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입자빔 질량분석기 및 이를 이용한 입자 측정 방법(Particle Beam Mass Spectrometer and a method for Measuring a particle beam)

  • 기술번호 : KST2016010129
  • 담당센터 : 대전기술혁신센터
  • 전화번호 : 042-610-2279
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 입자빔 질량분석기 및 이를 이용한 입자 측정 방법에 관한 것으로서, 보다 상세하게는 가스 흐름(gas flow)에 의한 입자 빔을 집속하는 입자 집속유닛; 열전자를 가속하여 상기 입자 집속 유닛에 의해 집속된 입자 빔을 이온화시켜 하전 입자 빔을 형성하는 전자총; 상기 하전 입자빔을 운동 에너지 대 전하 비(kinetic energy to charge ratio)에 따라 굴절시키는 디플렉터; 및 굴절된 상기 하전 입자 빔에 의한 전류를 측정하는 감지부;를 포함하고, 상기 디플렉터는 굴절되기 전의 하전입자 빔의 진행 중심축을 기준으로 양측에 각각 적어도 하나이상 형성된 입자 빔 분리 전극을 포함하는 것을 특징으로 하는 입자 빔 질량 분석기에 관한 것이다.
Int. CL G01N 27/62 (2006.01) H01J 49/26 (2006.01) H01J 49/42 (2006.01)
CPC H01J 49/26(2013.01) H01J 49/26(2013.01) H01J 49/26(2013.01)
출원번호/일자 1020140148024 (2014.10.29)
출원인 한국표준과학연구원
등록번호/일자 10-1634231-0000 (2016.06.22)
공개번호/일자 10-2016-0052863 (2016.05.13) 문서열기
공고번호/일자 (20160629) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 등록
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2014.10.29)
심사청구항수 11

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한국표준과학연구원 대한민국 대전 유성구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 박창준 대한민국 세종특별자치시 금남면
2 한철수 대한민국 경기도 수원시 팔달구
3 안상정 대한민국 대전광역시 유성구
4 이규찬 대한민국 대전광역시 서구
5 윤석래 대한민국 서울특별시 송파구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 특허법인 공간 대한민국 대전광역시 서구 둔산서로 ***, *층(둔산 *동, 산업은행B/D)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 한국표준과학연구원 대한민국 대전 유성구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2014.10.29 수리 (Accepted) 1-1-2014-1039097-19
2 [대리인선임]대리인(대표자)에 관한 신고서
[Appointment of Agent] Report on Agent (Representative)
2014.12.22 수리 (Accepted) 1-1-2014-1244977-36
3 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2016.03.23 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2016-0217900-02
4 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2016.05.17 수리 (Accepted) 1-1-2016-0472400-08
5 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2016.05.17 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2016-0472386-45
6 등록결정서
Decision to grant
2016.06.20 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2016-0443868-17
7 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2018.12.27 수리 (Accepted) 4-1-2018-5266645-00
8 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2018.12.27 수리 (Accepted) 4-1-2018-5266627-88
9 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2018.12.27 수리 (Accepted) 4-1-2018-5266640-72
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번호 청구항
1 1
가스 흐름(gas flow)에 의한 입자 빔을 집속하는 입자 집속유닛; 열전자를 가속하여 상기 입자 집속 유닛에 의해 집속된 입자 빔을 이온화시켜 하전 입자 빔을 형성하는 전자총;상기 하전 입자빔을 운동 에너지 대 전하 비(kinetic energy to charge ratio)에 따라 굴절시키는 디플렉터; 및굴절된 상기 하전 입자 빔에 의한 전류를 측정하는 감지부;를 포함하고,상기 디플렉터는 굴절되기 전의 하전입자 빔의 진행 중심축을 기준으로 양측에 각각 적어도 하나이상 형성된 입자 빔 분리 전극을 포함하며, 상기 입자 빔 분리 전극의 각각에 걸어주는 전압에 의해 양으로 하전된 입자와 음으로 하전된 입자가 서로 분리되는 것을 특징으로 하는 입자 빔 질량 분석기(Particle Beam Mass Spectrometer)
2 2
제1항에 있어서,상기 각각의 입자빔 분리 전극은 플레이트형, 원통형, 구형, 타원형, 단면이 반구 또는 4반구의 형상인 막대형 중에서 선택되는 어느 하나의 형상인 것을 특징으로 하는 입자 빔 질량 분석기
3 3
제1항에 있어서,상기 각각의 입자 빔 분리 전극은 굴절되기전의 하전입자 빔의 진행 중심축을 기준으로 양측에 각각 적어도 2개 이상의 분리전극을 포함하는 것을 특징으로 하는 입자 빔 질량 분석기
4 4
제3항에 있어서,상기 각각의 입자 빔 분리 전극은 상부 분리전극 및 하부 분리전극으로 이루어짐으로써 4극(쿼드로폴) 형태를 가지며, 대각선으로 대향하는 위치에 형성된 분리전극의 극성이 각각 서로 동일한 것을 특징으로 하는 입자 빔 질량 분석기
5 5
제4항에 있어서,상기 각각의 입자 빔 분리 전극은 각각 단면이 4반구의 형상이며 길이방향으로 막대형태인 것을 특징으로 하는 입자 빔 질량 분석기
6 6
삭제
7 7
제1항에 있어서,상기 입자 빔 분리 전극에는 DC, 또는 DC와 RF의 조합된 신호를 분리전극에 인가하는 것을 특징으로 하는 입자 빔 질량 분석기
8 8
제1항에 있어서,상기 감지부는 1 내지 10의 패러데이컵을 포함하며, 상기 패러데이컵이 복수인 경우 각각의 패러데이컵은 크기가 서로 동일하거나 상이한 것을 특징으로 하는 입자 빔 질량 분석기
9 9
제7항에 있어서,상기 입자 빔 분리 전극에 걸어주는 전압은 DC전압으로서 시간에 따라 전압이 일정한 값을 가지거나 또는 시간에 따라 특정한 범위내에서 증가 또는 감소하거나, 증가하였다가 감소하거나, 또는 감소하였다가 증가하는 패턴 중 어느 하나의 신호를 전극에 인가하는 것을 특징으로 하는 입자 빔 질량 분석기
10 10
제1항에 있어서,상기 입자 집속유닛은 유닛의 본체에 외부로 기체가 유출될 수 있는 개구부가 형성된 것을 특징으로 하는 입자 빔 질량 분석기
11 11
제10항에 있어서,상기 개구부는 입자빔의 집속 방향을 따라 2개 이상 형성되는 것을 특징으로 하는 입자 빔 질량 분석기
12 12
제1항 내지 제5항, 제7항 내지 제11항 중 어느 한 항에 기재된 입자 빔 질량 분석기를 이용하여 입자의 크기 또는 입자의 밀도 정보를 얻어내는 방법
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순번 패밀리번호 국가코드 국가명 종류
1 US10283339 US 미국 FAMILY
2 US20180286655 US 미국 FAMILY
3 WO2016068507 WO 세계지적재산권기구(WIPO) FAMILY

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1 US10283339 US 미국 DOCDBFAMILY
2 US2018286655 US 미국 DOCDBFAMILY
3 WO2016068507 WO 세계지적재산권기구(WIPO) DOCDBFAMILY
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순번 연구부처 주관기관 연구사업 연구과제
1 미래창조과학부 한국표준과학연구원 기술선도형 히든챔피언 육성사업 실시간 오염입자 측정장치(PBMS) 기술사업화
2 미래창조과학부 한국표준과학연구원 융합실용화 사업 휴대용 유해 가스 측정장치의 시료주입장치 및 분석 SW 개발