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유효화 영상처리기법을 이용한 시료의 패턴 검사 장치 및 방법, 그리고 프로그램을 기록한 컴퓨터로 읽을 수 있는 기록매체(Apparatus and Method for Testing Pattern of Sample using Validity Image Processing Technique, and computer-readable recording medium with program therefor)

  • 기술번호 : KST2016015250
  • 담당센터 : 부산기술혁신센터
  • 전화번호 : 051-606-6561
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 유효화 영상처리기법을 이용하여 시료의 패턴에 이진화와 외곽선 추출을 적용하여 유효화하여 시료의 패턴을 검사하기 위한 장치 및 방법을 제공하기 위한 것으로서, 카메라를 통해 촬영된 시료의 영상을 임계값 방법을 적용하여 이진화하여 이진화된 결과영상을 생성하는 이진화 처리부와, 상기 생성된 이진화 영상에 외곽선 추적 알고리즘을 적용하여 시료의 패턴 외곽선을 추출하는 외곽선 추출부와, 카메라로 촬영된 시료 영상, 이진화된 영상, 시료의 패턴 외곽선을 조합하여 시료의 유효화된 패턴 영상을 획득하는 유효화 처리부와, 상기 유효화된 패턴을 출력하는 시료 출력부를 포함하여 구성되는데 있다.
Int. CL G01N 21/956 (2006.01) G01N 21/88 (2006.01)
CPC G01N 21/956(2013.01)
출원번호/일자 1020150019604 (2015.02.09)
출원인 부산대학교 산학협력단
등록번호/일자
공개번호/일자 10-2016-0097651 (2016.08.18) 문서열기
공고번호/일자
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 공개
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2015.02.09)
심사청구항수 14

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 부산대학교 산학협력단 대한민국 부산광역시 금정구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 김창석 대한민국 부산광역시 해운대구
2 정명영 대한민국 부산광역시 금정구
3 이한주 대한민국 경상남도 양산시 양주로 ***,
4 전승원 대한민국 부산광역시 남구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 정기택 대한민국 서울특별시 서초구 강남대로**길 **, *층 (반포동, 새로나빌딩)(스카이특허법률사무소)
2 오위환 대한민국 서울특별시 서초구 강남대로**길 **, *층 (반포동, 새로나빌딩)(스카이특허법률사무소)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2015.02.09 수리 (Accepted) 1-1-2015-0136526-14
2 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2016.01.13 수리 (Accepted) 4-1-2016-5004891-78
3 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2016.04.11 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
4 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2016.06.10 수리 (Accepted) 9-1-2016-0026445-11
5 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2016.06.20 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2016-0440232-86
6 [지정기간연장]기간연장(단축, 경과구제)신청서
[Designated Period Extension] Application of Period Extension(Reduction, Progress relief)
2016.08.22 수리 (Accepted) 1-1-2016-0812986-16
7 [지정기간연장]기간연장(단축, 경과구제)신청서
[Designated Period Extension] Application of Period Extension(Reduction, Progress relief)
2016.09.20 수리 (Accepted) 1-1-2016-0909390-56
8 [지정기간연장]기간연장(단축, 경과구제)신청서
[Designated Period Extension] Application of Period Extension(Reduction, Progress relief)
2016.10.20 수리 (Accepted) 1-1-2016-1019544-38
9 [지정기간연장]기간연장(단축, 경과구제)신청서
[Designated Period Extension] Application of Period Extension(Reduction, Progress relief)
2016.11.21 수리 (Accepted) 1-1-2016-1134319-92
10 지정기간연장 관련 안내서
Notification for Extension of Designated Period
2016.11.23 발송처리완료 (Completion of Transmission) 1-5-2016-0167943-94
11 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2017.01.09 수리 (Accepted) 4-1-2017-5004005-98
12 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2017.01.10 수리 (Accepted) 4-1-2017-5004797-18
13 거절결정서
Decision to Refuse a Patent
2017.01.26 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2017-0072206-56
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번호 청구항
1 1
카메라를 통해 촬영된 시료의 영상을 임계값 방법을 적용하여 이진화하여 이진화된 결과영상을 생성하는 이진화 처리부와,상기 생성된 이진화 영상에 외곽선 추적 알고리즘을 적용하여 시료의 패턴 외곽선을 추출하는 외곽선 추출부와,카메라로 촬영된 시료 영상, 이진화된 영상, 시료의 패턴 외곽선을 조합하여 시료의 유효화된 패턴 영상을 획득하는 유효화 처리부와,상기 유효화된 패턴을 출력하는 시료 출력부를 포함하여 구성되는 것을 특징으로 하는 유효화 영상처리기법을 이용한 시료의 패턴 검사 장치
2 2
제 1 항에 있어서,상기 이진화 처리부는 카메라에서 촬영된 시료 영상의 각 픽셀에 임계값 방법을 적용하여 설정된 임계값을 기반으로 이진화를 수행하는 것을 특징으로 하는 유효화 영상처리기법을 이용한 시료의 패턴 검사 장치
3 3
제 2 항에 있어서, 상기 이진화는 시료 영상이 각 픽셀이 설정된 임계값 이상이면 '1'로, 이하이면 '0'으로 대체하는 것을 특징으로 하는 유효화 영상처리기법을 이용한 시료의 패턴 검사 장치
4 4
제 3 항에 있어서,상기 외곽선 추출부는 이진화된 영상에서 '0'값을 가지는 픽셀군과 '1'값을 가지는 픽셀군의 경계부의 픽셀을 대상으로 미리 설정된 폭 값 이내의 패턴의 외곽선을 추출하는 것을 특징으로 하는 유효화 영상처리기법을 이용한 시료의 패턴 검사 장치
5 5
제 1 항에 있어서,상기 외곽선 추출부는 소벨(Sobel), 프르윗(Prewitt), 로버트(Roberts), 라플라시안(Laplacian), 캐니(Canny) 중 적어도 하나로 외곽선을 추출하는 것을 특징으로 하는 유효화 영상처리기법을 이용한 시료의 패턴 검사 장치
6 6
제 1 항에 있어서,상기 유효화 처리부에서 조합은 시료의 이진화된 영상에서 시료의 패턴 외곡선 부분 픽셀을 '0'으로 대체하고 카메라로 촬영된 시료의 영상에 적용시키는 것을 특징으로 하는 유효화 영상처리기법을 이용한 시료의 패턴 검사 장치
7 7
제 1 항에 있어서,상기 유효화 처리부는 상기 생성된 이진화 영상에서 상기 추출된 패턴 외곽선을 제거한 후, 패턴 외곽선이 제거된 이진화 영상을 상기 시료의 영상에 적응시켜 유효화하는 구성하는 것을 특징으로 하는 유효화 영상처리기법을 이용한 시료의 패턴 검사 장치
8 8
(A) 이진화 처리부를 통해 시료의 영상을 임계값을 적용하여 이진화하여 이진화된 결과영상을 생성하는 단계와,(B) 외곽선 추출부를 통해 상기 생성된 이진화 영상(이진화된 결과영상)에 외곽선 추적 알고리즘을 적용하여 시료의 패턴 외곽선을 추출하여 외곽선 추출 영상을 생성하는 단계와,(C) 유효화 처리부를 통해 상기 시료 영상, 이진화 영상, 외곽선 추출 영상을 조합하여 시료의 유효화된 패턴 영상을 획득하는 단계와,(D) 시료 출력부를 통해 유효화된 패턴을 출력하는 단계를 포함하여 이루어지는 것을 특징으로 하는 유효화 영상처리기법을 이용한 시료의 패턴 검사 방법
9 9
제 8 항에 있어서, 상기 이진화는 카메라에서 촬영된 시료 영상이 입력되면, 미리 설정된 임계값을 시료 영상의 각 픽셀과 서로 비교하는 단계와,상기 비교결과, 각 픽셀이 미리 설정된 임계값 이상이면 '1'로 대체하고, 각 픽셀이 미리 설정된 임계값 이하이면 '0'으로 대체하여 이진화를 수행하는 단계를 포함하여 이루어지는 것을 특징으로 하는 유효화 영상처리기법을 이용한 시료의 패턴 검사 방법
10 10
제 8 항에 있어서, 상기 (B) 단계는 이진화된 영상에서 '0'값을 가지는 픽셀군과 '1'값을 가지는 픽셀군의 경계부의 픽셀을 대상으로 설정된 폭 값 이내의 패턴의 외곽선을 추출하여 외곽선 추출 영상을 생성하는 것을 특징으로 하는 유효화 영상처리기법을 이용한 시료의 패턴 검사 방법
11 11
제 8 항에 있어서, 상기 (B) 단계는이진화된 이진화 영상이 입력되면, 이진화 영상에서 두 값이 변하는 설정 폭을 설정하는 단계와,이진화된 영상에서 '0'값을 가지는 픽셀군과 '1'값을 가지는 픽셀군의 경계부의 각 픽셀을 대상으로 상기 설정된 폭 값과 비교하는 단계와,상기 비교결과, 각 픽셀이 설정된 폭 값 이내이면 해당 픽셀을 시료의 패턴 외곽선에 포함시키고, 각 픽셀이 설정된 폭 값 이상이면 해당 픽셀을 시료의 패턴 외곽선에서 제외시키는 단계를 포함하여 이루어지는 것을 특징으로 하는 유효화 영상처리기법을 이용한 시료의 패턴 검사 방법
12 12
제 11 항에 있어서,상기 설정 폭은 영상의 픽셀크기 및 명암비 그리고 이웃하는 픽셀위치에 따라 설정되는 것을 특징으로 하는 유효화 영상처리기법을 이용한 시료의 패턴 검사 방법
13 13
제 8 항에 있어서, 상기 (C) 단계는상기 이진화 영상(이진화된 결과영상)의 각 픽셀들 중 상기 추출된 패턴 외곽선에 해당되는 픽셀을'0'으로 대체하여 이진화된 영상의 외곽선에 해당되는 픽셀을 제외시키는 단계와,상기 외곽선이 제외된 이진화 영상을 시료의 영상에 적응시켜 유효화시키는 단계를 포함하여 이루어지는 것을 특징으로 하는 유효화 영상처리기법을 이용한 시료의 패턴 검사 방법
14 14
제 8 항 내지 제 13 항 중 어느 하나에 의한 유효화 영상처리기법을 이용한 시료의 패턴 검사 방법의 각 단계를 실행하기 위한 프로그램을 기록한 컴퓨터로 읽을 수 있는 기록매체
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
순번, 연구부처, 주관기관, 연구사업, 연구과제의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 국가R&D 연구정보 정보 표입니다.
순번 연구부처 주관기관 연구사업 연구과제
1 교육부 부산대학교 산학협력단 산학협력 선도대학(LINC) 육성사업(교육부) [LINC_3] 금속 후가공시 표면상태 실시간 측정 기술 개발(국고)