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III-V족 화합물 반도체 소자 패키지 및 그 제조 방법(III-V semiconductor compound device package and method of manufacturing the same)

  • 기술번호 : KST2016005963
  • 담당센터 : 서울서부기술혁신센터
  • 전화번호 : 02-6124-6930
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명에 따른 반도체 소자 패키지는 액티브 소자 영역과 패시브 소자 영역이 정의된 기판; 상기 기판의 상기 액티브 소자 영역 상에 형성되는 반도체 소자; 및 상기 기판의 상기 패시브 소자 영역 상에 형성되는 커패시터를 포함하고, 상기 반도체 소자는, 바디부 및 상기 바디부 상부의 헤드부를 포함하는 게이트 전극, 상기 게이트 전극을 사이에 두고 서로 이격되어 위치하는 소스 전극 및 드레인 전극, 및 상기 게이트 전극을 둘러싸는 패시베이션 구조물을 구비하며, 상기 커패시터는, 하부 전극, 상기 하부 전극 상의 커패시터 유전막, 및 상기 커패시터 유전막 상의 상부 전극을 구비하며, 상기 패시베이션 구조물과 상기 커패시터 유전막은 동일한 물질을 포함한다.
Int. CL H01L 23/04 (2006.01) H01L 21/60 (2006.01) H01L 29/78 (2006.01)
CPC H01L 23/5223(2013.01)H01L 23/5223(2013.01)H01L 23/5223(2013.01)H01L 23/5223(2013.01)
출원번호/일자 1020140086884 (2014.07.10)
출원인 광운대학교 산학협력단
등록번호/일자 10-1598200-0000 (2016.02.22)
공개번호/일자 10-2016-0007013 (2016.01.20) 문서열기
공고번호/일자 (20160226) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 등록
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2014.07.10)
심사청구항수 10

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 광운대학교 산학협력단 대한민국 서울특별시 노원구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 김남영 대한민국 경기도 광주시
2 왕종 중국 서울특별시 중구
3 조성진 대한민국 서울특별시 송파구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 리앤목특허법인 대한민국 서울 강남구 언주로 **길 **, *층, **층, **층, **층(도곡동, 대림아크로텔)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 광운대학교 산학협력단 서울특별시 노원구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2014.07.10 수리 (Accepted) 1-1-2014-0650603-10
2 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2015.04.10 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
3 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2015.06.05 수리 (Accepted) 4-1-2015-5074994-12
4 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2015.06.10 수리 (Accepted) 9-1-2015-0039287-52
5 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2015.10.08 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2015-0696388-35
6 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2015.12.08 수리 (Accepted) 1-1-2015-1201484-22
7 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2015.12.08 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2015-1201485-78
8 등록결정서
Decision to grant
2015.12.30 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2015-0908192-56
9 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2016.05.09 수리 (Accepted) 4-1-2016-5056854-41
10 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2017.03.27 수리 (Accepted) 4-1-2017-5046666-19
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
액티브 소자 영역과 패시브 소자 영역이 정의된 기판;상기 기판의 상기 액티브 소자 영역 상에 형성되는 반도체 소자; 및상기 기판의 상기 패시브 소자 영역 상에 형성되는 커패시터를 포함하고,상기 반도체 소자는, 바디부 및 상기 바디부 상부의 헤드부를 포함하는 게이트 전극, 상기 게이트 전극을 사이에 두고 서로 이격되어 위치하는 소스 전극 및 드레인 전극, 및 상기 게이트 전극을 둘러싸는 패시베이션 구조물을 구비하며,상기 커패시터는, 하부 전극, 상기 하부 전극 상의 커패시터 유전막, 및 상기 커패시터 유전막 상의 상부 전극을 구비하며,상기 패시베이션 구조물과 상기 커패시터 유전막은 동일한 물질을 포함하고,상기 패시베이션 구조물은, 상기 게이트 전극의 상기 바디부의 측벽을 둘러싸는 제1 패시베이션층; 및 상기 제1 패시베이션층 상에 형성되며, 상기 게이트 전극의 상기 헤드부의 측벽 및 상면을 둘러싸는 제2 패시베이션층을 포함하는 것을 특징으로 하는 반도체 소자 패키지
2 2
제1항에 있어서,상기 게이트 전극은 T자 형상을 갖는 것을 특징으로 하는 반도체 소자 패키지
3 3
제1항에 있어서, 상기 헤드부의 폭은 상기 바디부의 폭보다 큰 것을 특징으로 하는 반도체 소자 패키지
4 4
삭제
5 5
제1항에 있어서,상기 커패시터 유전막은 상기 제2 패시베이션층과 동일한 물질을 포함하는 것을 특징으로 하는 반도체 소자 패키지
6 6
제1항에 있어서,상기 기판의 상기 패시브 소자 영역 상에 형성된 레지스터를 더 포함하는 반도체 소자 패키지
7 7
제1항에 있어서,상기 기판의 전면(front side) 상에 상기 소스 전극이 형성되고,상기 소스 전극과 오버랩되도록, 상기 기판의 배면(rear face)으로부터 상기 기판을 관통하는 제1 비아홀이 형성되는 것을 특징으로 하며,상기 제1 비아홀 내벽 상에 상기 소스 전극과 전기적으로 연결되는 소스 그라운드 비아를 더 포함하는 반도체 소자 패키지
8 8
제7항에 있어서,상기 커패시터와 오버랩되도록 상기 기판의 상기 배면으로부터 상기 기판을 관통하는 제2 비아홀이 형성되는 것을 특징으로 하며,상기 제2 비아홀 내벽 상에 상기 커패시터의 상기 하부 전극과 전기적으로 연결되는 방열 비아를 더 포함하는 반도체 소자 패키지
9 9
제8항에 있어서,상기 방열 비아와 상기 소스 그라운드 비아는 동일한 물질을 포함하는 것을 특징으로 하는 반도체 소자 패키지
10 10
제7항에 있어서,상기 기판의 배면 상에 형성되며, 상기 소스 그라운드 비아와 연결되는 소스 그라운드층을 더 포함하는 반도체 소자 패키지
11 11
기판 상에 액티브 소자 영역과 패시브 소자 영역을 정의하는 단계;상기 기판의 상기 액티브 소자 영역 상에 제1 패시베이션층을 형성하는 단계;상기 제1 패시베이션층을 마스크로 사용한 이중 노광 방법에 의해 상기 기판의 상기 액티브 소자 영역 상에 게이트 전극을 형성하는 단계;상기 액티브 소자 영역 상에 상기 게이트 전극을 커버하는 제2 패시베이션층을 형성하고, 상기 패시브 소자 영역 상에 커패시터 유전막을 형성하는 단계; 및상기 제2 패시베이션층 상에, 상기 게이트 전극을 사이에 두고 서로 이격된 소스 전극 및 드레인 전극을 형성하고, 상기 커패시터 유전막 상에 상부 전극을 형성하는 단계;를 포함하며,상기 게이트 전극은 T자 형상을 가지고, 상기 게이트 전극은 바디부 및 상기 바디부 상부의 헤드부를 포함하며,상기 제1 패시베이션층이 상기 바디부의 측벽을 둘러싸는 것을 특징으로 하는 반도체 소자 패키지의 제조 방법
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
국가 R&D 정보가 없습니다.