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다중 뇌파 측정 장치 및 방법(MULTIPLE EEG MEASURING DEVICE AND METHOD)

  • 기술번호 : KST2016006588
  • 담당센터 : 경기기술혁신센터
  • 전화번호 : 031-8006-1570
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 다중 뇌파 측정 장치 및 방법이 제공된다. 본 발명의 실시예에 따른 다중 뇌파 측정 장치는, 다수의 측정 부위에 위치한 뇌파 전극들, 뇌파 전극들과 분리된 상태로 뇌파 전극들에서 출력되는 뇌파 신호들을 각각 신호처리하는 신호처리부들 및 신호처리부들에서 신호처리된 뇌파 신호들을 분석하는 컨트롤러를 포함한다. 이에 의해, 뇌파 신호의 증폭과 필터링을 뇌파 전극과 분리된 신호처리부에서 수행하여, 뇌파 전극 측의 부피와 무게를 줄일 수 있게 된다.
Int. CL A61B 5/0478 (2006.01.01) A61B 5/00 (2006.01.01)
CPC A61B 5/0478(2013.01) A61B 5/0478(2013.01) A61B 5/0478(2013.01)
출원번호/일자 1020140099114 (2014.08.01)
출원인 전자부품연구원
등록번호/일자 10-2039752-0000 (2019.10.28)
공개번호/일자 10-2016-0017248 (2016.02.16) 문서열기
공고번호/일자 (20191104) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 등록
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2017.10.19)
심사청구항수 4

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한국전자기술연구원 대한민국 경기도 성남시 분당구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 김영환 대한민국 경기도 용인시 수지구
2 임채영 대한민국 경기도 평택시

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 남충우 대한민국 서울 강남구 언주로 ***, *층(역삼동, 광진빌딩)(알렉스국제특허법률사무소)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 한국전자기술연구원 대한민국 경기도 성남시 분당구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2014.08.01 수리 (Accepted) 1-1-2014-0732193-93
2 [심사청구]심사청구(우선심사신청)서
[Request for Examination] Request for Examination (Request for Preferential Examination)
2017.10.19 수리 (Accepted) 1-1-2017-1031886-54
3 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2019.04.16 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2019-0275398-22
4 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2019.06.17 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2019-0614810-15
5 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2019.06.17 수리 (Accepted) 1-1-2019-0614787-41
6 거절결정서
Decision to Refuse a Patent
2019.08.14 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2019-0585778-17
7 [명세서등 보정]보정서(재심사)
Amendment to Description, etc(Reexamination)
2019.09.16 보정승인 (Acceptance of amendment) 1-1-2019-0943168-27
8 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2019.09.16 수리 (Accepted) 1-1-2019-0943096-38
9 등록결정서
Decision to Grant Registration
2019.10.08 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2019-0727276-96
10 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2020.08.24 수리 (Accepted) 4-1-2020-5189497-57
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번호 청구항
1 1
제1 측정 부위에 위치한 제1 건식 뇌파 전극; 제2 측정 부위에 위치한 제2 건식 뇌파 전극;제3 측정 부위에 위치한 제3 건식 뇌파 전극;상기 제1 건식 뇌파 전극과 구분되어 있으며, 상기 제1 건식 뇌파 전극에서 출력되는 제1 뇌파 신호를 신호처리하는 제1 신호처리부;상기 제2 건식 뇌파 전극과 구분되어 있으며, 상기 제2 건식 뇌파 전극에서 출력되는 제2 뇌파 신호를 신호처리하는 제2 신호처리부;상기 제3 건식 뇌파 전극과 구분되어 있으며, 상기 제3 건식 뇌파 전극에서 출력되는 제3 뇌파 신호를 신호처리하는 제3 신호처리부; 및상기 제1 신호처리부에서 신호처리된 제1 뇌파 신호, 상기 제2 신호처리부에서 신호처리된 제2 뇌파 신호 및 상기 제3 신호처리부에서 신호처리된 제3 뇌파 신호를 분석하는 컨트롤러;를 포함하고,제1 신호처리부는,상기 제1 건식 뇌파 전극과 구분된 별개의 모듈로 구현되며,제2 신호처리부는,상기 제2 건식 뇌파 전극과 구분된 별개의 모듈로 구현되고,제3 신호처리부는,상기 제3 건식 뇌파 전극과 구분된 별개의 모듈로 구현되며,상기 컨트롤러는,상기 제2 뇌파 신호와 상기 제3 뇌파 신호를 참조하여 상기 제1 뇌파 신호와 겹치는 부분을 노이즈로 제거하고, 의사 노이즈를 부가하여 복수 개의 제1 뇌파 신호들을 생성하며,상기 제3 뇌파 신호와 상기 제1 뇌파 신호를 참조하여 상기 제2 뇌파 신호와 겹치는 부분을 노이즈로 제거하고, 의사 노이즈를 부가하여 복수 개의 제2 뇌파 신호들을 생성하며,상기 제1 뇌파 신호와 상기 제2 뇌파 신호를 참조하여 상기 제3 뇌파 신호와 겹치는 부분을 노이즈로 제거하고, 의사 노이즈를 부가하여 복수 개의 제3 뇌파 신호들을 생성하며,의사 노이즈가 부가된 복수개의 제1 뇌파 신호들, 제2 뇌파 신호들 및 제3 뇌파 신호들을 분석하여 환자의 상태를 판별하는 것을 특징으로 하는 뇌파 측정 장치
2 2
제 1항에 있어서,상기 제1 건식 뇌파 전극은, 제1 뇌파 신호를 차동 신호로 생성하여 출력하고,상기 제2 건식 뇌파 전극은, 제2 뇌파 신호를 차동 신호로 생성하여 출력하는 뇌파 측정 장치
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제 1항에 있어서,상기 제1 신호처리부는, 상기 제1 뇌파 신호를 증폭하고 필터링하여, 상기 컨트롤러로 전달하고,상기 제2 신호처리부는, 상기 제2 뇌파 신호를 증폭하고 필터링하여, 상기 컨트롤러로 전달하는 뇌파 측정 장치
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삭제
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삭제
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제1 건식 뇌파 전극이, 제1 측정 부위에서 뇌파를 측정하여 제1 뇌파 신호를 생성하는 단계; 상기 제1 건식 뇌파 전극과 구분되어 있는 제1 신호처리부가, 상기 제1 뇌파 신호를 신호처리하는 단계; 제2 건식 뇌파 전극이, 제2 측정 부위에서 뇌파를 측정하여 제2 뇌파 신호를 생성하는 단계; 상기 제2 건식 뇌파 전극과 구분되어 있는 제2 신호처리부가, 상기 제2 뇌파 신호를 신호처리하는 단계; 제3 건식 뇌파 전극이, 제3 측정 부위에서 뇌파를 측정하여 제3 뇌파 신호를 생성하는 단계; 상기 제3 건식 뇌파 전극과 구분되어 있는 제3 신호처리부가, 상기 제3 뇌파 신호를 신호처리하는 단계; 및 신호처리된 제1 뇌파 신호, 신호처리된 제2 뇌파 신호 및 신호처리된 제3 뇌파 신호를 분석하는 단계;를 포함하고,제1 신호처리부는,상기 제1 건식 뇌파 전극과 구분된 별개의 모듈로 구현되며,제2 신호처리부는,상기 제2 건식 뇌파 전극과 구분된 별개의 모듈로 구현되고,제3 신호처리부는,상기 제3 건식 뇌파 전극과 구분된 별개의 모듈로 구현되고,상기 분석 단계는,상기 제2 뇌파 신호와 상기 제3 뇌파 신호를 참조하여 상기 제1 뇌파 신호와 겹치는 부분을 노이즈로 제거하고, 의사 노이즈를 부가하여 복수 개의 제1 뇌파 신호들을 생성하는 단계;상기 제3 뇌파 신호와 상기 제1 뇌파 신호를 참조하여 상기 제2 뇌파 신호와 겹치는 부분을 노이즈로 제거하고, 의사 노이즈를 부가하여 복수 개의 제2 뇌파 신호들을 생성 하는 단계;상기 제1 뇌파 신호와 상기 제2 뇌파 신호를 참조하여 상기 제3 뇌파 신호와 겹치는 부분을 노이즈로 제거하고, 의사 노이즈를 부가하여 복수 개의 제3 뇌파 신호들을 생성 하는 단계;의사 노이즈가 부가된 복수개의 제1 뇌파 신호들, 제2 뇌파 신호들 및 제3 뇌파 신호들을 분석하여 환자의 상태를 판별하는 단계;를 포함하는 것을 특징으로 하는 뇌파 측정 방법
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
순번, 연구부처, 주관기관, 연구사업, 연구과제의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 국가R&D 연구정보 정보 표입니다.
순번 연구부처 주관기관 연구사업 연구과제
1 서울특별시 세종대학교 산학협력단 서울전략산업 지원사업 휴대용 뇌파 측정 및 조절기기 개발