요약 | 본 발명의 일 실시예에 따른 X-선 형광분석법(X-ray fluorescence technique)을 이용하여 토양 내 불소 농도를 분석하는 채취된 토양시료로부터 준비된 분석용 시편을 보조 시편에 지지되도록 배치하여 분석하는 방법이다. 상기 보조 시편은 X-선에 의한 2차적인 여기 현상을 일으켜 상기 분석용 시편의 분석 강도를 증가시킬 수 있다. |
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Int. CL | G01N 23/223 (2018.01.01) |
CPC | G01N 23/223(2013.01) G01N 23/223(2013.01) G01N 23/223(2013.01) |
출원번호/일자 | 1020150043391 (2015.03.27) |
출원인 | 한국기초과학지원연구원 |
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공개번호/일자 | 10-2016-0116249 (2016.10.07) 문서열기 |
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법적상태 | 취하 |
심사진행상태 | 수리 |
심판사항 | |
구분 | 신규 |
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심사청구여부/일자 | N |
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