| [KST2014045172][한국전자통신연구원] |
액티브 매트릭스 유기 전계 발광 장치 및 그 제조 방법 |
새창보기
|
| [KST2015074545][한국전자통신연구원] |
두파장의적외선레이저간섭계를이용한웨이퍼온도측정장치 |
새창보기
|
| [KST2015076431][한국전자통신연구원] |
IC 리드프레임 자동검사 시스템 및 그 운용방법 |
새창보기
|
| [KST2015080301][한국전자통신연구원] |
반도체 시료의 신뢰성 시험장치 |
새창보기
|
| [KST2014053457][한국전자통신연구원] |
OLED 광추출 기술 |
새창보기
|
| [KST2015064613][한국전자통신연구원] |
액티브 매트릭스 유기 전계 발광 장치 및 그 제조 방법 |
새창보기
|
| [KST2015066464][한국전자통신연구원] |
유기발광다이오드의 제조 방법 |
새창보기
|
| [KST2015075424][한국전자통신연구원] |
캐스코드 혼합기 회로 |
새창보기
|
| [KST2014067342][한국전자통신연구원] |
하이브리드 텐덤 백색 OLED 소자 기술 |
새창보기
|
| [KST2015053476][한국전자통신연구원] |
유기발광다이오드 및 그 제조방법 |
새창보기
|
| [KST2015068714][한국전자통신연구원] |
유기발광소자 제조방법 |
새창보기
|
| [KST2015069672][한국전자통신연구원] |
유기 산란층의 제조 방법 및 유기 산란층을 갖는 유기발광 다이오드 및 이의 제조 방법 |
새창보기
|
| [KST2015075373][한국전자통신연구원] |
반도체공정장비용비접촉식실시간금속박막두께측정장치및두께측정방법 |
새창보기
|
| [KST2015080227][한국전자통신연구원] |
ＡＦＭ을 이용한 반도체 소자용 시편 측정 방법 |
새창보기
|
| [KST2015074214][한국전자통신연구원] |
고주파프로우브카드용에폭시링 |
새창보기
|
| [KST2015078159][한국전자통신연구원] |
반도체 제조장비의 샘플 홀더 구동장치 및 이를 이용한 에칭방법 |
새창보기
|
| [KST2015086132][한국전자통신연구원] |
플라즈마 손상 측정장치 |
새창보기
|
| [KST2015063478][한국전자통신연구원] |
조명 장치의 열화 감지 방법 및 그를 이용하는 조명 장치 |
새창보기
|
| [KST2015074145][한국전자통신연구원] |
반도체소자의물성분석용슬릿의제조방법및슬릿을이용한미소부위엑스선회절분석방법 |
새창보기
|
| [KST2015081622][한국전자통신연구원] |
반도체 소자의 설계 검증을 위한 고속 병렬 시뮬레이션 방법 |
새창보기
|
| [KST2015082269][한국전자통신연구원] |
ＳＯＩ 기판 기반의 근접장 탐침 및 그 제조 방법 |
새창보기
|
| [KST2015076441][한국전자통신연구원] |
리드프레임의 패드이동 검사방법 및 자동검사 시스템 |
새창보기
|
| [KST2015083550][한국전자통신연구원] |
테라헤르츠파 소자의 테스트 지원 장치 |
새창보기
|
| [KST2015065233][한국전자통신연구원] |
유기발광 다이오드 및 그 제조방법 |
새창보기
|
| [KST2015065753][한국전자통신연구원] |
플렉시블 전극 기판의 제조방법 |
새창보기
|
| [KST2015067080][한국전자통신연구원] |
유기 발광 소자 및 유기 발광 소자 제조 방법 |
새창보기
|
| [KST2015075631][한국전자통신연구원] |
레이저 어블레이션을 이용한 미세 건식식각장치 |
새창보기
|
| [KST2015076439][한국전자통신연구원] |
IC리드프레임의 리드간격 자동 시각검사 장치 및 방법 |
새창보기
|
| [KST2015076440][한국전자통신연구원] |
리드프레임의 테이프 검사방법 및 자동검사시스템 |
새창보기
|
| [KST2015082683][한국전자통신연구원] |
건식 식각 공정을 이용한 산화물 박막 트랜지스터 소자의제조방법 |
새창보기
|
