1 |
1
하부 폭에 비해 상부 폭이 좁은 결정성 실리콘 다면체;상기 다면체 상에 차례로 배치된 제1 도전형 반도체층, 활성층, 및 제2 도전형 반도체층을 포함하는 소자층;상기 제1 도전형 반도체층에 전기적으로 연결된 제1 전극; 및상기 제2 도전형 반도체층에 전기적으로 연결된 제2 전극을 구비하고,상기 소자층의 두께는 상기 다면체의 높이에 비해 낮고, 상기 소자층이 형성된 구조체는 하부폭에 비해 상부폭이 좁은 형태를 갖는 발광다이오드
|
2 |
2
제1항에 있어서,상기 제1 도전형 반도체층, 상기 활성층, 및 상기 제2 도전형 반도체층은 화합물 반도체층들인 발광다이오드
|
3 |
3
제1항 또는 제2항에 있어서,상기 제1 도전형 반도체층, 상기 활성층, 및 상기 제2 도전형 반도체층은 에피층들인 발광다이오드
|
4 |
4
제1항에 있어서,상기 다면체는 그의 최상부에 뾰족한 꼭지점 또는 모서리를 갖는 발광다이오드
|
5 |
5
제1항에 있어서,상기 다면체는 다수 개의 결정면들을 구비하는 발광다이오드
|
6 |
6
제5항에 있어서,상기 다면체는 기판 상에 배치되고,상기 다면체의 각 결정면이 상기 기판의 표면과 이루는 각은 상부로 갈수록 줄어드는 발광다이오드
|
7 |
7
제6항에 있어서,상기 다면체는 하부에서 상부방향으로 차례로 배치되고 상기 기판의 표면과 이루는 각을 기준으로 구분된 제1 결정면, 제2 결정면, 및 제3 결정면을 구비하고,상기 기판의 표면과 이루는 각이 제1 결정면에 비해 제2 결정면이 작고 제2 결정면에 비해 제3 결정면이 작은 발광다이오드
|
8 |
8
제5항에 있어서,상기 다면체는 그의 상부에 4개의 {111}면과 4개의 {111}면이 만나 이루어진 뾰족한 꼭지점을 구비하거나, 그의 상부에 2개의 {111}면과 2개의 {111}면이 만나 이루어진 모서리를 구비하거나, 그의 상부에 3개의 {111}면과 3개의 {111}면이 만나 이루어진 평면을 구비하는 발광다이오드
|
9 |
9
제8항에 있어서,상기 제1 도전형 반도체층은 [0002] 방향으로 성장된 GaN층인 발광다이오드
|
10 |
10
각 면이 결정면인 실리콘 다면체; 및상기 다면체 상에 차례로 배치된 제1 도전형 반도체층, 활성층, 및 제2 도전형 반도체층을 포함하는 소자층;상기 제1 도전형 반도체층에 전기적으로 연결된 제1 전극; 및상기 제2 도전형 반도체층에 전기적으로 연결된 제2 전극을 구비하되,상기 소자층의 두께는 상기 다면체의 높이에 비해 낮고, 상기 소자층이 형성된 구조체는 하부폭에 비해 상부폭이 좁은 형태를 갖는 발광다이오드
|
11 |
11
제10항에 있어서,상기 다면체는 기판 상에 배치되고,상기 다면체의 각 결정면이 상기 기판의 표면과 이루는 각은 상부로 갈수록 줄어드는 발광다이오드
|
12 |
12
제11항에 있어서,상기 제1 도전형 반도체층, 상기 활성층, 및 상기 제2 도전형 반도체층은 화합물 반도체 에피층들인 발광다이오드
|
13 |
13
제11항에 있어서,상기 다면체는 그의 상부에 4개의 {111}면과 4개의 {111}면이 만나 이루어진 뾰족한 꼭지점을 구비하거나, 그의 상부에 2개의 {111}면과 2개의 {111}면이 만나 이루어진 모서리를 구비하거나, 그의 상부에 3개의 {111}면과 3개의 {111}면이 만나 이루어진 평면을 구비하는 발광다이오드
|
14 |
14
제13항에 있어서,상기 제1 도전형 반도체층은 [0002] 방향으로 성장된 GaN층인 발광다이오드
|
15 |
15
결정성 기판을 제공하는 단계;상기 결정성 기판을 식각하여 필라를 형성하는 단계;상기 필라 상에 베이스 반도체층을 에피택셜하게 성장시켜 결정성 다면체를 형성하는 단계;상기 결정성 다면체 상에 제1 도전형 반도체층, 활성층, 및 제2 도전형 반도체층을 구비하는 소자층을 형성하는 단계;상기 제1 도전형 반도체층에 전기적으로 연결된 제1 전극을 형성하는 단계; 및상기 제2 도전형 반도체층에 전기적으로 연결된 제2 전극을 형성하는 단계를 포함하는 발광다이오드 제조방법
|
16 |
16
제15항에 있어서,상기 베이스 반도체층을 에피택셜하게 성장시키기 전에,상기 필라를 수소 어닐링하는 것을 더 포함하는 발광다이오드 제조방법
|
17 |
17
제15항에 있어서,상기 필라를 식각하는 것은 이방성 식각법을 사용하는 발광다이오드 제조방법
|
18 |
18
제17항에 있어서,상기 필라를 식각하는 것은 상기 이방성 식각법을 수행한 후 등방성 식각법을 수행하는 발광다이오드 제조방법
|
19 |
19
제15항에 있어서,상기 기판은 실리콘 단결정 기판인 발광다이오드 제조방법
|
20 |
20
제19항에 있어서,상기 베이스 반도체층은 실리콘층인 발광다이오드 제조방법
|
21 |
21
제19항 또는 제20항에 있어서, 상기 기판은 003c#100003e# 방향, 003c#110003e# 방향, 또는 003c#111003e# 방향으로 성장된 기판인 발광다이오드 제조방법
|
22 |
22
제21항에 있어서,상기 기판은 003c#100003e# 방향으로 성장된 기판이고,상기 소자층은 에피택시얼하게 성장시키는 발광다이오드 제조방법
|