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미세석회화 검출 장치 및 그 방법(APPARATUS OF DIAGNOSING MICRO-CALCIFICATION AND METHOD THEREOF)

  • 기술번호 : KST2016010391
  • 담당센터 : 부산기술혁신센터
  • 전화번호 : 051-606-6561
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 발명의 실시예에 따른 미세석회화 검출 장치는 객체를 향해 적어도 하나 이상의 에너지를 갖는 방사선 빔을 조사하는 방사선 광원; 상기 객체를 투과한 상기 방사선 빔을 검출하여 제1 촬영 영상을 획득하고 관심 영역을 검출하는 맘모그래피 검출부; 및 상기 관심 영역에 대해 제2 촬영 영상을 획득하는 광자 계수 검출기;를 포함한다.
Int. CL G01T 1/161 (2006.01) A61B 6/00 (2006.01) A61B 6/12 (2006.01)
CPC A61B 6/502(2013.01) A61B 6/502(2013.01) A61B 6/502(2013.01)
출원번호/일자 1020140155695 (2014.11.10)
출원인 한국전기연구원
등록번호/일자
공개번호/일자 10-2016-0056400 (2016.05.20) 문서열기
공고번호/일자
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 공개
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 N
심사청구항수 11

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한국전기연구원 대한민국 경상남도 창원시 성산구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 허두창 대한민국 경기도 성남시 분당구
2 배영민 대한민국 경기도 성남시 분당구
3 진승오 대한민국 경기도 안산시 상록구
4 최영욱 대한민국 경기도 안양시 동안구
5 최재구 대한민국 경기도 안산시 단원구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 특허법인충정 대한민국 서울특별시 강남구 역삼로***,*층(역삼동,성보역삼빌딩)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2014.11.10 수리 (Accepted) 1-1-2014-1081241-28
2 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2015.02.04 수리 (Accepted) 4-1-2015-0006987-25
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번호 청구항
1 1
객체를 향해 적어도 하나 이상의 에너지를 갖는 방사선 빔을 조사하는 방사선 광원;상기 객체를 투과한 상기 방사선 빔을 검출하여 제1 촬영 영상을 획득하고 관심 영역을 검출하는 맘모그래피 검출부; 및상기 관심 영역에 대해 제2 촬영 영상을 획득하는 광자 계수 검출기;를 포함하는 것을 특징으로 하는 미세석회화 검출 장치
2 2
제1항에 있어서,상기 광자 계수 검출기는 상기 병변 부위로 이동하기 위한 기계부를 포함하는 것을 특징으로 하는 미세석회화 검출 장치
3 3
제1항에 있어서,상기 광자 계수 검출기를 상기 병변 부위로 이동시키는 제어부를 포함하는 것을 특징으로 하는 미세석회화 검출 장치
4 4
제1항에 있어서,상기 방사선 빔의 크기를 조절하는 시준기를 포함하는 것을 특징으로 하는 미세석회화 검출 장치
5 5
제1항에 있어서,상기 맘모그래피 검출기에서 획득한 영상과 상기 광자 계수 검출기에서 획득한 영상을 융합하는 영상 판독부를 포함하는 것을 특징으로 하는 미세석회화 검출 장치
6 6
제1항에 있어서,상기 광자 계수 검출기의 픽셀 사이즈는 55μm × 55μm인 것을 특징으로 하는 미세석회화 검출 장치
7 7
객체를 향해 적어도 하나 이상의 에너지를 갖는 방사선 빔을 조사하는 단계;맘모그래피 검출기로 상기 객체의 제1 영상을 획득하고 관심 영역을 선정하는 단계; 및상기 관심 영역으로 광자 계수 검출기를 이동시킨 후 제2 영상을 획득하는 단계;를 포함하는 것을 특징으로 하는 미세석회화 검출 방법
8 8
제7항에 있어서,상기 제1 영상 및 제2 영상을 획득함에 있어서 조영제를 사용하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 미세석회화 검출 방법
9 9
제8항에 있어서,상기 조영제는 요오드(iodine)를 포함하는 것을 특징으로 하는 미세석회화 검출 방법
10 10
제7항에 있어서,상기 제1 영상의 획득 후, 시준기를 통해 상기 방사선 빔의 크기를 제어하는 단계;를 포함하는 것을 특징으로 하는 미세석회화 검출 방법
11 11
제7항에 있어서,상기 제1 영상과 제2 영상을 융합하는 단계;를 포함하는 것을 특징으로 하는 미세석회화 검출 방법
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
국가 R&D 정보가 없습니다.