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샘플링된 시료가 저장되는 시료 저장부;상기 시료 저장부로부터 시료를 제공받는 제1 공급부;소정의 시료 조건에서, 상기 시료 저장부로부터 시료를 제공받는 제2 공급부;상기 시료 저장부 내에 배치되고, 상기 제1 공급부에 시료를 액적으로 미립화시켜 제공하는 액적 분사부;상기 제2 공급부 하부에 배치되고, 시료를 가열하여 건조시키는 수송판;시료에 레이저빔을 조사하는 레이저부; 및시료에 레이저빔이 조사되어 발생한 플라즈마 빛의 스펙트럼을 계측하는 스펙트로미터를 포함하며,상기 제1 공급부로부터 제공되는 액적화된 시료에 레이저빔을 조사하여 시료 내의 오염물질을 분석하고,상기 소정의 시료 조건에서, 상기 제2 공급부로부터 시료가 제공되어 상기 수송판 상에 배치된 후 가열 건조된 시료에 레이저빔을 조사하여 시료 내의 오염물질을 분석하는, 액체 내 오염물질의 분석장치
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제1항에 있어서,상기 소정의 시료 조건은, 시료 내의 오염물질의 농도가 낮아 검출한계보다 낮게 검출되는 경우, 또는, 시료 내의 오염물질의 검출되는 정도가 기준 범위를 초과하는 경우인, 액체 내 오염물질 분석장치
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제1항에 있어서,상기 시료 저장부에 비활성 가스를 분사하는 메인 가스분사부를 더 포함하는, 액체 내 오염물질 분석장치
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제1항에 있어서,상기 제1 공급부 내의 시료에 비활성 가스를 분사하는 제1 가스분사부를 더 포함하는, 액체 내 오염물질 분석장치
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제1항에 있어서,상기 제1 공급부에는 시료를 수송하는 펌프를 더 포함하는, 액체 내 오염물질 분석장치
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제1항에 있어서,상기 시료 저장부에 시료가 저장되기 전에 시료를 필터링하는 멤브레인 필터를 더 포함하며,상기 멤브레인 필터는, 막 형상으로 형성되고, 표면에 시료를 필터링하는 필터공이 관통되어, 시료 내의 입자상 물질과 이온성 물질을 분리하는, 액체 내 오염물질 분석장치
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제1항에 있어서,상기 수송판의 적어도 일면은 친수성 처리된, 액체 내 오염물질 분석장치
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제1항에 있어서,상기 수송판은 회전 가능한 판 형상으로 형성되고, 상부면에 상기 제2 공급부로부터 제공된 시료가 배치되며, 상기 수송판이 회전함에 따라 시료가 레이저빔에 조사되도록 위치가 이동하는, 액체 내 오염물질 분석장치
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제1항에 있어서,상기 수송판은 소정의 길이를 갖는 판 형상으로 형성되고, 상부면에 상기 제2 공급부로부터 제공된 시료가 배치되며, 상기 수송판이 길이 방향을 따라 이동함에 따라 시료가 레이저빔에 조사되도록 위치가 이동하는, 액체 내 오염물질 분석장치
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제1항에 있어서,상기 수송판의 상부면에 시료가 배치되도록 함몰된 복수의 배치홀이 형성되는, 액체 내 오염물질 분석장치
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제1항에 있어서,상기 수송판의 내부 또는 하부에 설치되고, 상기 수송판 상에 배치된 시료에 열을 가하여 건조시키는 히팅부를 더 포함하는, 액체 내 오염물질 분석장치
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제1항에 있어서,상기 수송판 상에 배치된 시료에 비활성 가스를 분사하는 제2 가스분사부를 더 포함하는, 액체 내 오염물질 분석장치
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제1항의 액체 내 오염물질 분석장치를 이용하며,상기 제1 공급부로부터 제공되는 액적화된 시료에 레이저빔을 조사하여 시료 내의 오염물질을 분석하고,상기 소정의 시료 조건에서, 상기 제2 공급부로부터 시료가 제공되어 상기 수송판 상에 배치된 후 가열 건조된 시료에 레이저빔을 조사하여 시료 내의 오염물질을 분석하는, 액체 내 오염물질 분석방법
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제15항에 있어서,상기 소정의 시료 조건은, 시료 내의 오염물질의 농도가 낮아 검출한계보다 낮게 검출되는 경우, 또는, 시료 내의 오염물질의 검출되는 정도가 기준 범위를 초과하는 경우인, 액체 내 오염물질 분석방법
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제15항에 있어서,상기 시료 저장부에 저장된 시료에 비활성 가스를 분사하는, 액체 내 오염물질 분석방법
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제15항에 있어서,상기 제1 공급부내의 시료에 비활성 가스를 분사하는, 액체 내 오염물질 분석방법
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제15항에 있어서,상기 시료 저장부에 시료를 저장하기 전에, 막 형상으로 형성되고, 표면에 시료를 필터링하는 필터공이 관통된 멤브레인 필터를 사용하여, 시료 내의 입자상 물질과 이온성 물질을 분리하는, 액체 내 오염물질 분석방법
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제15항에 있어서,상기 수송판을 이동함에 따라 시료가 레이저빔에 조사되도록 위치가 이동하는, 액체 내 오염물질 분석방법
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제15항에 있어서,상기 수송판의 적어도 일면은 친수성 처리된, 액체 내 오염물질 분석방법
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제15항에 있어서,상기 수송판의 상부면에 시료가 배치되도록 함몰된 복수개의 배치홀이 형성되는, 액체 내 오염물질 분석방법
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제15항에 있어서,상기 수송판의 내부 또는 하부에 히팅부를 설치하여, 상기 수송판 상에 배치된 시료에 열을 가하여 건조시키는, 액체 내 오염물질 분석방법
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제15항에 있어서,상기 수송판 상에 배치된 시료에 비활성 가스를 분사하는, 액체 내 오염물질 분석방법
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