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반도체 검사장치(DEVICE FOR PERFORMANCE TESTING DEVICE OF SEMICONDUCTOR PACKAGE)

  • 기술번호 : KST2016013354
  • 담당센터 : 대전기술혁신센터
  • 전화번호 : 042-610-2279
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 상기 반도체 검사장치는 하단지지체, 선단지지체, 지지대 및 지그부를 포함한다. 상기 하단지지체는 하단에 배치되고, 수직으로 관통하는 복수의 홀들을 포함하며, 상기 선단지지체는 상기 후단지지체의 상단에 일정한 공간을 두고 배치되고, 수직으로 관통하는 복수의 홀들을 포함하며, 상기 지지대는 상기 하단지지체 및 상기 선단지지체 사이에 형성되는 제1 및 제2 지지대들, 상기 제1 및 제2 지지대들 각각의 일단이 삽입되는 제1 지지홀들 및, 제1 방향으로 직사각형 또는 타원형의 기둥으로 길게 형성되고 상기 제1 및 제2 지지대들 각각의 타단이 삽입되는 제2 지지홀들을 포함하며, 상기 지그부는 'S'자 구조로 휘어져 상기 하단지지체와 상기 선단지지체의 사이에 형성되고 일단은 상기 하단지지체의 상기 홀에 고정되며 타단은 상기 선단지지체의 상기 홀을 관통하여 상부에 일정한 길이로 돌출되어 형성되는 핀, 상기 하단지지체에 형성되어 상기 핀의 일단이 삽입되어 고정되는 제1 핀홀, 및 상기 선단지지체를 관통하며 형성되어 상기 핀의 타단이 삽입되어 상부로 돌출되는 제2 핀홀을 포함한다.
Int. CL H01L 21/66 (2006.01)
CPC H01L 22/30(2013.01)
출원번호/일자 1020140195458 (2014.12.31)
출원인 한국기술교육대학교 산학협력단, 주식회사 메디오션
등록번호/일자 10-1671221-0000 (2016.10.26)
공개번호/일자 10-2016-0081519 (2016.07.08) 문서열기
공고번호/일자 (20161116) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 등록
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2014.12.31)
심사청구항수 4

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한국기술교육대학교 산학협력단 대한민국 충청남도 천안시 동남구
2 주식회사 메디오션 대한민국 경기도 성남시 중원구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 이호영 대한민국 경기도 수원시 팔달구
2 박철규 대한민국 충청남도 천안시 동남구
3 원혜경 대한민국 충청남도 천안시 동남구
4 박소윤 대한민국 충청남도 천안시 동남구
5 임성한 대한민국 경기도 성남시 분당구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 김민태 대한민국 서울특별시 강남구 논현로 ***, *층 **세기특허법률사무소 (역삼동, 세일빌딩)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 한국기술교육대학교 산학협력단 대한민국 충청남도 천안시 동남구
2 주식회사 메디오션 대한민국 경기도 성남시 중원구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2014.12.31 수리 (Accepted) 1-1-2014-1285720-15
2 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2015.06.10 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
3 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2015.08.07 수리 (Accepted) 9-1-2015-0053001-41
4 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2015.11.24 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2015-0817394-60
5 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2016.01.20 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2016-0064476-42
6 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2016.01.20 수리 (Accepted) 1-1-2016-0064490-82
7 최후의견제출통지서
Notification of reason for final refusal
2016.04.28 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2016-0314876-91
8 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2016.05.23 수리 (Accepted) 1-1-2016-0492099-15
9 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2016.05.23 보정승인 (Acceptance of amendment) 1-1-2016-0492125-15
10 등록결정서
Decision to grant
2016.10.20 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2016-0753467-50
11 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2018.11.19 수리 (Accepted) 4-1-2018-5234295-28
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
하단에 배치되고, 수직으로 관통하는 복수의 홀들을 포함하는 하단지지체;상기 하단지지체의 상단에 일정한 공간을 두고 배치되고, 수직으로 관통하는 복수의 홀들을 포함하는 선단지지체;상기 하단지지체 및 상기 선단지지체 사이에 형성되는 제1 및 제2 지지대들, 상기 제1 및 제2 지지대들 각각의 일단이 삽입되는 제1 지지홀들 및, 제1 방향으로 직사각형 또는 타원형의 기둥으로 길게 형성되고 상기 제1 및 제2 지지대들 각각의 타단이 삽입되는 제2 지지홀들을 포함하는 지지대; 및'S'자 구조로 휘어져 상기 하단지지체와 상기 선단지지체의 사이에 형성되고 일단은 상기 하단지지체의 상기 복수의 홀들에 고정되며 타단은 상기 선단지지체의 상기 복수의 홀들을 관통하여 상부에 일정한 길이로 돌출되어 형성되는 핀, 상기 하단지지체에 형성되어 상기 핀의 일단이 삽입되어 고정되는 제1 핀홀, 및 상기 선단지지체를 관통하며 형성되어 상기 핀의 타단이 삽입되어 상부로 돌출되는 제2 핀홀을 포함하는 지그부를 포함하며,상기 선단지지체는 상기 하단지지체와 동일한 수직선상에서 제1 방향의 반대쪽으로 소정의 거리를 이동하여 상기 하단지지체의 상부에 형성된 상태에서 상기 선단지지체 및 상기 하단지지체 각각의 상기 복수의 홀들은 동일한 수직선상에 위치하고, 상기 핀이 상기 복수의 홀들을 수직으로 관통하여 상기 선단지지체 및 상기 하단지지체에 삽입된 상태에서 상기 선단지지체를 제1 방향으로 이동시키면 상기 하단지지체와 상기 핀이 'S'자 구조로 휘어져 고정되는 것을 특징으로 하는 반도체 검사장치
2 2
제1항에 있어서, 상기 제2 핀홀은,상기 선단지지체를 수직으로 관통하여 형성되고, 상기 핀의 타단을 수직으로 돌출되도록 고정시키고, 상기 핀의 'S'자 구조에 의해 발생하는 탄성력을 지탱하는 것을 특징으로 하는 반도체 검사장치
3 3
제1항에 있어서, 상기 제2 지지홀들은,제1 방향을 향해 길게 늘어진 직사각형 기둥 또는 타원형의 기둥의 형상으로 상기 선단지지체를 수직으로 관통하여 형성하는 것을 특징으로 하는 반도체 검사장치
4 4
제1항에 있어서, 상기 선단지지체는,상기 제1 및 제2 지지대들, 및 상기 핀이 삽입된 상태에서 제1 방향으로 왕복이 가능한 것을 특징으로 하는 반도체 검사장치
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
국가 R&D 정보가 없습니다.