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반사방지층을 갖는 이미지 센서 및 그 제조 방법(Image sensor having anti-reflection layer and fabricating method thereof)

  • 기술번호 : KST2016008164
  • 담당센터 : 서울서부기술혁신센터
  • 전화번호 : 02-6124-6930
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 액티브 픽셀 어레이와 옵티컬 블랙 픽셀 어레이가 형성된 픽셀층; 상기 액티브 픽셀 어레이의 상부에 형성되고, 광 투과도가 높은 하프늄 산화막으로 구성된 제1 반사방지막; 및 상기 옵티컬 블랙 픽셀 어레이의 상부에 형성되고, 광 투과도가 낮은 하프늄 산화막으로 형성된 제2 반사방지막을 구비하는 이미지 센서를 제공한다.
Int. CL H01L 27/146 (2006.01.01)
CPC
출원번호/일자 1020140124295 (2014.09.18)
출원인 에스케이하이닉스 주식회사, 연세대학교 산학협력단
등록번호/일자
공개번호/일자 10-2016-0033436 (2016.03.28) 문서열기
공고번호/일자
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 등록
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2019.05.07)
심사청구항수 9

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 에스케이하이닉스 주식회사 대한민국 경기도 이천시
2 연세대학교 산학협력단 대한민국 서울특별시 서대문구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 김도환 대한민국 충청북도 청원군
2 손현철 대한민국 서울특별시 강남구
3 나희도 대한민국 서울특별시 서대문구
4 유경동 대한민국 서울특별시 송파구
5 김종채 대한민국 경기도 용인시 수지구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 이철희 대한민국 서울특별시 강남구 삼성로***길 *, ***호 가디언국제특허법률사무소 (삼성동, 우경빌딩)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2014.09.18 수리 (Accepted) 1-1-2014-0885566-63
2 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2014.11.28 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2014-1157537-42
3 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2015.04.27 수리 (Accepted) 4-1-2015-5055330-26
4 [심사청구]심사청구(우선심사신청)서
[Request for Examination] Request for Examination (Request for Preferential Examination)
2019.05.07 수리 (Accepted) 1-1-2019-0463226-52
5 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2020.09.02 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2020-0605676-31
6 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2020.10.19 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2020-1103804-36
7 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견서·답변서·소명서
2020.10.19 수리 (Accepted) 1-1-2020-1103802-45
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번호 청구항
1 1
액티브 픽셀 어레이와 옵티컬 블랙 픽셀 어레이가 형성된 픽셀층;상기 액티브 픽셀 어레이의 상부에 형성되고, 광 투과도가 높은 하프늄 산화막으로 구성된 제1 반사방지막; 및상기 옵티컬 블랙 픽셀 어레이의 상부에 형성되고, 광 투과도가 낮은 하프늄 산화막으로 형성된 제2 반사방지막을 구비하는 것을 특징으로 하는 이미지 센서
2 2
제1항에 있어서, 상기 제1 반사방지막을 구성하는 하프늄 산화막은 HfO2로 구성된 것을 특징으로 하는 이미지 센서
3 3
제1항에 있어서, 상기 제2 반사방지막을 구성하는 하프늄 산화막은 HfOx(x는 1 이하)로 구성된 것을 특징으로 하는 이미지 센서
4 4
제1항에 있어서,상기 제1 반사방지막과 상기 제2 반사방지막은 서로 인접하도록 형성된 것을 특징으로 하는 이미지 센서
5 5
제1항에 있어서, 상기 픽셀층의 하부에 내부에 배선들이 형성된 절연층이 형성되고, 제1 및 제2 반사방지막들 위에 가시광선을 통과시키는 칼라 필터층; 및외부로부터 입사되는 빛을 집광하는 마이크로 렌즈층이 순차적으로 적층된 것을 특징으로 하는 이미지 센서
6 6
제1항에 있어서, 상기 픽셀층과 제1 및 제2 반사방지막들 사이에 내부에 배선들이 형성된 절연층이 형성되고,상기 제1 및 제2 반사방지막들 위에,가시광선을 통과시키는 칼라 필터층; 및외부로부터 입사되는 빛을 집광하는 마이크로 렌즈층이 순차적으로 적층된 것을 특징으로 하는 이미지 센서
7 7
액티브 픽셀 어레이와 옵티컬 블랙 픽셀 어레이가 형성된 기판을 갖는 이미지 센서의 제조 방법에 있어서,(a) 상기 액티브 픽셀 어레이의 상부와 상기 옵티컬 블랙 픽셀 어레이의 상부에 실리콘 산화막을 형성하는 단계;(b) 상기 옵티컬 블랙 픽셀 어레이의 상부에 형성된 실리콘 산화막을 제거하는 단계;(c) 상기 옵티컬 블랙 픽셀 어레이의 상부와 상기 실리콘 산화막의 상부에 하프늄막을 형성하는 단계; 및(d) 상기 액티브 픽셀 어레이의 상부에는 광 투과도가 높은 하프늄 산화막을 형성하고, 상기 옵티컬 블랙 픽셀 어레이의 상부에는 광 투과도가 낮은 하프늄 산화막을 형성하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 이미지 센서의 제조 방법
8 8
제7항에 있어서, 상기 (d) 단계는,(d-1) 상기 하프늄막을 산화시키는 단계; 및(d-2) 상기 실리콘 물질을 제거하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 이미지 센서의 제조 방법
9 9
제7항에 있어서, 상기 하프늄막을 섭씨 300도 내지 450도에서 어닐링하여 상기 하프늄 산화막을 형성하는 것을 특징으로 하는 이미지 센서의 제조 방법
10 10
제7항에 있어서, 상기 하프늄막을 상온에서 30분 내지 150분 동안 방치하여 상기 하프늄 산화막을 형성하는 것을 특징으로 하는 이미지 센서의 제조 방법
지정국 정보가 없습니다
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1 CN105990380 CN 중국 FAMILY
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1 CN105990380 CN 중국 DOCDBFAMILY
2 CN105990380 CN 중국 DOCDBFAMILY
3 US9159754 US 미국 DOCDBFAMILY
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