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패턴 인식을 이용한 평판 구조물의 결함 위치 탐지 방법 및 그 장치(METHOD FOR LOCALIZING ACOUSTIC EMISSION SOURCE IN PLATE-LIKE STRUCTURES USING PATTERN RECOGNITION)

  • 기술번호 : KST2016007727
  • 담당센터 : 대전기술혁신센터
  • 전화번호 : 042-610-2279
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 측정 대상이 되는 평판 구조물에 복수의 AE 센서를 부착하고, 평판 구조물의 결함에 의해 발생하는 탄성파를 상기 복수의 AE 센서로 검출하며, 복수의 AE 센서가 상기 탄성파를 검출한 시간차를 특징값으로 하는 특징벡터를 생성하고, 특징벡터와, LS-SVM 알고리즘을 이용하여 미리 학습된 패턴 인식 모델로부터 평판 구조물의 결함 위치를 추정하는 평판 구조물의 결함 위치 탐지 방법에 관한 것이다.
Int. CL G01H 11/00 (2006.01) G01N 29/14 (2006.01)
CPC G01N 29/14(2013.01) G01N 29/14(2013.01)
출원번호/일자 1020140118293 (2014.09.05)
출원인 국방과학연구소
등록번호/일자
공개번호/일자 10-2016-0029252 (2016.03.15) 문서열기
공고번호/일자 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 등록
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2014.09.05)
심사청구항수 5

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 국방과학연구소 대한민국 대전광역시 유성구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 김광로 대한민국 대전광역시 서구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 한양특허법인 대한민국 서울특별시 강남구 논현로**길 **, 한양빌딩 (도곡동)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 국방과학연구소 대전광역시 유성구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2014.09.05 수리 (Accepted) 1-1-2014-0851047-48
2 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2015.12.08 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
3 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2016.03.01 수리 (Accepted) 9-1-2016-0010422-42
4 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2016.03.10 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2016-0182369-46
5 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2016.05.04 수리 (Accepted) 1-1-2016-0430959-23
6 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2016.05.04 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2016-0430964-52
7 등록결정서
Decision to grant
2016.07.28 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2016-0545366-79
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
측정 대상이 되는 평판 구조물에 복수의 AE(Acoustic Emission) 센서를 부착시키는 단계;상기 평판 구조물의 결함에 의해 발생하는 탄성파를 상기 복수의 AE 센서로 검출하는 단계;상기 탄성파가 상기 결함의 발생원으로부터 상기 평판 구조물을 따라 전파되어 상기 복수의 AE 센서에 도달하는데 소요되는 시간의 차이값(Δt)을 상기 탄성파 신호의 특징값으로 추출하여 특징벡터를 생성하는 단계;상기 특징벡터와, LS-SVM 알고리즘을 이용하여 미리 학습된 패턴 인식 모델로부터 상기 평판 구조물의 결함 위치를 추정하는 단계로 이루어지는 평판 구조물의 결함 위치 탐지 방법
2 2
평판 구조물의 결함 위치 탐지를 위한 패턴 인식 모델의 구축 방법에 있어서,측정 대상이 되는 평판 구조물의 표면에 복수의 AE 센서를 부착시키는 단계;상기 평판 구조물의 결함을 시뮬레이션하기 위해, 상기 평판 구조물 상의 소정의 위치에서 탄성파를 발생시키는 단계;상기 복수의 AE 센서가 상기 탄성파를 감지하는 단계;상기 복수의 AE 센서가 감지한 탄성파 신호를 처리하는 단계;상기 탄성파의 발생원으로부터 상기 탄성파가 상기 평판 구조물을 따라 전파되어 상기 복수의 AE 센서의 각각에 도달하는데 소요되는 시간의 차이값(Δt)을 특징값으로 추출하여 특징벡터를 생성하는 단계;상기 특징벡터와 최소 자승법을 이용한 서포트 벡터 머신(Least Square-Support Vector Machine, LS-SVM) 알고리즘을 이용하여, 서포트 벡터를 결정하는 단계;상기 복수의 AE 센서가 상기 탄성파를 감지한 시간차와 이때의 상기 평판 구조물 상의 결함 위치로 이루어지는 데이터 세트를 이용하여 상기 시간차와 상기 평판 구조물 상의 결함 위치의 관계를 학습하는 단계;상기 학습을 통해 최적화된 패턴 인식 모델을 완성하는 단계를 특징으로 하는, 평판 구조물의 결함 위치 탐지를 위한 패턴 인식 모델의 구축 방법
3 3
청구항 2에 있어서,상기 탄성파는 연필심 파단에 의해 생성되는 것을 특징으로 하는, 평판 구조물의 결함 위치 탐지를 위한 패턴 인식 모델의 구축 방법
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청구항 2 또는 청구항 3에 있어서,상기 탄성파 신호를 처리하는 단계는,AE 센서가 검출한 탄성파 신호를 분석이 가능한 크기로 증폭시키고, 신호 필터를 이용하여 처리하는 단계;상기 처리된 탄성파 신호를 저장하는 단계;저장된 신호를 재생시키면서 텍스트 파일의 형태로 변환하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는, 평판 구조물의 결함 위치 탐지를 위한 패턴 인식 모델의 구축 방법
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청구항 2 또는 청구항 3에 있어서,상기 학습 단계는,패턴 인식 모델에 학습 데이터를 입력하는 단계;상기 결정된 서포트 벡터 정보와 상기 입력된 학습 데이터를 이용하여 결함 위치를 추정하는 단계;상기 학습 데이터에서 실제 탄성파가 생성된 위치와, 상기 결함 추정 위치와의 오차를 계산하는 단계;상기 오차가 소정값 이상인 경우에는, 상기 서포트 벡터를 결정하기 위한 LS-SVM 알고리즘의 매개 변수를 수정하고, 상기 오차가 소정값 미만인 경우에는 학습을 종료하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 , 평판 구조물의 결함 위치 탐지를 위한 패턴 인식 모델의 구축 방법
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