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메모리 구동 주변 회로 검증시간을 단축하기 위한 임베디드 DDR 메모리를 이용한 검증 방법 및 시스템(Method and System for Verify using Embedded DDR Memory to Reduce the Proving Time for Memory Driving Peripheral circuit)

  • 기술번호 : KST2016011106
  • 담당센터 : 인천기술혁신센터
  • 전화번호 : 032-420-3580
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요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 메모리 구동 주변 회로 검증시간을 단축하기 위한 임베디드 DDR 메모리를 이용한 검증 방법 및 시스템이 제시된다. 본 발명에서 제안하는 메모리 구동 주변 회로 검증시간을 단축하기 위한 임베디드 DDR 메모리를 이용한 검증 방법은 입력 벡터를 미리 정해진 시스템의 형식에 맞는 신호의 형태로 변환하여 프로세스 영역에 전달하는 단계, 상기 전달된 입력 벡터를 프로그램 로직 영역에서 메모리 구동 주변회로의 형식에 맞는 신호의 형태로 변환하는 단계, 쓰기 동작 시 임베디드 메모리에 쓰여진 데이터와 상기 입력 벡터를 비교하고, 읽기 동작 시 상기 임베디드 메모리에 쓰여진 데이터와 주변장치 로직을 거쳐 나온 데이터를 비교하여 상기 메모리 구동 주변 회로를 검증하는 단계를 포함할 수 있다.
Int. CL G11C 29/10 (2015.01)
CPC G11C 29/10(2013.01) G11C 29/10(2013.01) G11C 29/10(2013.01) G11C 29/10(2013.01) G11C 29/10(2013.01) G11C 29/10(2013.01)
출원번호/일자 1020140166549 (2014.11.26)
출원인 인하대학교 산학협력단, 에스케이하이닉스 주식회사
등록번호/일자 10-1679477-0000 (2016.11.18)
공개번호/일자 10-2016-0063496 (2016.06.07) 문서열기
공고번호/일자 (20161125) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 등록
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2014.11.26)
심사청구항수 3

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 인하대학교 산학협력단 대한민국 인천광역시 미추홀구
2 에스케이하이닉스 주식회사 대한민국 경기도 이천시

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 강진구 대한민국 서울특별시 서초구
2 장해종 대한민국 인천광역시 서구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 양성보 대한민국 서울특별시 강남구 선릉로***길 ** (논현동) 삼성빌딩 *층(피앤티특허법률사무소)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 인하대학교 산학협력단 대한민국 인천광역시 미추홀구
2 에스케이하이닉스 주식회사 대한민국 경기도 이천시
번호, 서류명, 접수/발송일자, 처리상태, 접수/발송일자의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 행정처리 표입니다.
번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application		 2014.11.26 수리 (Accepted) 1-1-2014-1146763-07
2 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search		 2015.04.13 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
3 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2015.04.27 수리 (Accepted) 4-1-2015-5055330-26
4 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search		 2015.06.10 수리 (Accepted) 9-1-2015-0037929-19
5 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2015.07.22 수리 (Accepted) 4-1-2015-5098802-16
6 의견제출통지서
Notification of reason for refusal		 2016.02.15 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2016-0112100-19
7 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)		 2016.04.15 수리 (Accepted) 1-1-2016-0359779-12
8 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment		 2016.04.15 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2016-0359771-47
9 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2016.09.05 수리 (Accepted) 4-1-2016-5127132-49
10 거절결정서
Decision to Refuse a Patent		 2016.09.23 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2016-0681783-51
11 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)		 2016.10.14 수리 (Accepted) 1-1-2016-0997373-76
12 [명세서등 보정]보정서(재심사)
Amendment to Description, etc(Reexamination)		 2016.10.14 보정승인 (Acceptance of amendment) 1-1-2016-0997361-28
13 등록결정서
Decision to Grant Registration		 2016.11.11 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2016-0813647-68
14 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2018.03.02 수리 (Accepted) 4-1-2018-5036549-31
15 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2018.12.27 수리 (Accepted) 4-1-2018-5266647-91
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
임베디드 메모리를 이용한 검증 방법에 있어서, 입력 벡터를 미리 정해진 시스템의 형식에 맞는 신호의 형태로 변환하여 프로세스 영역에 전달하는 단계;상기 전달된 입력 벡터를 프로그램 로직 영역에서 메모리 구동 주변회로의 형식에 맞는 신호의 형태로 변환하는 단계; 및쓰기 동작 시 임베디드 메모리에 쓰여진 데이터와 상기 입력 벡터를 비교하고, 읽기 동작 시 상기 임베디드 메모리에 쓰여진 데이터와 주변장치 로직을 거쳐 나온 데이터를 비교하여 상기 메모리 구동 주변 회로를 검증하는 단계를 포함하고,복수의 종류의 입력 벡터가 제어 가능한 프로세서를 접목시킨 SoC 보드를 사용하여 구성된 상기 임베디드 메모리를 상기 메모리 구동 주변회로와 데이터를 주고 받고 상기 메모리 구동 주변회로를 검증하기 위한 메모리 셀로써 사용하고,상기 쓰기 동작 시 상기 프로세스 영역의 프로세서를 통해 전달된 입력 벡터의 정보들은 인터페이스 로직을 거쳐 메모리 구동 주변회로의 인터페이스의 입력인 CA 및 DQ 신호로 변경되어 전달되고, 출력으로 어드레스 정보와 데이터를 출력하고,상기 읽기 동작 시 상기 입력 벡터를 입력 받은 인터페이스 로직이 상기 임베디드 메모리의 데이터를 임시 메모리로 읽어 들이는 선행 동작을 수행한 후, 상기 메모리 구동 주변회로의 입력인 CA가 생성되고, 출력으로 어드레스를 상기 임시 메모리로 전달하면 읽어 들인 상기 임베디드 메모리의 데이터를 가져오고,상기 주변장치 로직과 상기 임베디드 메모리 사이에는 임시 저장 공간이 존재하고,상기 쓰기 동작 시에는 DQ를 통해 임시 메모리로 데이터가 전달되고, 상기 임시 메모리로 DQ가 전달된 후 연속적인 동작으로 데이터가 임베디드 메모리로 전달되고, 상기 읽기 동작 시에는 임베디드 메모리에 있던 데이터가 임시 메모리로 전달되고, 임시 메모리로부터 데이터를 읽어 들여 연속적인 동작으로 데이터가 DQ로 전달되는임베디드 메모리를 이용한 검증 방법
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삭제
3 3
제1항에 있어서, 상기 인터페이스 로직의 제어를 통해 상기 프로세서와 연동하여 상기 임베디드 메모리의 해당 어드레스에 상기 쓰기 동작을 수행하는 것을 특징으로 하는 임베디드 메모리를 이용한 검증 방법
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삭제
5 5
삭제
6 6
삭제
7 7
임베디드 메모리를 이용한 검증 시스템에 있어서, 미리 정해진 시스템의 형식에 맞는 신호의 형태로 변환된 입력 벡터를 전달 받는 프로세스 영역;상기 전달된 입력 벡터를 메모리 구동 주변회로의 형식에 맞는 신호의 형태로 변환하는 프로그램 로직 영역을 포함하고, 복수의 종류의 입력 벡터가 제어 가능한 프로세서를 접목시킨 SoC 보드를 사용하여 구성된 상기 임베디드 메모리를 상기 메모리 구동 주변회로와 데이터를 주고 받고 상기 메모리 구동 주변회로를 검증하기 위한 메모리 셀로써 사용하고상기 프로세스 영역은,쓰기 동작 시 임베디드 메모리에 쓰여진 데이터와 상기 입력 벡터를 비교하고, 읽기 동작 시 상기 임베디드 메모리에 쓰여진 데이터와 주변장치 로직을 거쳐 나온 데이터를 비교하여 상기 메모리 구동 주변회로를 검증하고,상기 쓰기 동작 시 상기 프로세스 영역의 프로세서를 통해 전달된 입력 벡터의 정보들은 인터페이스 로직을 거쳐 메모리 구동 주변회로의 인터페이스의 입력인 CA 및 DQ 신호로 변경되어 전달되고, 출력으로 어드레스 정보와 데이터를 출력하고,상기 읽기 동작 시 상기 입력 벡터를 입력 받은 인터페이스 로직이 상기 임베디드 메모리의 데이터를 임시 메모리로 읽어 들이는 선행 동작을 수행한 후, 상기 메모리 구동 주변회로의 입력인 CA가 생성되고, 출력으로 어드레스를 상기 임시 메모리로 전달하면 읽어 들인 상기 임베디드 메모리의 데이터를 가져오고,상기 주변장치 로직과 상기 임베디드 메모리 사이에는 임시 저장 공간이 존재하고,상기 쓰기 동작 시에는 DQ를 통해 임시 메모리로 데이터가 전달되고, 상기 임시 메모리로 DQ가 전달된 후 연속적인 동작으로 데이터가 임베디드 메모리로 전달되고, 상기 읽기 동작 시에는 임베디드 메모리에 있던 데이터가 임시 메모리로 전달되고, 임시 메모리로부터 데이터를 읽어 들여 연속적인 동작으로 데이터가 DQ로 전달되는 것을 특징으로 하는 임베디드 메모리를 이용한 검증 시스템
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
국가 R&D 정보가 없습니다.