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세라믹 본체와 상기 세라믹 본체의 내부에 위치하는 내부 전극을 포함하는 소자부와,상기 세라믹 본체의 양측면을 각각 덮는 측면 전극과 상면 양측의 일부를 각각 덮는 상부 전극 및 하면 양측의 일부를 각각 덮는 하부 전극을 구비하는 제 1 외부 전극 및 제 2 외부 전극을 포함하는 외부 전극부 및 전기 절연성 물질로 형성되며, 상기 상부 전극을 포함하는 영역에 코팅되어 형성되는 나노 박막층을 포함하며,상기 나노 박막층은 상기 외부 전극부의 외면의 전체와, 상기 제 1 외부 전극 및 제 2 외부 전극 사이에서 노출되는 상기 세라믹 본체의 외면에 형성되며,상기 나노 박막층은 1 ~ 100nm의 두께로 형성되며,회로 기판의 전극 패드에 솔더링될 때, 상기 하부 전극에 코팅된 상기 나노 박막층이 제거되는 것을 특징으로 하는 나노 박막층을 구비하는 적층 세라믹 칩 부품
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제 1 항에 있어서,상기 나노 박막층은 원자층 증착법(Atomic Layer Deposition; ALD), 물리 기상 증착법(Physical Vapor Deposition; PVD) 또는 화학 기상 증착법(Chemical Vapor Deposition; CVD)에 의하여 형성되는 것을 특징으로 하는 나노 박막층을 구비하는 적층 세라믹 칩 부품
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제 1 항에 있어서,상기 나노 박막층은 Al2O3, HfO2, ZrO2, La2O3, SiO2, Ta2O5, Nb2O5, Y2O3, SrTiO3 및 BaTiO3로 이루어진 군에서 선택되는 어느 하나 또는 이들의 화합물을 포함하여 형성되는 것을 특징으로 하는 나노 박막층을 구비하는 적층 세라믹 칩 부품
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제 1 항에 있어서,상기 나노 박막층은 AlN 및 SiNx로 이루어진 군에서 선택되는 어느 하나 또는 이들의 화합물을 포함하여 형성되는 것을 특징으로 하는 나노 박막층을 구비하는 적층 세라믹 칩 부품
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제 1 항에 있어서,상기 외부 전극부는 은(Ag), 주석(Sn) 또는 니켈(Ni) 금속으로 형성되는 것을 특징으로 하는 나노 박막층을 구비하는 적층 세라믹 칩 부품
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제 1 항에 있어서,상기 적층 세라믹 칩 부품은 적층 세라믹 콘덴서(Multi-Layer Ceramic Capacitor), 적층형 칩 인덕터(Multi-Layer Chip Inductor), 적층형 파워 인덕터(Multi-Layer Power Inductor) 또는 적층형 칩 비드((Multi-Layer Chip Bead)인 것을 특징으로 하는 나노 박막층을 구비하는 적층 세라믹 칩 부품
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세라믹 본체와 상기 세라믹 본체의 내부에 위치하는 내부 전극을 포함하는 소자부와,상기 세라믹 본체의 양측면을 각각 덮는 측면 전극과 상면 양측의 일부를 각각 덮는 상부 전극 및 하면 양측의 일부를 각각 덮는 하부 전극을 구비하는 제 1 외부 전극 및 제 2 외부 전극을 포함하는 외부 전극부 및 전기 절연성 물질로 형성되며, 상기 상부 전극을 포함하는 영역에 코팅되어 형성되는 나노 박막층을 포함하며, 상기 나노 박막층을 원자층 증착 공정에 의하여 코팅하며,상기 나노 박막층은 Al2O3막으로 형성되며,상기 원자층 증착 공정은 증착 온도는 80 ~ 200℃이며,알루미늄 공급원은 TMA(Trimethyl Aluminum: Al(CH3)3)이며,상기 알루미늄 공급원을 0
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제 11 항에 있어서,상기 산소 공급원은 수증기, 산소, 오존 또는 산소플라즈마인 것을 특징으로 하는 나노 박막층을 구비하는 적층 세라믹 칩 부품 제조 방법
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제 11 항에 있어서,상기 나노 박막층은 상기 외부 전극부의 외면의 전체에 형성되는 것을 특징으로 하는 나노 박막층을 구비하는 적층 세라믹 칩 부품 제조 방법
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제 11 항에 있어서,상기 나노 박막층은 상기 제 1 외부 전극 및 제 2 외부 전극 사이에서 노출되는 상기 세라믹 본체의 외면에도 형성되는 것을 특징으로 하는 나노 박막층을 구비하는 적층 세라믹 칩 부품 제조 방법
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