맞춤기술찾기

이전대상기술

형광수명 분석 시스템 및 그 분석 방법(SYSTEM FOR ANALYZING FLUORESCENCE LIFETIME AND ANALYSIS METHOD OF FLUORESCENCE LIFETIME USING THE SAME)

  • 기술번호 : KST2016006418
  • 담당센터 : 서울서부기술혁신센터
  • 전화번호 : 02-6124-6930
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명의 일실시예에 따른 형광수명 분석 시스템은 레이저 광원; 상기 레이저 광원의 조사광이 입사되어 경로 변환되는 다이크로익 필터; 상기 다이크로익 필터로부터 도출된 조사광을 반사시키는 미러 스캐너; 시료를 거치하고 상기 미러 스캐너로부터 반사된 조사광이 입사되는 시료 거치대; 상기 시료로부터 상기 미러 스캐너와 다이크로익 필터를 거쳐 도출되는 형광신호를 전기 신호로 전이하는 PMT(photo-multiplier tube); 상기 PMT로부터 받은 전기신호를 형광신호로 복원하기 위한 GLPF(Gaussian Lowpass Filter filter); 상기 GLPF로부터 받은 신호를 증폭하는 증폭기; 상기 증폭기에서 처리된 형광신호를 디지털화하는 디지타이저(Digitizer); 및 상기 디지타이저에 연결되어 형광수명을 연산 분석하는 연산제어부;를 포함한다.
Int. CL G01N 21/64 (2006.01) G01N 21/01 (2006.01) G01N 33/48 (2006.01)
CPC G01N 21/6402(2013.01) G01N 21/6402(2013.01) G01N 21/6402(2013.01)
출원번호/일자 1020140096428 (2014.07.29)
출원인 연세대학교 산학협력단
등록번호/일자
공개번호/일자 10-2016-0014340 (2016.02.11) 문서열기
공고번호/일자
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 거절
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2014.07.29)
심사청구항수 8

출원인

번호, 이름, 국적, 주소의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 인명정보 - 출원인 표입니다.
번호 이름 국적 주소
1 연세대학교 산학협력단 대한민국 서울특별시 서대문구

발명자

번호, 이름, 국적, 주소의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 인명정보 - 발명자 표입니다.
번호 이름 국적 주소
1 김덕영 대한민국 서울특별시 서대문구
2 송영식 대한민국 서대문구

대리인

번호, 이름, 국적, 주소의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 인명정보 - 대리인 표입니다.
번호 이름 국적 주소
1 특허법인충현 대한민국 서울특별시 서초구 동산로 **, *층(양재동, 베델회관)

최종권리자

번호, 이름, 국적, 주소의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 인명정보 - 최종권리자 표입니다.
번호 이름 국적 주소
최종권리자 정보가 없습니다
번호, 서류명, 접수/발송일자, 처리상태, 접수/발송일자의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 행정처리 표입니다.
번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2014.07.29 수리 (Accepted) 1-1-2014-0717140-87
2 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2014.09.25 수리 (Accepted) 4-1-2014-5114224-78
3 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2015.01.15 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
4 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2015.03.13 수리 (Accepted) 9-1-2015-0016410-00
5 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2016.01.12 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2016-0028516-94
6 [지정기간연장]기간연장(단축, 경과구제)신청서
[Designated Period Extension] Application of Period Extension(Reduction, Progress relief)
2016.03.11 수리 (Accepted) 1-1-2016-0235750-14
7 [지정기간연장]기간연장(단축, 경과구제)신청서
[Designated Period Extension] Application of Period Extension(Reduction, Progress relief)
2016.04.12 수리 (Accepted) 1-1-2016-0350109-98
8 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2016.05.11 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2016-0447417-97
9 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2016.05.11 수리 (Accepted) 1-1-2016-0447410-78
10 거절결정서
Decision to Refuse a Patent
2016.09.05 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2016-0639981-65
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
레이저 광원; 상기 레이저 광원의 조사광이 입사되어 경로 변환되는 다이크로익 필터; 상기 다이크로익 필터로부터 도출된 조사광을 반사시키는 미러 스캐너; 시료를 거치하고 상기 미러 스캐너로부터 반사된 조사광이 입사되는 시료 거치대; 상기 시료로부터 상기 미러 스캐너와 다이크로익 필터를 거쳐 도출되는 형광신호를 전기 신호로 전이하는 PMT(photo-multiplier tube); 상기 PMT로부터 받은 전기신호를 형광신호로 복원하기 위한 GLPF(Gaussian Lowpass Filter filter); 상기 GLPF로부터 받은 신호를 증폭하는 증폭기; 상기 증폭기에서 처리된 형광신호를 디지털화하는 디지타이저(Digitizer); 및 상기 디지타이저에 연결되어 형광수명을 연산 분석하는 연산제어부; 를 포함하는 형광수명 분석 시스템
2 2
제 1 항에 있어서, 상기 레이저 광원과 다이크로익 필터 사이에 싱글모드 광섬유(single mode fiber) 및 제 1 콜리메이트(collimator) 및 제 1 필터를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 형광수명 분석 시스템
3 3
제 2 항에 있어서, 상기 제 1 필터는 SPF(Short Pass Filter)를 포함하는 것을 특징으로 하는 형광수명 분석 시스템
4 4
(A) 시료 거치대의 시료에 광원의 여기광을 조사(照射)하는 단계; (B) 연산 제어부가 상기 시료로부터 발생하는 다수의 형광신호가 결합한 다중 형광신호를 디지타이저를 거쳐 수집하는 단계; (C) 상기 연산 제어부가 수집된 다중 형광신호에 대해 레퍼런스 형광수명값을 이용하여 FRET 현상으로 발생한 형광신호인지 여부를 판단하는 단계; (D1) 상기 레퍼런스 형광수명값이 검출되지 않음에 따라, 상기 연산 제어부는 다수의 형광수명조건에 따라 평균 형광수명을 연산하는 단계; 및 (E) 상기 연산한 형광수명 정보를 이용하여 분자량을 검출하는 단계; 를 포함하는 형광수명 분석 방법
5 5
(A) 시료 거치대의 시료에 광원의 여기광을 조사(照射)하는 단계; (B) 연산 제어부가 상기 시료로부터 발생하는 다수의 형광신호가 결합한 다중 형광신호를 디지타이저를 거쳐 수집하는 단계; (C) 상기 연산 제어부가 수집된 다중 형광신호에 대해 레퍼런스 형광수명값을 이용하여 FRET 현상으로 발생한 형광신호인지 여부를 판단하는 단계; (D2) 상기 레퍼런스 형광수명값이 검출됨에 따라, 상기 연산 제어부는 상기 레퍼런스 형광수명값을 FRET 발생군의 형광수명값으로 연산하는 단계; 및 (E) 상기 연산한 형광수명 정보를 이용하여 분자량을 검출하는 단계; 를 포함하는 형광수명 분석 방법
6 6
제 4 항 또는 제 5 항에 있어서, 상기 (C) 단계에서 상기 레퍼런스 형광수명값은 제 1 형광물질의 형광 신호(ie1), 제 2 형광물질의 형광 신호(ie2) 및 임펄스 응답 함수(iirf(t))의 더블 컨볼루션(double convolution) 계산값을 포함하는 것을 특징으로 하는 형광수명 분석 방법
7 7
제 4 항에 있어서, 상기 (D1) 단계에서 다수의 형광수명조건은 제 1 형광물질의 형광 신호(ie1)와 제 2 형광물질의 형광 신호(ie2)의 선형결합을 포함하고, 상기 평균 형광수명은 상기 선형결합에 따른 평균 형광수명값을 포함하는 것을 특징으로 하는 형광수명 분석 방법
8 8
제 7 항에 있어서, 상기 선형결합에 따른 평균 형광수명값은 상기 제 1 형광물질과 제 2 형광물질이 α:β의 비율로 존재하는 조건에서 상기 제 1 형광물질의 형광수명(τ1)과 제 2 형광물질의 형광수명(τ2)을 이용하여, (α·τ1 +β·τ2)/2로 연산하여 구하는 것을 특징으로 하는 형광수명 분석 방법
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
국가 R&D 정보가 없습니다.