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대면적 샘플용 X선 홀로그래피 현미경 측정장치 및 측정방법(microscope detect apparatus and method used X-ray holography)

  • 기술번호 : KST2016016946
  • 담당센터 : 광주기술혁신센터
  • 전화번호 : 062-360-4654
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 대면적 샘플용 X선 홀로그래피 현미경 측정장치 및 측정방법을 개시한다. 개시된 본 발명은 레퍼런스가 없는 샘플의 자기상관(autocorrelation) 신호 획득용 홀로그램 회절 이미지를 얻는 단계; 상기 샘플에 레퍼런스를 추가하여 홀로그램 이미지를 얻는 단계; 2개의 홀로그램을 퓨리에 변환하여 이미지를 비교하는 단계; 2개의 이미지 차를 통하여 숨겨진 샘플 이미지를 복원하는 단계;를 포함한다.
Int. CL G03H 5/00 (2006.01) G01N 23/207 (2006.01) G01B 15/00 (2006.01) G01N 23/20 (2006.01)
CPC
출원번호/일자 1020160117402 (2016.09.12)
출원인 기초과학연구원, 광주과학기술원
등록번호/일자
공개번호/일자 10-2016-0111353 (2016.09.26) 문서열기
공고번호/일자 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 등록
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자 10-2014-0122290 (2014.09.15)
관련 출원번호 1020140122290
심사청구여부/일자 Y (2016.09.12)
심사청구항수 7

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 기초과학연구원 대한민국 대전광역시 유성구
2 광주과학기술원 대한민국 광주광역시 북구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 이경환 대한민국 광주광역시 광산구
2 김형택 대한민국 광주광역시 북구
3 남창희 대한민국 광주광역시 북구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 특허법인(유한) 대아 대한민국 서울특별시 강남구 역삼로 ***, 한양빌딩*층(역삼동)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 기초과학연구원 대전광역시 유성구
2 광주과학기술원 광주광역시 북구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [분할출원]특허출원서
[Divisional Application] Patent Application
2016.09.12 수리 (Accepted) 1-1-2016-0889836-58
2 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2016.09.23 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2016-0682878-68
3 [지정기간연장]기간연장(단축, 경과구제)신청서
[Designated Period Extension] Application of Period Extension(Reduction, Progress relief)
2016.11.22 수리 (Accepted) 1-1-2016-1139893-38
4 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2016.12.22 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2016-1262539-43
5 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2016.12.22 수리 (Accepted) 1-1-2016-1262540-90
6 등록결정서
Decision to grant
2017.03.22 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2017-0210465-68
7 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2018.01.24 수리 (Accepted) 4-1-2018-5013866-16
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
특정 파장의 결맞은(coherent) X선을 생성하는 한 개의 X선 광원부;상기 생성된 X선이 조사되는 샘플을 거치하는 샘플부; 및상기 샘플을 통과한 X선을 인가받아 상기 샘플부 내에 레퍼런스의 구비 여부에 따라 상기 X선이 상기 샘플만 통과한 경우와 상기 샘플 및 상기 레퍼런스를 통과한 경우 획득되는 복수의 홀로그램 이미지의 차이를 비교하여 상기 샘플의 이미지를 복원하는 검출부; 를 포함하는 것을 특징으로 하는 X선 홀로그래피 이미징 장치
2 2
제1항에 있어서,상기 생성된 X선을 수신받아 집속하여 조사하는 집속부; 및상기 조사된 X선을 인가받아 필요 없는 파장을 필터링하여 상기 샘플부에 전달하는 필터링부;를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 X선 홀로그래피 이미징 장치
3 3
제1항에 있어서,상기 샘플부는 상기 레퍼런스가 구비되어 있는 경우, 상기 레퍼런스를 패쇄 또는 노출시키는 블록킹 마스크를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 X선 홀로그래피 이미징 장치
4 4
제1항에 있어서,상기 검출부는 상기 레퍼런스가 없는 샘플부와 상기 레퍼런스가 추가된 샘플부에서 각각 획득되는 홀로그램 이미지의 차이를 비교하여 상기 샘플의 이미지를 복원하는 것을 특징으로 하는 X선 홀로그래피 이미징 장치
5 5
(a) 특정 파장의 결맞은(coherent) X선을 생성하여 샘플에 조사하는 단계;(b) 상기 샘플을 통과한 X선을 인가받아 샘플부 내에 레퍼런스의 구비 여부에 따라 상기 X선이 상기 샘플만 통과한 경우와 상기 샘플 및 상기 레퍼런스를 통과한 경우 홀로그램 이미지를 획득하는 단계;(c) 상기 획득된 홀로그램 이미지를 퓨리에 변환하고 상기 변환된 이미지를 비교하는 단계; 및(d) 상기 변환된 이미지의 차이를 이용하여 상기 샘플의 숨겨진 이미지를 복원하는 단계;를 포함하는 것을 특징으로 하는 X선 홀로그래피 이미징 방법
6 6
제5항에 있어서,상기 (b) 단계는 상기 샘플부 내에 상기 레퍼런스가 구비되어 있는 경우, 상기 레퍼런스를 패쇄 또는 노출시켜 상기 샘플의 자기상관 신호 획득용 홀로그램 회절 이미지를 획득하는 것을 특징으로 하는 X선 홀로그래피 이미징 방법
7 7
제5항에 있어서,상기 (b) 단계는 상기 샘플부 내에 상기 레퍼런스가 없는 경우, 상기 샘플부에 상기 레퍼런스를 추가하여 상기 샘플의 자기상관 신호 획득용 홀로그램 회절 이미지를 획득하는 것을 특징으로 하는 X선 홀로그래피 이미징 방법
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순번 패밀리번호 국가코드 국가명 종류
1 KR1020160031912 KR 대한민국 FAMILY
2 WO2016043471 WO 세계지적재산권기구(WIPO) FAMILY

DOCDB 패밀리 정보

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순번 연구부처 주관기관 연구사업 연구과제
1 미래창조과학부 초강력 레이저 과학 연구단 캠퍼스 연구단 연구사업 초강력 레이저를 이용한 상대론 영역의 레이저-물질 상호작용 연구