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트랜지스터의 제조를 위해 기판 상에 반도체층을 형성하며, 상기 반도체층상에 도펀트를 형성하되,상기 도펀트의 형성은 반도체층 형성 후 잉크젯 프린팅을 이용하여 n형 도펀트 또는 p형 도펀트를 선택적으로 인쇄하여 상기 반도체층의 일부분을 차지하도록 하는 데, 상온에서 도펀트를 포함한 용매가 반도체층을 녹여 반도체층의 일부분을 차지하도록 하며,상기 도펀트는 n형 도펀트로 CsF(Cesium Fluoride), BEDT-TTF (bis(ethylenedithio)-tetrathiafulvalene), TTN (tetrathianaphthacene), CoCp2 (bis(cyclopentadienyl)-cobalt(II)), Cr2(hpp)4 (chromium with the anion of 1,3,4,6,7,8-hexahydro-2H-pyrimido[1,2-a]pyrimidine (hpp)), W2(hpp)4 (tungsten with the anion of 1,3,4,6,7,8-hexahydro-2H-pyrimido[1,2-a]pyrimidine (hpp)), pyronin B chloride, acridine orange base [3,6-bis(dimethylamino)acridine (AOB)], leuco bases like leuco crystal violet (LCV), (nDMBI) (4-(1,3-dimethyl-2,3-dihydro-1H-benzoimidazol-2 yl)phenyl)dimethylamine, (o-MeO-DMBI-I) 2-(2-methoxyphenyl)-1,3-dimethyl-1H-benzoimidazol-3-ium iodide 중에서 1이상 선택되며,p형 도펀트로 F2-HCNQ (3,6-difluoro-2,5,7,7,8,8-hexacyanoquinodimethane), MoO3 (Molybdenum trioxide), WO3 (Tungsten trioxide) 중에서 1이상 선택되는 것을 특징으로 하는 트랜지스터 제조방법
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제1항에 있어서,상기 n형 도펀트 또는 p형 도펀트는 클로로벤젠(Chlorobenzene), 클로로포름(Chloroform), 트리클로로벤젠(Trichlorobenzene), 테트라히드로퓨란(Tetrahydrofuran), 디클로로벤젠(Dichlorobenzene), 디클로로에탄(Dichloroethane) 중 어느 하나의 용매로 녹여 잉크젯 프린팅에 이용하는 것을 특징으로 하는 것을 특징으로 하는 트랜지스터 제조방법
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제1항에 있어서,반도체층 중에서 도펀트가 포함되어 있는 부분에서의 도펀트의 양은 0
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기판을 준비하는 단계;상기 기판위에 소스/드레인 전극을 형성시키는 S/D전극형성단계;상기 소스/드레인 전극 상에 반도체층을 형성시키는 반도체층 형성단계;상기 반도체층의 일부에 도펀트층을 형성하는 단계;상기 반도체층 상에 절연층을 형성하는 절연층 형성단계; 및상기 절연층 상에 게이트 전극을 형성시키는 게이트전극 형성단계를 포함하되,상기 도펀트층 형성은 잉크젯 프린팅을 이용하여 반도체층 상에 인쇄를 통해 선택적으로 형성하되, 반도체층 형성 후 도펀트를 선택적으로 인쇄하여 상기 반도체층의 일부분을 차지하도록 하는 데, 상온에서 도펀트를 포함한 용매가 반도체층을 녹여 반도체층의 일부분을 차지하도록 하며,상기 도펀트층에 형성되는 도펀트는 n형 도펀트로 CsF(Cesium Fluoride), BEDT-TTF (bis(ethylenedithio)-tetrathiafulvalene), TTN (tetrathianaphthacene), CoCp2 (bis(cyclopentadienyl)-cobalt(II)), Cr2(hpp)4 (chromium with the anion of 1,3,4,6,7,8-hexahydro-2H-pyrimido[1,2-a]pyrimidine (hpp)), W2(hpp)4 (tungsten with the anion of 1,3,4,6,7,8-hexahydro-2H-pyrimido[1,2-a]pyrimidine (hpp)), pyronin B chloride, acridine orange base [3,6-bis(dimethylamino)acridine (AOB)], leuco bases like leuco crystal violet (LCV), (nDMBI) (4-(1,3-dimethyl-2,3-dihydro-1H-benzoimidazol-2 yl)phenyl)dimethylamine, (o-MeO-DMBI-I) 2-(2-methoxyphenyl)-1,3-dimethyl-1H-benzoimidazol-3-ium iodide 중에서 1이상 선택되며,p형 도펀트로 F2-HCNQ (3,6-difluoro-2,5,7,7,8,8-hexacyanoquinodimethane), MoO3 (Molybdenum trioxide), WO3 (Tungsten trioxide) 중에서 1이상 선택되는 것을 특징으로 하는 트랜지스터 제조방법
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제5항에 있어서,상기 n형 도펀트 또는 p형 도펀트는 클로로벤젠(Chlorobenzene), 클로로포름(Chloroform), 트리클로로벤젠(Trichlorobenzene), 테트라히드로퓨란(Tetrahydrofuran), 디클로로벤젠(Dichlorobenzene), 디클로로에탄(Dichloroethane) 중 어느 하나의 용매로 녹여 잉크젯 프린팅에 이용하는 것을 특징으로 하는 것을 특징으로 하는 트랜지스터 제조방법
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제5항에 있어서,도펀트층 형성단계에서 도펀트의 양은 0
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제5항에 있어서,상기 반도체층은 유기반도체, 금속산화물 반도체 및 탄소화합물 반도체 중 어느 하나로 이루어지는 것을 특징으로 하는 트랜지스터 제조방법
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제9항에 있어서,상기 유기반도체는 양쪽성 유기반도체, n형 유기반도체 및 p형 유기반도체 중 어느 하나로 이루어지며,상기 양쪽성 유기반도체는 PCBM([6,6]-phenyl-C61-butyric acid methyl ester), P(NDI2OD-T2) (Naphthalene-bis(dicarboximide) bithiophene), F8BT (poly[(9,9-di-n-octylfluorenyl-2,7-diyl)-alt-(benzo[2,1,3]thiadiazol-4,8-diyl)]), PFO (poly(9,9-dioctylfluorene)), DPPT-TT(diketopyrrolo-pyrrole-bithiophene) 및 PTVPhI-Eh (poly(thienylenevinylene-cophthalimide) functionalized with dodecyl at the imide nitrogen) 중 어느하나로 선택되고,상기 n형 유기 반도체는 아센계 물질, 완전 불화된 아센계 물질, 부분 불화된 아센계 물질, 부분 불화된 올리고티오펜(oligothiophene)계 물질, 플러렌(fullerene)계 물질, 치환기를 갖는 플러렌계 물질, 완전 불화된 프탈로시아닌(phthalocyanine)계 물질, 부분 불화된 프탈로시아닌계 물질, 페릴렌 테트라카르복실릭 디이미드(perylene tetracarboxylic diimide)계 물질, 페릴렌 테트라카르복실 디안하이드라이드(perylene tetracarboxylic dianhydride)계 물질, 나프탈렌 테트라카르복실릭 디이미드(naphthalene tetracarboxylic diimide)계 물질 및 나프탈렌 테트라카르복실릭 디안하이드라이드(naphthalene tetracarboxylic dianhydride)계 물질 중에서 어느 하나로 선택되며,상기 p형 유기반도체는 아센(acene), 폴리-티에닐렌비닐렌(poly-thienylenevinylene), 폴리-3-헥실티오펜(poly-3-hexylthiophen), 알파-헥사티에닐렌(α-hexathienylene), 나프탈렌(naphthalene), 알파-6-티오펜(α-6-thiophene), 알파-4-티오펜 (α-4-thiophene), 루브렌(rubrene), 폴리티오펜(polythiophene), 폴리파라페닐렌비닐렌 (polyparaphenylenevinylene), 폴리파라페닐렌(polyparaphenylene), 폴리티오펜비닐렌(polythiophenevinylene), 폴리티오펜-헤테로고리방향족 공중합체(polythiophene-heterocyclicaromatic copolymer), 트리아릴아민(triarylamine) 중에서 어느하나로 선택되는 것을 특징으로 하는 트랜지스터 제조방법
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제9항에 있어서,상기 금속산화물 반도체는 아연산화물(ZnOx), 인듐산화물(InOx), 인듐갈륨아연산화물(IGZO), 인듐주석산화물(ITO) 산화물 중 어느 하나로 선택되는 것을 특징으로 하는 트랜지스터 제조방법
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제9항에 있어서,상기 탄소화합물 반도체는 반도체성 탄소나노튜브(CNT) 또는 그래핀(Graphene) 나노리본으로부터 선택되는 트랜지스터 제조방법
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