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제1 캐소드 전극(Cathode electrode)과 제1 애노드 전극(Anode electrode) 사이에 적어도 하나의 제1 GEM(Gas Electron Multiplier) 포일(foil)을 구비하는 제1 GEM 챔버; 제2 캐소드 전극과 제2 애노드 전극 사이에 적어도 하나의 제2 GEM 포일을 구비하는 제2 GEM 챔버; 및 제1 GEM 챔버로부터 독출된 제1 독출 신호를 기초로 제1 방사선의 세기 또는 에너지 스펙트럼을 분석하고, 제1 독출 신호와 제2 GEM 챔버로부터 독출된 제2 독출 신호를 기초로 제2 방사선의 세기 또는 에너지 스펙트럼을 분석하는 분석부를 포함하며,상기 제1 방사선은 베타선이고 제2 방사선은 감마선이며, 상기 제2 GEM 챔버의 제2 캐소드 전극은 챔버 내부를 향하는 표면에 감마선에 반응하여 빛을 방출하는 신틸레이터(scintillator) 물질이 도포되고, 또한 감마선에 반응한 신틸레이터 물질에 의해 방출된 빛에 의해 챔버 내에 전자가 생성되도록, 빛에 반응하여 광전자를 방출하는 광민감성 물질이 더 도포되는 것을 특징으로 하는 다채널 가스 전자 증폭 검출기
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제1 캐소드 전극(Cathode electrode)과 제1 애노드 전극(Anode electrode) 사이에 적어도 하나의 제1 GEM(Gas Electron Multiplier) 포일(foil)을 구비하는 제1 GEM 챔버; 제2 캐소드 전극과 제2 애노드 전극 사이에 적어도 하나의 제2 GEM 포일을 구비하는 제2 GEM 챔버; 및 제1 GEM 챔버로부터 독출된 제1 독출 신호를 기초로 제1 방사선의 세기 또는 에너지 스펙트럼을 분석하고, 제1 독출 신호와 제2 GEM 챔버로부터 독출된 제2 독출 신호를 기초로 제2 방사선의 세기 또는 에너지 스펙트럼을 분석하는 분석부를 포함하며,상기 제1 방사선은 베타선이고 제2 방사선은 감마선이며, 상기 제2 GEM 챔버의 제2 캐소드 전극은 챔버 내부를 향하는 표면에 감마선에 반응하여 빛을 방출하는 신틸레이터 물질이 도포되고, 상기 제2 GEM 챔버의 제2 GEM 포일은 감마선에 반응한 신틸레이터 물질에 의해 방출된 빛에 의해 챔버 내에 전자가 생성되도록, 제2 GEM 포일의 금속면들 중에 제2 캐소드의 신틸레이터 물질이 도포된 표면을 향하는 금속면 상에, 빛에 반응하여 광전자를 방출하는 광민감성 물질이 도포되는 것을 특징으로 하는 다채널 가스 전자 증폭 검출기
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제1 캐소드 전극(Cathode electrode)과 제1 애노드 전극(Anode electrode) 사이에 적어도 하나의 제1 GEM(Gas Electron Multiplier) 포일(foil)을 구비하는 제1 GEM 챔버; 제2 캐소드 전극과 제2 애노드 전극 사이에 적어도 하나의 제2 GEM 포일을 구비하는 제2 GEM 챔버; 및 제1 GEM 챔버로부터 독출된 제1 독출 신호를 기초로 제1 방사선의 세기 또는 에너지 스펙트럼을 분석하고, 제1 독출 신호와 제2 GEM 챔버로부터 독출된 제2 독출 신호를 기초로 제2 방사선의 세기 또는 에너지 스펙트럼을 분석하는 분석부를 포함하며,상기 제1 방사선은 베타선이고 제2 방사선은 감마선이며, 상기 제2 GEM 챔버는 제2 캐소드 전극 아래에 배치되어, 제2 캐소드 전극을 통과한 감마선에 반응하여 빛을 방출하는 신틸레이터 물질과, 신틸레이터 물질에 의해 방출된 빛에 반응하여 제2 GEM 포일을 향해 광전자를 방출하는 광민감성 물질이 각각 도포된 신틸레이터 기판을 더 포함하는 것을 특징으로 하는 다채널 가스 전자 증폭 검출기
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제1 캐소드 전극(Cathode electrode)과 제1 애노드 전극(Anode electrode) 사이에 적어도 하나의 제1 GEM(Gas Electron Multiplier) 포일(foil)을 구비하는 제1 GEM 챔버; 제2 캐소드 전극과 제2 애노드 전극 사이에 적어도 하나의 제2 GEM 포일을 구비하는 제2 GEM 챔버; 및 제1 GEM 챔버로부터 독출된 제1 독출 신호를 기초로 제1 방사선의 세기 또는 에너지 스펙트럼을 분석하고, 제1 독출 신호와 제2 GEM 챔버로부터 독출된 제2 독출 신호를 기초로 제2 방사선의 세기 또는 에너지 스펙트럼을 분석하는 분석부를 포함하며,상기 제1 방사선은 베타선이고 제2 방사선은 중성자선이며, 상기 제2 GEM 챔버는 챔버 내부를 향하는 표면에 중성자선에 반응하여 양성자를 방출하는 폴리에틸렌(polyethylene) 또는 알파선을 방출하는 보론(Boron) 또는 베릴륨(Beryllium)이 도포된 제2 캐소드 전극을 포함하는 것을 특징으로 하는 다채널 가스 전자 증폭 검출기
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제1 캐소드 전극(Cathode electrode)과 제1 애노드 전극(Anode electrode) 사이에 적어도 하나의 제1 GEM(Gas Electron Multiplier) 포일(foil)을 구비하는 제1 GEM 챔버; 제2 캐소드 전극과 제2 애노드 전극 사이에 적어도 하나의 제2 GEM 포일을 구비하는 제2 GEM 챔버; 및 제1 GEM 챔버로부터 독출된 제1 독출 신호를 기초로 제1 방사선의 세기 또는 에너지 스펙트럼을 분석하고, 제1 독출 신호와 제2 GEM 챔버로부터 독출된 제2 독출 신호를 기초로 제2 방사선의 세기 또는 에너지 스펙트럼을 분석하는 분석부를 포함하며,상기 제1 방사선은 베타선이고 제2 방사선은 중성자선이며, 상기 제2 GEM 챔버는 어느 한 금속면 상에 중성자선에 반응하여 양성자를 방출하는 폴리에틸렌 또는 알파선을 방출하는 보론 또는 베릴륨이 도포된 적어도 하나의 제2 GEM 포일을 포함하는 것을 특징으로 하는 다채널 가스 전자 증폭 검출기
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청구항 3 내지 청구항 5 및 청구항 7, 청구항 8 중 어느 한 항에 있어서, 상기 분석부는 제1 독출 신호를 기초로 제1 방사선의 세기 또는 에너지 스펙트럼을 분석하고, 제2 독출 신호에서 제1 독출 신호를 뺀 값을 기초로 제2 방사선의 세기 또는 에너지 스펙트럼을 분석하도록 동작하는 것을 특징으로 하는 다채널 가스 전자 증폭 검출기
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제1 캐소드 전극과 제1 애노드 전극 사이에 적어도 하나의 제1 GEM 포일을 구비하는 제1 GEM 챔버;제2 캐소드 전극과 제2 애노드 전극 사이에 적어도 하나의 제2 GEM 포일을 구비하는 제2 GEM 챔버; 제3 캐소드 전극과 제3 애노드 전극 사이에 적어도 하나의 제3 GEM 포일을 구비하는 제3 GEM 챔버; 및제1 GEM 챔버로부터 독출된 제1 독출 신호를 기초로 베타선의 세기 또는 에너지 스펙트럼을 분석하고, 제1 독출 신호와 제2 GEM 챔버로부터 독출된 제2 독출 신호를 기초로 감마선의 세기 또는 에너지 스펙트럼을 분석하며, 제1 독출 신호와 제3 GEM 챔버로부터 독출된 제3 독출 신호를 기초로 중성자선의 세기 또는 에너지 스펙트럼을 분석하는 분석부를 포함하는 다채널 가스 전자 증폭 검출기
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청구항 10에 있어서, 상기 분석부는제1 독출 신호를 기초로 베타선의 세기 또는 에너지 스펙트럼을 분석하고, 제2 독출 신호에서 제1 독출 신호를 뺀 값을 기초로 감마선의 세기 또는 에너지 스펙트럼을 분석하며, 제3 독출 신호에서 제1 독출 신호를 뺀 값을 기초로 중성자선의 세기 또는 에너지 스펙트럼을 분석하도록 동작하는 것을 특징으로 하는 다채널 가스 전자 증폭 검출기
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다채널 가스 전자 증폭 검출기를 이용한 방사선 검출 방법으로서,상기 다채널 가스 전자 증폭 검출기가,제1 캐소드 전극과 제1 애노드 전극 사이에 적어도 하나의 제1 GEM 포일을 구비하는 제1 GEM 챔버로부터 제1 독출 신호를 수신하는 단계;제2 캐소드 전극과 제2 애노드 전극 사이에 적어도 하나의 제2 GEM 포일을 구비하는 제2 GEM 챔버로부터 제2 독출 신호를 수신하는 단계;제1 독출 신호를 기초로 제1 방사선의 세기 또는 에너지 스펙트럼을 분석하는 단계; 및제1 독출 신호와 제2 독출 신호를 기초로 제2 방사선의 세기 또는 에너지 스펙트럼을 분석하는 단계를 포함하는 다채널 가스 전자 증폭 검출기를 이용한 방사선 검출 방법
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청구항 12에 있어서, 상기 제1 방사선은 베타선이고 제2 방사선은 감마선인 것을 특징으로 하는 다채널 가스 전자 증폭 검출기를 이용한 방사선 검출 방법
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청구항 13에 있어서, 상기 제2 GEM 챔버의 제2 캐소드 전극은챔버 내부를 향하는 표면에 감마선에 반응하여 빛을 방출하는 신틸레이터 물질이 도포되고, 또한 감마선에 반응한 신틸레이터 물질에 의해 방출된 빛에 의해 챔버 내에 전자가 생성되도록, 빛에 반응하여 광전자를 방출하는 광민감성 물질이 더 도포되는 것을 특징으로 하는 다채널 가스 전자 증폭 검출기를 이용한 방사선 검출 방법
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청구항 13에 있어서, 상기 제2 GEM 챔버의 제2 캐소드 전극은챔버 내부를 향하는 표면에 감마선에 반응하여 빛을 방출하는 신틸레이터 물질이 도포되고,상기 제2 GEM 챔버의 제2 GEM 포일은감마선에 반응한 신틸레이터 물질에 의해 방출된 빛에 의해 챔버 내에 전자가 생성되도록, 제2 GEM 포일의 금속면들 중에 제2 캐소드의 신틸레이터 물질이 도포된 표면을 향하는 금속면 상에, 빛에 반응하여 광전자를 방출하는 광민감성 물질이 도포되는 것을 특징으로 하는 다채널 가스 전자 증폭 검출기를 이용한 방사선 검출 방법
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청구항 13에 있어서, 상기 제2 GEM 챔버는제2 캐소드 전극 아래에 배치되어, 제2 캐소드 전극을 통과한 감마선에 반응하여 빛을 방출하는 신틸레이터 물질과, 신틸레이터 물질에 의해 방출된 빛에 반응하여 제2 GEM 포일을 향해 광전자를 방출하는 광민감성 물질이 각각 도포된 신틸레이터 기판을 더 포함하는 것을 특징으로 하는 다채널 가스 전자 증폭 검출기를 이용한 방사선 검출 방법
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청구항 12에 있어서, 상기 제1 방사선은 베타선이고 제2 방사선은 중성자선인 것을 특징으로 하는 다채널 가스 전자 증폭 검출기를 이용한 방사선 검출 방법
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청구항 17에 있어서, 상기 제2 GEM 챔버는챔버 내부를 향하는 표면에 중성자선에 반응하여 양성자를 방출하는 폴리에틸렌 또는 알파선을 방출하는 보론 또는 베릴륨이 도포된 제2 캐소드 전극을 포함하는 것을 특징으로 하는 다채널 가스 전자 증폭 검출기를 이용한 방사선 검출 방법
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청구항 17에 있어서, 상기 제2 GEM 챔버는어느 한 금속면 상에 중성자선에 반응하여 양성자를 방출하는 폴리에틸렌 또는 알파선을 방출하는 보론 또는 베릴륨이 도포된 적어도 하나의 제2 GEM 포일을 포함하는 것을 특징으로 하는 다채널 가스 전자 증폭 검출기를 이용한 방사선 검출 방법
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청구항 12에 있어서, 제2 방사선의 세기 또는 에너지 스펙트럼을 분석하는 단계는,제2 독출 신호에서 제1 독출 신호를 뺀 값을 기초로 제2 방사선의 세기 또는 에너지 스펙트럼을 분석하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 다채널 가스 전자 증폭 검출기를 이용한 방사선 검출 방법
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다채널 가스 전자 증폭 검출기를 이용한 방사선 검출 방법으로서,상기 다채널 가스 전자 증폭 검출기가,제1 캐소드 전극과 제1 애노드 전극 사이에 적어도 하나의 제1 GEM 포일을 구비하는 제1 GEM 챔버로부터 제1 독출 신호를 수신하는 단계;제2 캐소드 전극과 제2 애노드 전극 사이에 적어도 하나의 제2 GEM 포일을 구비하는 제2 GEM 챔버로부터 제2 독출 신호를 수신하는 단계;제3 캐소드 전극과 제3 애노드 전극 사이에 적어도 하나의 제3 GEM 포일을 구비하는 제3 GEM 챔버로부터 제3 독출 신호를 수신하는 단계;제1 독출 신호를 기초로 베타선의 세기 또는 에너지 스펙트럼을 분석하는 단계;제1 독출 신호와 제2 독출 신호를 기초로 감마선의 세기 또는 에너지 스펙트럼을 분석하는 단계; 및제1 독출 신호와 제3 독출 신호를 기초로 중성자선의 세기 또는 에너지 스펙트럼을 분석하는 단계를 포함하는 다채널 가스 전자 증폭 검출기를 이용한 방사선 검출 방법
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청구항 21에 있어서, 감마선의 세기 또는 에너지 스펙트럼을 분석하는 단계는,제2 독출 신호에서 제1 독출 신호를 뺀 값을 기초로 감마선의 세기 또는 에너지 스펙트럼을 분석하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 다채널 가스 전자 증폭 검출기를 이용한 방사선 검출 방법
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청구항 21에 있어서, 중성자선의 세기 또는 에너지 스펙트럼을 분석하는 단계는,제3 독출 신호에서 제1 독출 신호를 뺀 값을 기초로 중성자선의 세기 또는 에너지 스펙트럼을 분석하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 다채널 가스 전자 증폭 검출기를 이용한 방사선 검출 방법
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