맞춤기술찾기

홈으로 가기
맞춤기술찾기
이전대상기술
프린트하기

이전대상기술

동작 자동화 점화선 시험기(Ignition circuit tester with automated operation)

  • 기술번호 : KST2016010784
  • 담당센터 : 대전기술혁신센터
  • 전화번호 : 042-610-2279
상담신청 PDF 받기
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명의 일실시예에 따른 동작 자동화 점화선 시험기는, 다중 시험대상 중 하나의 시험 대상을 선택하는 경로 선택부; 선택된 시험 대상에 대하여 미리 설정되는 시험특성에 따라 다중 시험 모드별로 해당 시험 모드를 수행하는 다중 시험모드 설정부; 수행된 해당 시험모드별로 결과값을 계측하여 계측 정보를 생성하는 계측부; 및 상기 계측 정보에 따라 또는 상기 계측 정보와 미리 설정되는 기준값을 비교하여 시험 결과를 정상 또는 비정상으로 판단하는 판단부;를 포함하는 것을 특징으로 한다.본 발명에 따르면, 시험대상 선택기능 및/또는 시험모드 설정 기능을 최적 알고리듬 및 전자식 회로로 구현함으로써 점화선 시험기의 최적 자동화 설계가 가능하다.
Int. CL G01R 31/02 (2006.01)
CPC G01R 31/50(2013.01) G01R 31/50(2013.01) G01R 31/50(2013.01) G01R 31/50(2013.01)
출원번호/일자 1020140161405 (2014.11.19)
출원인 국방과학연구소
등록번호/일자 10-1625512-0000 (2016.05.24)
공개번호/일자 10-2016-0059656 (2016.05.27) 문서열기
공고번호/일자 (20160531) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 등록
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2014.11.19)
심사청구항수 5

출원인

번호, 이름, 국적, 주소의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 인명정보 - 출원인 표입니다.
번호 이름 국적 주소
1 국방과학연구소 대한민국 대전광역시 유성구

발명자

번호, 이름, 국적, 주소의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 인명정보 - 발명자 표입니다.
번호 이름 국적 주소
1 김병용 대한민국 대전광역시 유성구
2 배영석 대한민국 대전광역시 유성구

대리인

번호, 이름, 국적, 주소의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 인명정보 - 대리인 표입니다.
번호 이름 국적 주소
1 한양특허법인 대한민국 서울특별시 강남구 논현로**길 **, 한양빌딩 (도곡동)

최종권리자

번호, 이름, 국적, 주소의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 인명정보 - 최종권리자 표입니다.
번호 이름 국적 주소
1 국방과학연구소 대전광역시 유성구
번호, 서류명, 접수/발송일자, 처리상태, 접수/발송일자의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 행정처리 표입니다.
번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application		 2014.11.19 수리 (Accepted) 1-1-2014-1113429-00
2 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search		 2015.05.11 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
3 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search		 2015.07.17 수리 (Accepted) 9-1-2015-0048591-38
4 의견제출통지서
Notification of reason for refusal		 2015.10.13 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2015-0703919-45
5 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)		 2015.12.11 수리 (Accepted) 1-1-2015-1214931-34
6 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment		 2015.12.11 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2015-1214935-16
7 의견제출통지서
Notification of reason for refusal		 2016.01.06 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2016-0012431-93
8 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment		 2016.03.04 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2016-0213014-24
9 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)		 2016.03.04 수리 (Accepted) 1-1-2016-0213003-22
10 등록결정서
Decision to grant		 2016.05.23 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2016-0372917-13
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
다중 시험대상 중 하나의 시험 대상을 선택하는 경로 선택부;선택된 시험 대상에 대하여 미리 설정되는 시험특성에 따라 다중 시험 모드별로 해당 시험 모드를 수행하는 다중 시험모드 설정부; 수행된 해당 시험모드별로 결과값을 계측하여 계측 정보를 생성하는 계측부; 및 상기 계측 정보에 따라 또는 상기 계측 정보와 미리 설정되는 기준값을 비교하여 시험 결과를 정상 또는 비정상으로 판단하는 판단부;를 포함하며,상기 경로 선택부는, 상기 다중 시험 대상과 연결되는 다중 경로가 배치되는 다중 경로부; 및 미리 설정되는 다중 경로 선택 알고리즘에 따라 상기 다중 경로 중 하나의 경로를 선택하여 연결하는 다중 경로 선택 회로부;를 포함하는 것을 특징으로 하는 동작 자동화 점화선 시험기
2 2
삭제
3 3
제 1 항에 있어서,상기 다중 시험 모드 설정부는, 미리 설정되는 다중 시험 모드 설정 알고리즘에 따라 상기 다중 시험 모드 중 하나의 시험 모드를 선택하여 수행하는 다중 시험 모드 선택 회로부; 및수행된 시험 모드에 따른 결과값을 디지털 값으로 변환하는 A/D(Analog/Digital) 변환기;를 포함하는 것을 특징으로 하는 동작 자동화 점화선 시험기
4 4
삭제
5 5
제 1 항에 있어서,상기 다중 경로 선택 회로부는 다수의 스위칭 소자로 이루어지는 것을 특징으로 하는 동작 자동화 점화선 시험기
6 6
제 5 항에 있어서,상기 스위칭 소자는 FET(Field Effect Transistor), MOSFET(Metal Oxide Semiconductor FET), IGBT(Insulated Gate Bipolar Mode Transistor), TRIAC, SCR(Silicon Controlled Rectifier), 및 I
7 7
제 1 항에 있어서,상기 정상 또는 비정상을 램프로 표시하는 표시부;를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 동작 자동화 점화선 시험기
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
국가 R&D 정보가 없습니다.