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서로 다른 지역에 위치하는 적어도 둘 이상의 전리층 관측기로부터의 사입사 관측 원시 데이터를 수집하는 수집부;상기 수집된 사입사 관측 원시 데이터에 기초하여 사입사 추세선(Trace)를 추출하는 제1 처리부; 및상기 추출된 사입사 추세선(Trace)에 기초하여 직입사 추세선(Trace)로 변환하고, 상기 변환된 직입사 추세선(Trace)에 기초하여 전리층 정보를 추출하는 제2 처리부를 포함하는 전리층 직입사 파라미터 추출 및 표출 장치
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제1항에 있어서,상기 제1 처리부 및 상기 제2 처리부의 처리 과정 중 상기 서로 다른 지역에 상응하는 중간 지역에 대한 전리층 정보, 상기 생성된 사입사 이오노그램(ionogram), 상기 추출된 사입사 추세선, 상기 변환된 직입사 추세선, 변환 직입사 전리층 전자밀도, 및 변환 직입사 전리층 파라미터, Sporadic E 발생여부 중에서 적어도 하나를 표출하는 전리층 정보 표출부를 더 포함하는 전리층 직입사 파라미터 추출 및 표출 장치
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제1항에 있어서,상기 제1 처리부는,입력 데이터 형식 변환 알고리즘을 적용하여, 상기 수집된 사입사 관측 원시 데이터를 사입사 이오노그램(ionogram) 생성에 필요한 입력 데이터 형식으로 변환하는 변환부를 포함하는 전리층 직입사 파라미터 추출 및 표출 장치
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제3항에 있어서,상기 입력 데이터 형식으로 변환된 사입사 관측 원시 데이터에 사입사 이오노그램(ionogram) 생성 알고리즘을 적용하여, 사입사 이오노그램(ionogram)을 생성하는 사입사 이오노그램 생성부를 포함하는 전리층 직입사 파라미터 추출 및 표출 장치
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제4항에 있어서,상기 생성된 사입사 이오노그램(ionogram)에 사입사 추세선 추출 알고리즘을 적용하여 사입사 추세선을 추출하는 사입사 추세선 추출부를 포함하는 전리층 직입사 파라미터 추출 및 표출 장치
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제1항에 있어서,상기 제2 처리부는,상기 추출된 사입사 추세선(Trace)에 직입사 추세선(Trace) 변환 알고리즘을 적용하여 변환된 직입사 추세선을 추출하는 직입사 변환 추세선 추출부를 포함하는 전리층 직입사 파라미터 추출 및 표출 장치
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7
제6항에 있어서,상기 제2 처리부는,상기 변환된 직입사 추세선에 전리층 전자밀도 추출 알고리즘을 적용하여 변환 직입사 전리층 전자밀도를 추출하는 변환 직입사 전리층 전자밀도 추출부를 포함하는 전리층 직입사 파라미터 추출 및 표출 장치
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8
제7항에 있어서,상기 제2 처리부는,상기 변환 직입사 전리층 전자밀도에 전리층 파라미터 추출 알고리즘을 적용하여 변환 직입사 전리층 파라미터를 추출하는 변환 직입사 전리층 파라미터 추출부를 포함하는 전리층 직입사 파라미터 추출 및 표출 장치
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제1항에 있어서,상기 제2 처리부는,상기 추출된 사입사 추세선(Trace)에 포함된 사입사 추세선 좌표 데이터를 이용하여 직입사 추세선(Trace) 변환하여 추세선을 추출하고, 추출된 추세선의 주파수별 신호정보가 담긴 직입사 변환 추세선 좌표 데이터 파일을 생성하는 전리층 직입사 파라미터 추출 및 표출 장치
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수집부에서, 서로 다른 지역에 위치하는 적어도 둘 이상의 전리층 관측기로부터의 사입사 관측 원시 데이터를 수집하는 단계; 및제1 처리부에서, 상기 수집된 사입사 관측 원시 데이터에 기초하여 사입사 추세선(Trace)를 추출하는 단계;제2 처리부에서, 상기 추출된 사입사 추세선(Trace)에 기초하여 직입사 추세선(Trace)로 변환하고, 상기 변환된 직입사 추세선(Trace)에 기초하여 전리층 정보를 추출하는 단계; 및전리층 정보 표출부에서, 상기 제1 처리부 및 상기 제2 처리부의 처리 과정 중 상기 서로 다른 지역에 상응하는 중간 지역에 대한 전리층 정보, 상기 생성된 사입사 이오노그램(ionogram), 상기 추출된 사입사 추세선, 상기 변환된 직입사 추세선, 변환 직입사 전리층 전자밀도, 및 변환 직입사 전리층 파라미터 중에서 적어도 하나를, 표출하는 단계를 포함하는 전리층 직입사 파라미터 추출 및 표출 방법
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제10항에 있어서,상기 사입사 추세선(Trace)를 추출하는 단계는,입력 데이터 형식 변환 알고리즘을 적용하여, 상기 수집된 사입사 관측 원시 데이터를 사입사 이오노그램(ionogram) 생성에 필요한 입력 데이터 형식으로 변환하는 단계;상기 입력 데이터 형식으로 변환된 사입사 관측 원시 데이터에 사입사 이오노그램(ionogram) 생성 알고리즘을 적용하여, 사입사 이오노그램(ionogram)을 생성하는 단계; 및상기 생성된 사입사 이오노그램(ionogram)에 사입사 추세선 추출 알고리즘을 적용하여 사입사 추세선을 추출하는 단계를 포함하는 전리층 직입사 파라미터 추출 및 표출 방법
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제10항에 있어서,상기 변환된 직입사 추세선(Trace)에 기초하여 전리층 정보를 추출하는 단계는,상기 추출된 사입사 추세선(Trace)에 직입사 추세선(Trace) 변환 알고리즘을 적용하여 변환된 직입사 추세선을 추출하는 단계를 포함하는 전리층 직입사 파라미터 추출 및 표출 방법
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제12항에 있어서,상기 변환된 직입사 추세선(Trace)에 기초하여 전리층 정보를 추출하는 단계는,상기 변환된 직입사 추세선에 전리층 전자밀도 추출 알고리즘을 적용하여 변환 직입사 전리층 전자밀도를 추출하는 변환 직입사 전리층 전자밀도를 추출하는 단계; 및상기 변환 직입사 전리층 전자밀도에 전리층 파라미터 추출 알고리즘을 적용하여 변환 직입사 전리층 파라미터를 추출하는 단계를 포함하는 전리층 직입사 파라미터 추출 및 표출 방법
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제10항에 있어서,상기 변환된 직입사 추세선(Trace)에 기초하여 전리층 정보를 추출하는 단계는,상기 추출된 사입사 추세선(Trace)에 포함된 사입사 추세선 좌표 데이터를 이용하여 직입사 추세선(Trace) 변환하여 추세선을 추출하는 단계; 및상기 추출된 추세선의 주파수별 신호정보가 담긴 직입사 변환 추세선 좌표 데이터 파일을 생성하는 단계를 포함하는 전리층 직입사 파라미터 추출 및 표출 방법
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