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다중 주파수 알에프 증폭기, 그것을 포함한 질량 분석기, 및 질량 분석기의 질량 분석 방법(MULTIPLE FREQUENCY RF AMPLIFIER, MASS SEECTROMETER COMPRISING THE SAME, AND METHOD FOR MASS SPECTROMETRY OF THE MASS SEECTROMETER)

  • 기술번호 : KST2016007892
  • 담당센터 : 대전기술혁신센터
  • 전화번호 : 042-610-2279
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 질량 분석기의 질량분석법에 관한 것이다. 본 발명의 질량 분석기는 이온 소스원으로 사용하는 전자를 발생하는 전자 발생기, 기준 파형 신호를 진폭과 주파수를 동시에 변조시켜 다중 주파수 알에프(RF) 전압 신호를 생성하는 다중 주파수 알에프 증폭기, 전자와 주입된 시료를 충돌시켜 생성된 이온 분자를 다중 주파수 알에프 전압 신호를 이용하여 질량에 따라 외부로 이탈시키는 이온 트랩, 이탈되는 이온을 검출하는 검출기, 및 검출된 이온을 질량 분석하는 데이터 분석기를 포함한다.
Int. CL H01J 3/00 (2006.01) H01J 27/16 (2006.01) H01J 49/26 (2006.01)
CPC H01J 49/26(2013.01) H01J 49/26(2013.01) H01J 49/26(2013.01) H01J 49/26(2013.01)
출원번호/일자 1020140120408 (2014.09.11)
출원인 한국기초과학지원연구원
등록번호/일자
공개번호/일자 10-2016-0031134 (2016.03.22) 문서열기
공고번호/일자
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 거절
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2014.09.11)
심사청구항수 6

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한국기초과학지원연구원 대한민국 대전광역시 유성구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 김승용 대한민국 대전광역시 유성구
2 양모 미국 대전광역시 유성구
3 김현식 대한민국 대전광역시 유성구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 특허법인 고려 대한민국 서울특별시 강남구 테헤란로 *길 ** *층(역삼동)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2014.09.11 수리 (Accepted) 1-1-2014-0862397-60
2 보정요구서
Request for Amendment
2014.09.27 발송처리완료 (Completion of Transmission) 1-5-2014-0165591-00
3 [출원서등 보정]보정서
[Amendment to Patent Application, etc.] Amendment
2014.10.07 수리 (Accepted) 1-1-2014-0956675-85
4 [대리인선임]대리인(대표자)에 관한 신고서
[Appointment of Agent] Report on Agent (Representative)
2015.04.28 수리 (Accepted) 1-1-2015-0413278-61
5 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2015.08.11 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
6 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2015.10.07 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-6-2015-0095066-32
7 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2015.11.19 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2015-0802408-71
8 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2016.01.19 수리 (Accepted) 1-1-2016-0060557-59
9 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2016.01.19 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2016-0060583-36
10 거절결정서
Decision to Refuse a Patent
2016.04.07 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2016-0256220-11
11 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2020.06.22 수리 (Accepted) 4-1-2020-5135881-88
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
기준 파형 신호를 진폭 및 주파수 변조하여 알에프(RF) 신호를 생성하는 파형 생성 회로;상기 알에프 신호를 구동 증폭하는 구동 증폭 회로; 및상기 구동 증폭된 알에프 신호를 전력 증폭을 통해 다중 주파수 알에프 전압 신호를 생성하고, 상기 다중 주파수 알에프 전압 신호를 질량 분석을 위한 이온 트랩으로 출력하는 전력 증폭 회로를 포함하는 다중 주파수 알에프 증폭기
2 2
제 1 항에 있어서,상기 전력 증폭된 다중 주파수 알에프 전압 신호의 파형을 정류하는 파형 정류 회로; 및상기 정류된 파형에 근거하여 상기 파형 생성 회로에서 출력되는 상기 알에프 신호의 파형을 보상하는 파형 보상 회로를 더 포함하는 다중 주파수 알에프 증폭기
3 3
제 1 항에 있어서,상기 파형 생성 회로는 상기 알에프 신호의 진폭을 증가시키고, 상기 알에프 신호의 주파수를 감소시켜 상기 질량 분석의 범위를 확장시키는 다중 주파수 알에프 증폭기
4 4
이온 소스원으로 사용하는 전자를 발생하는 전자 발생기;기준 파형 신호를 진폭과 주파수를 동시에 변조시켜 다중 주파수 알에프(RF) 전압 신호를 생성하는 다중 주파수 알에프 증폭기;상기 전자와 주입된 시료를 충돌시켜 생성된 이온 분자를 상기 다중 주파수 알에프 전압 신호를 이용하여 질량에 따라 외부로 이탈시키는 이온 트랩;상기 이탈되는 이온을 검출하는 검출기; 및상기 검출된 이온을 질량 분석하는 데이터 분석기를 포함하는 질량 분석기
5 5
제 4 항에 있어서,상기 다중 주파수 알에프 증폭기는:상기 진폭과 주파수를 동시에 변조하여 상기 기준 파형 신호로부터 알에프 신호를 생성하는 파형 생성 회로;상기 알에프 신호를 구동 증폭하는 구동 증폭 회로; 및상기 구동 증폭된 알에프 신호의 전력 증폭을 통해 다중 주파수 알에프 전압 신호를 생성하고, 상기 다중 주파수 알에프 전압 신호를 상기 이온 트랩으로 출력하는 전력 증폭 회로를 포함하는 질량 분석기
6 6
제 5 항에 있어서,상기 다중 주파수 알에프 증폭기는:상기 다중 주파수 알에프 전압 신호의 파형을 정류하는 파형 정류 회로; 및상기 정류된 파형에 근거하여 상기 파형 생성 회로에서 출력되는 상기 알에프 신호의 파형을 보상하는 파형 보상 회로를 더 포함하는 질량 분석기
7 7
제 5 항에 있어서,상기 파형 생성 회로는 상기 알에프 신호의 진폭을 증가시키고, 상기 알에프 신호의 주파수를 감소시켜 상기 질량 분석의 범위를 확장시킬 수 있는 질량분석법을 적용한 질량 분석기
8 8
질량 분석기의 질량 분석 방법에 있어서,이온 소스원으로 사용하는 전자를 발생하는 단계;이온 트랩 내부에서 상기 발생된 전자와 주입된 시료를 충돌시켜 이온 분자를 생성하는 단계;기준 파형 신호를 진폭과 주파수를 변조하여 다중 주파수 알에프(RF) 전압 신호를 생성하는 단계;상기 이온 분자를 상기 다중 주파수 알에프 전압 신호를 이용하여 질량에 따라 상기 이온 트랩 외부로 이탈시키는 단계;상기 이탈되는 이온을 검출하는 단계; 및상기 검출된 이온을 질량 분석하는 단계를 더 포함하는 질량 분석 방법
9 9
제 8 항에 있어서,상기 다중 주파수 알에프 전압 신호를 생성하는 단계는:기준 파형 신호를 진폭 및 주파수 변조하여 알에프 신호를 생성하는 단계;상기 알에프 신호를 구동 증폭하는 단계; 및상기 구동 증폭된 알에프 신호를 전력 증폭시켜 상기 다중 주파수 알에프 전압 신호를 생성하고, 상기 다중 주파수 알에프 전압 신호를 상기 이온 트랩으로 출력하는 단계를 더 포함하는 질량 분석 방법
10 10
제 9 항에 있어서,상기 알에프 신호를 생성하는 단계는:상기 진폭 변조를 통해 알에프 신호의 진폭을 증가시키는 단계; 및상기 주파수 변조를 통해 알에프 신호의 주파수를 감소시키는 단계를 포함하고,상기 진폭의 증가와 상기 주파수 감소를 통해 상기 질량 분석의 범위를 확장하는 질량 분석 방법
11 11
제 9 항에 있어서,상기 다중 주파수 알에프 전압 신호를 생성하는 단계는:상기 다중 주파수 알에프 전압 신호의 파형을 정류하는 단계; 및상기 정류된 파형에 근거하여 상기 알에프 신호의 파형을 보상하는 단계를 더 포함하는 질량 분석 방법
지정국 정보가 없습니다
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1 US09443705 US 미국 FAMILY
2 US20160079046 US 미국 FAMILY

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1 US2016079046 US 미국 DOCDBFAMILY
2 US9443705 US 미국 DOCDBFAMILY
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순번 연구부처 주관기관 연구사업 연구과제
1 미래창조과학부 한국기초과학지원연구원 분석기술개발 연구 고감도 휴대용 유해가스 측정장치 개발