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발광소자를 갖는 시편(10)의 기계적인 변형에 따른 광학적, 전기적 특성을 시험하기 위한 장치에 있어서,
상기 시편(10)의 양측을 클램핑하여 액츄에이터(26)의 작동에 의해 시편(10)에 반복적으로 연신과 피로하중과 굽힘과 같은 기계적 변형을 가하고, 이때 시편에 가해지는 힘을 로드셀(24)로 감지하는 시험기(20)와 ;
상기 시험기(20)에 클램핑되어 액츄에이터(26)의 작동에 의해 기계적으로 변형되는 상기 시편(10)에 다양한 세기를 갖는 전류 및 전압을 가하고, 기계적 변형에 따른 발광소자(13)의 단락여부와 전기적 저항과, 전류의 통전량을 측정하는 전기적 소스-측정기(50)와 ;
상기 시험기(20)에 클램핑되어 액츄에이터(26)의 작동에 의해 기계적으로 변형되는 상기 시편(10)의 발광소자(13)에서 조사되는 광을 수광하여 시편의 기계적 변형에 따른 전류의 세기, 전기적 저항에 따른 광학적 특성을 측정하는 광측정기(30)와 ;
상기 시험기(20) 및 전기적 소스-측정기(50), 그리고 광측정기(30)와 전기적으로 연결되어 측정된 정보를 저장하고, 각 구성요소의 구동을 제어하는 제어박스(40)를 포함하여 이루어지는 것을 특징으로 하는 발광소자 시편 시험장치
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제 1항에 있어서,
상기 시험기(20)는
베이스(21)에 연결된 액츄에이터(26)와,
상기 액츄에이터(26)와 일정간격을 두고 수평이동가능하게 상기 베이스(21)의 상부면에 배치되는 이동형판(22)과,
상기 이동형판(22)에 전방에 고정되어 상/하/좌/우 위치 및 회전각도를 조절하는 정렬부(23)와,
상기 정렬부(23)의 전방에 고정되어 액츄에이터(26)에 의해 시편(10)에 가해진 힘을 측정하는 로드셀(24)과,
상기 로드셀(24) 및 액츄에이터(26)에 고정되어 시편(10)을 클램핑하는 클램프(25)들로 구성되는 것을 특징으로 하는 발광소자 시편 시험장치
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제 2항에 있어서,
상기 클램프(25)들은 시편(10)을 고정할 수 있도록 볼팅 결합되는 하부고정대(251)와 상부고정대(252)들로 이루어지는 것을 특징으로 하는 발광소자 시편 시험장치
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제 3항에 있어서,
상기 상부고정대(252)들에는 전기적 소스-측정기(50)를 통해 시편(10)에 전류 및 전압을 공급받을 수 있도록 전기적 소스-측정기(50)와 연결되는 "ㅗ" 형상의 전극핀(252a)이 연결되는 것을 특징으로 하는 발광소자 시편 시험장치
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제 1항에 있어서,
상기 광측정기(30)는 시편(10)과 이격 설치되어 시편(10)의 발광소자(13)에서 조사되는 광의 파장과, 광도, 복사도와, 색상을 검출하는 것을 특징으로 하는 발광소자 시편 시험장치
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제 1항에 있어서,
상기 시편(10)은 플렉시블한 것을 특징으로 하는 발광소자 시편 시험장치
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제 1항 또는 제 6항에 있어서,
상기 시편(10)은 폴리머 재질의 기질층(11)과, 인듐 틴 옥사이드(ITO) 재질의 투명전극박판층(12)과, 상기 투명전극박판층(12)에 증착된 발광소자(13)로 이루어지는 것을 특징으로 하는 발광소자 시편 시험장치
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제 7항에 있어서,
상기 발광소자(13)는 LOD, LED, OLED, PDLC 중 선택되는 어느 하나인 것을 특징으로 하는 발광소자 시편 시험장치
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