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입력되는 하나의 신호로부터 연속적인 두 파형을 추출하는 연속 두개의 파형 추출부;상기 연속 두개의 파형 추출부로부터 출력되는 연속적인 두 파형들로부터 복수개의 파라메타들의 파라메타값들을 검출하는 파라메타값 검출부; 및상기 파라메타값 검출부에서 검출한 파라메타값들을 이용하여 아이 다이어그램을 예측하여 생성하는 아이 다이어그램 생성부;를 구비하고,상기 아이 다이어그램 생성부는 상기 연속적인 두 파형들에 대한 변화 시간에 대응하는 제1 및 제2 파라메타값들을 이용하여 아날로그 신호를 예측하고 상기 아날로그 신호를 이용하여 상기 아이 다이어그램을 생성하며,상기 파라메타값 검출부는 상기 연속적인 두 파형들 중 첫 번째 파형이 하강하고 나서 일정 시간이 지난 이후에 두 번째 파형이 상승하는 시간, 및 상기 첫 번째 파형이 하강한 이후에 0으로 유지되는 시간을 상기 제2 파라메타값들로 검출하는 것을 특징으로 하는 아이 다이어그램 예측 장치
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제1항에 있어서,상기 복수개의 파라메타들을 설정하여 상기 파라메타값 검출부로 전송하는 파라메타 설정부를 더 구비하는 것을 특징으로 하는 아이 다이어그램 예측 장치
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제2항에 있어서, 상기 파라메타 설정부는상기 연속적인 두 파형들 중 상기 첫번째 파형이 상승하거나 하강할 때에 발생하는 상기 제1 파라메타값들에 해당하는 파라메타들을 설정하는 내부 파라메타 설정부; 및상기 연속적인 두 파형들 중 상기 두번째 파형이 상승하거나 하강하기 전에 발생하는 상기 제2 파라메타값들에 해당하는 파라메타들을 설정하는 외부 파라메타 설정부를 구비하는 것을 특징으로 하는 아이 다이어그램 예측 장치
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제3항에 있어서,상기 내부 파라메타 설정부가 설정하는 파라메타들은 첫번째 파형에 있어서, 파형이 상승하기 시작하는 시작 시점, 상기 시작 시점에서 전압이 상승하기 시작하여 문턱 전압을 통과하기까지 걸리는 시간, 파형의 최대 전압에서 상기 문턱 전압까지 하강하는데 걸리는 시간, 파형이 끝나는 마지막 시점, 상기 최대 전압이 유지되는 시간을 포함하는 것을 특징으로 하는 아이 다이어그램 예측 장치
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삭제
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제1항에 있어서,외부에서 입력되는 신호를 버퍼링하여 상기 연속 두개의 파형 추출부로 전송하는 신호 수신부를 더 구비하는 것을 특징으로 하는 아이 다이어그램 예측 장치
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제1항에 있어서,상기 두 파형은 구형파로 구성된 것을 특징으로 하는 아이 다이어그램 예측 장치
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입력되는 하나의 신호로부터 연속적인 두 파형을 추출하는 단계;연속 두개의 파형 추출부로부터 출력되는 연속적인 두 파형들로부터 복수개의 파라메타들의 파라메타값들을 검출하는 단계; 및상기 검출된 파라메타값들을 이용하여 아이 다이어그램을 예측하여 생성하는 단계;를 포함하고,상기 복수개의 파라메타들의 파라메타값들을 검출하는 단계는,상기 연속적인 두 파형들 중 첫 번째 파형이 상승하기 시작하는 시작 시점과 상기 시작 시점에서 전압이 상승하기 시작하여 문턱 전압을 통과하기까지 걸리는 시간, 상기 첫 번째 파형의 최대 전압에서 상기 문턱 전압까지 하강하는데 걸리는 시간, 상기 첫 번째 파형이 끝나는 마지막 시점, 상기 최대 전압이 유지되는 시간을 제1 파라메타값들로 검출하고, 상기 첫 번째 파형이 하강하고 나서 일정 시간이 지난 이후에 두 번째 파형이 상승하는 시간, 및 상기 첫 번째 파형이 하강한 이후에 0으로 유지되는 시간을 제2 파라메타값들로 검출하며,상기 아이 다이어그램을 예측하여 생성하는 단계는,상기 제1 파라메타값들과 상기 제2 파라메타값들을 이용하여 아날로그 신호를 예측하고 상기 아날로그 신호를 이용하여 상기 아이 다이어그램을 생성하는 것을 특징으로 하는 아이 다이어그램 예측 방법
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클럭 신호를 발생하여 테스트하고자하는 반도체 장치(531)로 인가하는 클럭 발생부;상기 반도체 장치(531)로부터 전송되는 신호를 이용하여 아이 다이어그램을 예측하여 생성하는 아이 다이어그램 예측 장치; 및상기 아이 다이어그램을 분석하여 상기 반도체 장치(531)의 성능을 판정하는 판정부;를 구비하고,상기 아이 다이어그램 예측 장치는, 입력되는 하나의 신호로부터 연속적인 두 파형을 추출하는 연속 두개의 파형 추출부;상기 연속 두개의 파형 추출부로부터 출력되는 연속적인 두 파형들로부터 복수개의 파라메타들의 파라메타값들을 검출하는 파라메타값 검출부; 및상기 파라메타값 검출부에서 검출한 파라메타값들을 이용하여 아이 다이어그램을 예측하여 생성하는 아이 다이어그램 생성부;를 구비하고,상기 아이 다이어그램 생성부는 상기 연속적인 두 파형들에 대한 변화 시간에 대응하는 제1 및 제2 파라메타값들을 이용하여 아날로그 신호를 예측하고 상기 아날로그 신호를 이용하여 상기 아이 다이어그램을 생성하며,상기 파라메타값 검출부는 상기 연속적인 두 파형들 중 첫 번째 파형이 하강하고 나서 일정 시간이 지난 이후에 두 번째 파형이 상승하는 시간, 및 상기 첫 번째 파형이 하강한 이후에 0으로 유지되는 시간을 상기 제2 파라메타값들로 검출하는 것을 특징으로 하는 테스트 장치
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