| 1 |
1
검출 물질에 광을 조사하는 발광부;상기 검출 물질에 의해 산란되는 광을 수집하는 수광부;상기 산란된 광의 정도에 대응하여 탁도를 검출하고, 검출된 탁도에 대응하여 상기 발광부의 광을 조절하거나 유지하는 제어 모듈;을 포함하는 것을 특징으로 하는 탁도 검출 장치
|
| 2 |
2
제1항에 있어서,상기 제어 모듈은상기 탁도 값이 지정된 조건 이하인 경우 상기 발광부의 현재 광량을 유지하거나, 지정된 크기 이상의 광량이 조사되도록 상기 발광부에 공급되는 구동 전류의 크기를 제어하는 것을 특징으로 하는 탁도 검출 장치
|
| 3 |
3
제1항에 있어서,상기 제어 모듈은상기 탁도 값이 지정된 조건 이상인 경우 상기 발광부의 현재 광량을 지정된 크기 이하의 광량이 조사되도록 상기 발광부에 공급되는 구동 전류의 크기를 제어하는 것을 특징으로 하는 탁도 검출 장치
|
| 4 |
4
제3항에 있어서,상기 지정된 조건은 40 NTU인 것을 특징으로 하는 탁도 검출 장치
|
| 5 |
5
제1항에 있어서,상기 발광부에서 조사된 광을 검출하는 검출부;를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 탁도 검출 장치
|
| 6 |
6
제5항에 있어서,상기 제어 모듈은상기 검출부가 검출한 광을 기준으로 상기 발광부의 광량을 균일하게 조사되도록 제어하는 것을 특징으로 하는 탁도 검출 장치
|
| 7 |
7
제1항에 있어서,상기 탁도 값을 표시하는 출력부;를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 탁도 검출 장치
|
| 8 |
8
제1항에 있어서,상기 탁도 값에 대응하여 상기 발광부의 광량을 조절하는 자동 모드 또는 광량을 수동으로 조절하는 수동 모드에 대응하는 입력 신호를 생성하는 입력부;를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 탁도 검출 장치
|
| 9 |
9
제1항에 있어서,상기 수광부 및 상기 검출 물질이 유입 배치되는 챔버;를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 탁도 검출 장치
|
| 10 |
10
발광부를 이용하여 검출 물질에 지정된 크기의 광량을 조사하는 과정;상기 검출 물질에 의해 산란된 광을 수광하는 과정;수광된 데이터를 기준으로 탁도를 검출하는 과정;상기 탁도 크기에 대응하여 상기 광량의 크기를 조절하거나 또는 유지하는 제어 과정;을 포함하는 것을 특징으로 하는 탁도 검출 방법
|
| 11 |
11
제10항에 있어서,상기 제어 과정은상기 탁도 값이 지정된 조건 이하인 경우 상기 발광부의 현재 광량을 유지하거나, 지정된 크기 이상의 광량이 조사되도록 상기 발광부에 공급되는 구동 전류의 크기를 제어하는 과정;상기 탁도 값이 지정된 조건 이상인 경우 상기 발광부의 현재 광량을 지정된 크기 이하의 광량이 조사되도록 상기 발광부에 공급되는 구동 전류의 크기를 제어하는 과정;을 포함하는 것을 특징으로 하는 탁도 검출 방법
|
| 12 |
12
제10항에 있어서,상기 발광부에서 조사된 광을 검출하는 과정;상기 검출부가 검출한 광을 기준으로 상기 발광부의 광량을 균일하게 조사되도록 제어하는 과정;을 더 포함하는 것을 특징으로 하는 탁도 검출 방법
|
