 저전력 혼합 메모리 계층 구조 설계
2 교육과학기술부 세종대학교 산학협력단 대형성과물(슈퍼특허) 설계지원사업 비휘발성 메모리와 휘발성 메모리로 구성된 분리된 읽기, 쓰기 메모리 계층을 갖는 혼합 메모리 시스템 구조 및 그 운영 방법