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적외선 카메라; 및상기 적외선 카메라로 촬영한 적외선 영상에서 지평선에 가까운 적어도 하나의 후보 라인을 추출하고, 상기 후보 라인 각각에 대해 지평선 판단의 근거가 되는 잡음 지수 및 지평선 지수를 산출하고, 상기 잡음 지수 및 상기 지평선 지수를 근거로 종합 지수를 산출하여, 상기 종합 지수가 가장 높은 후보 라인을 지평선으로 판단하는 제어부;를 포함하되,상기 종합 지수는,상기 잡음 지수 및 상기 지평선 지수의 비율인 것을 특징으로 하는 지평선 추출 장치
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제1 항에 있어서,상기 적어도 하나의 후보 라인은,상기 적외선 영상에 대하여 에지를 추출한 에지 영상으로부터 추출되는 것을 특징으로 하는 지평선 추출 장치
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제1 항에 있어서,상기 잡음 지수는,자세 오차가 보정되어 산출되는 것을 특징으로 하는 지평선 추출 장치
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제1 항에 있어서,상기 잡음 지수는,상기 후보 라인의 잡음 정도를 나타내는 지수이되, 높을수록 잡음에 가깝고, 낮을수록 지평선에 가까움을 나타내는 것을 특징으로 하는 지평선 추출 장치
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제4 항에 있어서,상기 잡음 지수는,편평 지수, 대칭 지수 및 높이 지수의 곱인이고,상기 NF는 상기 편평 지수이고, 상기 NS는 상기 대칭 지수이고, 상기 NV는 상기 높이 지수인 것을 특징으로 하는 지평선 추출 장치
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제5 항에 있어서,상기 편평 지수는,상기 후보 라인의 편평한 정도를 나타내는 지수이되, 이고,상기 HISTO[·]는 상기 후보 라인을 구성하는 모든 픽셀 에 대하여 각도값을 구한 Histogram 값이고, 상기 Φ는 상기 적외선 카메라로부터 전달된 카메라 자세 오차인 롤 각도이고, 상기 HISTO[ang(Φ)]는 후보 라인을 구성하는 픽셀의 각도 성분 중에서 0인 성분인 것을 특징으로 하는 지평선 추출 장치
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제5 항에 있어서,상기 대칭 지수는,상기 후보 라인의 비대칭 정도를 나타내는 지수이되,이고,상기 HISTO[·]는 상기 후보 라인을 구성하는 모든 픽셀 에 대하여 각도값을 구한 Histogram 값이고, 상기 Φ는 상기 적외선 카메라로부터 전달된 카메라 자세 오차인 롤 각도이고, 상기 HISTO[ang(k+Φ)]는 후보 라인을 구성하는 픽셀의 각도 성분 중에서 k인 성분인 것을 특징으로 하는 지평선 추출 장치
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제5 항에 있어서,상기 높이 지수는상기 후보 라인의 높이 정도를 나타내는 지수이되,이고,상기 NV는 상기 후보 라인의 세로 크기이고, 상기 는 상기 후보 라인을 구성하는 모든 화소의 y 성분 중에서 가장 큰 값이고, 상기 는 각도 Φ에 대하여 선형 변환을 한 결과이되,인 것을 특징으로 하는 지평선 추출 장치
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제1 항에 있어서,상기 지평선 지수는,상기 후보 라인의 지평선 정도를 나타내는 지수이되,높을수록 지평선에 가깝고, 낮을수록 잡음에 가까움을 나타내는 것을 특징으로 하는 지평선 추출 장치
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제9 항에 있어서,상기 지평선 지수는,수평 길이 지수, 대조비 지수 및 균질성 지수의 곱인 이고,상기 SL은 상기 수평 길이 지수, 상기 SC는 상기 대조비 지수, 상기 SH는 상기 균질성 지수인 것을 특징으로 하는 지평선 추출 장치
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제10 항에 있어서,상기 수평 길이 지수는,상기 후보 라인의 수평 정도를 나타내는 지수이되,이고,상기 NH는 상기 적외선 영상의 수평 크기인 것을 특징으로 하는 지평선 추출 장치
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제10 항에 있어서,상기 대조비 지수는,상기 후보 라인의 하늘 영역과 산악 영역의 영상 대조 정도를 나타내는 지수이되,이고,상기 L은 상기 후보 라인 의 수평 길이이고, 상기 B는 상기 적외선 영상의 비트수인 것을 특징으로 하는 지평선 추출 장치
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제10 항에 있어서,상기 균질성 지수는,상기 후보 라인의 하늘 영역과 산악 영역의 균질 정도를 나타내는 지수이되,이고, 상기 L은 상기 후보 라인 의 수평 길이이고, 상기 B는 상기 적외선 영상의 비트수인 것을 특징으로 하는 지평선 추출 장치
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제1 항에 있어서,상기 종합 지수는,이고,상기 N은 상기 잡음 지수이고, 상기 S는 상기 지평선 지수인 것을 특징으로 하는 지평선 추출 장치
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지평선 추출 대상 조경을 적외선 촬영한 적외선 영상에서 지평선에 가까운 적어도 하나의 후보 라인을 추출하는 단계;상기 후보 라인 각각에 대해 지평선 판단의 근거가 되는 잡음 지수 및 지평선 지수를 산출하는 단계;상기 잡음 지수 및 상기 지평선 지수를 근거로 종합 지수를 산출하는 단계; 및상기 종합 지수가 가장 높은 후보 라인을 지평선으로 판단하는 단계;를 포함하되,상기 종합 지수를 산출하는 단계는,상기 잡음 지수 및 상기 지평선 지수의 비율로 상기 종합 지수를 산출하는 것을 특징으로 하는 지평선 추출 방법
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제15 항에 있어서,상기 잡음 지수 및 지평선 지수를 산출하는 단계는,상기 잡음 지수를 산출하는 단계; 및 상기 지평선 지수를 산출하는 단계;를 포함하는 것을 특징으로 하는 지평선 추출 방법
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제16 항에 있어서,상기 잡음 지수를 산출하는 단계는,편평 지수를 산출하는 단계;대칭 지수를 산출하는 단계; 및 높이 지수를 산출하는 단계;중 적어도 한 단계를 포함하되,상기 적어도 한 단계에서 산출된 결과들을 곱하여 상기 잡음 지수를 산출하는 단계;를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 지평선 추출 방법
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제16 항에 있어서,상기 지평선 지수를 산출하는 단계는,수평 길이 지수를 산출하는 단계;대조비 지수를 산출하는 단계; 및 균질성 지수를 산출하는 단계;중 적어도 한 단계를 포함하되,상기 적어도 한 단계에서 산출된 결과들을 곱하여 상기 지평선 지수를 산출하는 단계;를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 지평선 추출 방법
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적외선 카메라; 및상기 적외선 카메라로 촬영한 적외선 영상에서 지평선에 가까운 적어도 하나의 후보 라인을 추출하고, 상기 후보 라인 각각에 대해 잡음 정도를 나타내는 잡음 지수를 산출하고, 상기 잡음 지수를 근거로 상기 후보 라인의 지평선 여부를 판단하여, 판단 결과에 따라 지평선을 추출하는 제어부;를 포함하여,상기 잡음 정도로부터 지평선을 추출하되,상기 제어부는,상기 후보 라인의 지평선 정도를 나타내는 지평선 지수를 더 산출하되,상기 판단 결과에 따라 상기 지평선 지수를 반영하고, 상기 후보 라인 각각에 대한 상기 잡음 지수 및 상기 지평선 지수의 비율을 산출하여 상기 후보 라인의 지평선 여부를 판단하고, 상기 후보 라인 중 산출된 비율이 가장 높은 후보 라인을 지평선으로 추출하는 것을 특징으로 하는 지평선 추출 장치
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제19 항에 있어서,상기 제어부는,상기 후보 라인의 상기 잡음 지수가 낮을수록 지평선에 가깝다고 판단하는 것을 특징으로 하는 지평선 추출 장치
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제19 항에 있어서,상기 제어부는,상기 후보 라인의 상기 지평선 지수가 높을수록 지평선에 가깝다고 판단하는 것을 특징으로 하는 지평선 추출 장치
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