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그래핀 결함 검출 장치 및 방법(Apparatus for Detecting the Defects of Graphene and the Detection Method of the same)

  • 기술번호 : KST2016005681
  • 담당센터 : 대전기술혁신센터
  • 전화번호 : 042-610-2279
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 그래핀의 결함 검출 장치, 결함 검출 방법 및 그래핀의 결함 검출의 기준이 되는 그래핀 결함 검출 지표의 산출 방법에 관한 것으로, 본 발명에 따른 그래핀 결함 검출 장치는 그래핀에 백색광을 조사하는 백색광원; 상기 그래핀의 가시광 이미지를 촬상하는 디지털 카메라; 및 상기 디지털 카메라의 이미지를 입력받아, 상기 이미지의 픽셀별 상대 휘도를 기반으로 그래핀의 결함 유무, 결함의 종류 및 결함 위치를 판단하는 판단부;를 포함한다.
Int. CL G01N 21/95 (2006.01) G01N 21/88 (2006.01)
CPC G01N 21/95(2013.01) G01N 21/95(2013.01) G01N 21/95(2013.01)
출원번호/일자 1020140093010 (2014.07.23)
출원인 한국기계연구원
등록번호/일자 10-1615117-0000 (2016.04.19)
공개번호/일자 10-2016-0011842 (2016.02.02) 문서열기
공고번호/일자 (20160426) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 등록
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2014.07.23)
심사청구항수 12

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한국기계연구원 대한민국 대전광역시 유성구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 김상민 대한민국 대구광역시 수성구
2 맥이사알렉산더 대한민국 경상북도 구미시
3 김재현 대한민국 대전광역시 유성구
4 김광섭 대한민국 대전광역시 유성구
5 이승모 대한민국 충청남도 논
6 오충석 대한민국 대전광역시 서구
7 이학주 대한민국 대전광역시 서구
8 김경식 대한민국 대전광역시 유성구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 특허법인 플러스 대한민국 대전광역시 서구 한밭대로 ***번지 (둔산동, 사학연금회관) **층

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 한국기계연구원 대한민국 대전광역시 유성구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2014.07.23 수리 (Accepted) 1-1-2014-0691363-52
2 [대리인선임]대리인(대표자)에 관한 신고서
[Appointment of Agent] Report on Agent (Representative)
2015.01.14 수리 (Accepted) 1-1-2015-5002867-53
3 [대리인선임]대리인(대표자)에 관한 신고서
[Appointment of Agent] Report on Agent (Representative)
2015.01.30 수리 (Accepted) 1-1-2015-5004922-13
4 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2015.09.10 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
5 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2015.11.10 수리 (Accepted) 9-1-2015-0068692-10
6 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2015.12.01 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2015-0839481-49
7 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2016.01.29 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2016-0099482-25
8 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2016.01.29 수리 (Accepted) 1-1-2016-0099454-57
9 등록결정서
Decision to grant
2016.02.12 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2016-0108169-08
10 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2017.11.28 수리 (Accepted) 4-1-2017-5193093-72
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
그래핀에 백색광을 조사하는 백색 광원;상기 그래핀의 가시광 이미지를 촬상하는 디지털 카메라; 및상기 디지털 카메라의 이미지를 입력받아, 상기 이미지의 픽셀별 상대 휘도(RL; relative luminance)를 기반으로 그래핀의 결함 유무, 결함의 종류 및 결함 위치를 판단하는 판단부;를 포함하되,상기 판단부는 하기 관계식 1을 만족하는 경우 비결함으로, 하기 관계식 2를 만족하는 경우 관통형 크랙 결함으로, 하기 관계식 3을 만족하는 경우 다층 결함으로, 하기 관계식 4를 만족하는 경우 비관통형 크랙 결함으로 판별하는 그래핀 결함 검출 장치
2 2
제 1항에 있어서,상기 그래핀을 사이에 두고, 상기 백색 광원과 상기 디지털 카메라는 서로 이격 대향하는 그래핀의 결함 검출 장치
3 3
제 2항에 있어서,상기 판단부는 상기 백색 광원과 상기 디지털 카메라 사이에 그래핀이 위치하지 않은 상태로, 상기 디지털 카메라에 의해 촬상된 백그라운드 이미지를 더 입력받아,상기 백그라운드 이미지의 픽셀별 상대 휘도값인 백그라운드 상대 휘도와 상기 그래핀의 가시광 이미지의 픽셀별 상대 휘도값인 그래핀 상대 휘도의 차를 이용하여, 그래핀의 결함 유무, 결함의 종류 및 결함 위치를 판단하는 그래핀 결함 검출 장치
4 4
삭제
5 5
제 2항에 있어서,상기 검출장치는 그래핀을 지지하는 투명 지지부; 및 상기 투명 지지부를 이동하는 이동부재;를 더 포함하며,상기 투명 지지부는 상기 이동부재에 의해 그래핀을 상기 디지털 카메라와 상기 광원 사이로 이동시키는 그래핀 결함 검출 장치
6 6
제 2항에 있어서,상기 결함 검출 장치는 저장부;를 더 포함하며,상기 저장부는 그래핀의 비결함 영역 및 그래핀의 결함 종류에 따른 상대 휘도값인 기준상대 휘도가 저장된 그래핀 결함 검출 장치
7 7
제 2항에 있어서,상기 광원과 상기 그래핀 사이에, 광확산막이 더 구비되는 그래핀 결함 검출 장치
8 8
제 1항에 있어서,상기 결함 검출 장치는 디스플레이부를 더 포함하며,상기 디스플레이부는 상기 판단부에 의해 판별되는 픽셀별 결함 유무 및 결함 종류를 기반으로, 그래핀의 결함 이미지를 출력하는 그래핀 결함 검출 장치
9 9
a) 그래핀에 백색광을 조사하여 그래핀의 가시광 이미지를 수득하는 단계; 및b) 상기 이미지의 픽셀별 상대 휘도를 기반으로, 그래핀의 결함 유무, 결함의 종류 및 결함 위치를 검출하는 단계;를 포함하되,상기 b) 단계에서, 하기 관계식 1을 만족하는 경우 비결함으로, 하기 관계식 2를 만족하는 경우 관통형 크랙 결함으로, 하기 관계식 3을 만족하는 경우 다층 결함으로, 하기 관계식 4를 만족하는 경우 비관통형 크랙 결함으로 판별하는 그래핀 결함 검출 방법
10 10
제 9항에 있어서,상기 이미지는 상기 그래핀을 투과한 광에 의한 이미지인 그래핀 결함 검출 방법
11 11
제 9항에 있어서,상기 a) 단계 전, 상기 그래핀을 지지하는 투명 지지부의 가시광 이미지인 백그라운드 이미지를 수득하여, 상기 백그라운드 이미지의 픽셀별 상대 휘도 값을 산출하는 단계를 더 포함하는 그래핀 결함 검출 방법
12 12
제 11항에 있어서,상기 b) 단계는 상기 백그라운드 이미지의 픽셀별 상대 휘도값인 백그라운드 상대 휘도와 상기 그래핀의 가시광 이미지의 픽셀별 상대 휘도값인 그래핀 상대 휘도의 차를 이용하여, 그래핀의 결함 유무, 결함의 종류 및 결함 위치가 검출되는 그래핀의 결함 검출 방법
13 13
삭제
14 14
제 11항에 있어서,상기 a) 단계 전, 특정 결함을 함유하는 기준 그래핀의 가시광 이미지인 기준 이미지를 수득하여, 결함의 종류별로, 기준 이미지 상, 결함이 위치하는 그래핀 영역에 해당하는 픽셀의 상대 휘도 값과 상기 백그라운드 이미지의 동일 픽셀에서의 상대 휘도 값의 차이를 산출하여, 결함의 유무 및 결함의 종류를 판별하는 기준이 되는 기준 상대 휘도를 선정하는 단계;를 더 포함하는 그래핀 결함 검출 방법
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
국가 R&D 정보가 없습니다.