[KST2015094337][한국전자통신연구원] |
정전용량 센서를 이용한 레티클 수평/수직 정렬방법 |
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[KST2015075424][한국전자통신연구원] |
캐스코드 혼합기 회로 |
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[KST2015093582][한국전자통신연구원] |
전자 장치의 보호층 결함 검출 방법 |
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[KST2015098933][한국전자통신연구원] |
금속 산화막의 전류 스위칭을 이용한 정보 저장 장치 |
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[KST2015096664][한국전자통신연구원] |
유기전자소자의 보호층 결함 검출 방법 및 이를 이용한 유기전자소자의 제조방법 |
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[KST2016016866][한국전자통신연구원] |
결함 검출 장치(DEVICE FOR DETECTING DEFECTS) |
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[KST2015092661][한국전자통신연구원] |
가스 모니터링 장치 및 그를 포함하는 플라즈마 공정 설비 |
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[KST2015100485][한국전자통신연구원] |
반도체소자의소신호등가회로저항추출방법 |
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[KST2015075373][한국전자통신연구원] |
반도체공정장비용비접촉식실시간금속박막두께측정장치및두께측정방법 |
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[KST2015095412][한국전자통신연구원] |
온도변화에따른반도체에너지갭측정장치및방법 |
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[KST2015074214][한국전자통신연구원] |
고주파프로우브카드용에폭시링 |
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[KST2015086132][한국전자통신연구원] |
플라즈마 손상 측정장치 |
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[KST2016017169][한국전자통신연구원] |
유기전자소자의 보호막 결함 검사 방법(DEFECTS INSPECTION METHOD IN PASSIVATION LAYER OF ORGANIC ELECTRONIC DEVICE) |
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[KST2015094060][한국전자통신연구원] |
반도체재료의물성분석용이온선식각장치에서의회전중심조정방법및장치 |
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[KST2015074145][한국전자통신연구원] |
반도체소자의물성분석용슬릿의제조방법및슬릿을이용한미소부위엑스선회절분석방법 |
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[KST2015100563][한국전자통신연구원] |
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[KST2015088059][한국전자통신연구원] |
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화합물 반도체의 도핑특성을 실시간으로 감지하는방법 |
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반도체 소자의 설계 검증을 위한 고속 병렬 시뮬레이션 방법 |
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리드프레임의 패드이동 검사방법 및 자동검사 시스템 |
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[KST2015098500][한국전자통신연구원] |
입사광의 보강간섭을 이용한 광 탐침, 그 광 탐침을 포함한광정보 저장장치 및 그 광 탐침의 제조방법 |
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[KST2015102237][한국전자통신연구원] |
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