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TSV용 비아 충전 방법 및 이를 이용한 3차원 적층 반도체 패키지 제조 방법(FILLING METHOD OF VIA FOR TSV AND MANUFACTURING METHOD FOR 3D STACKED SEMICONDUCTOR PACKAGE)

  • 기술번호 : KST2016018805
  • 담당센터 : 인천기술혁신센터
  • 전화번호 : 032-420-3580
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 비아 내부의 이온 공핍을 해결한 전해증착을 이용한 TSV용 비아의 충전 방법에 관한 것으로, 실리콘 기판에 형성된 TSV용 비아를 충전하는 방법으로서, 전해증착에 의해서 상기 비아 내부에 도전재를 충전하되, 비아 내부에 전자기유체역학 효과(MHD effect)에 의한 도금액의 유동을 유발하여 도전재 이온의 공핍을 방지하는 것을 특징으로 한다. 본 발명은, 전자기유체 효과에 의해 비아 내부까지 도금액을 유동시킴으로써, 비아 내부의 공핍 현상을 방지하여 비아 충전 속도를 크게 향상시켜 공정비용을 줄이는 효과가 있다. 또한, 비아 내부의 도금액을 유동시켜 공핍 현상을 방지하여 증착속도가 빠르기 때문에, 종래 도금액에 사용되던 첨가제 중에서 가속제를 사용하지 않은 도금액을 사용할 수 있으며, 공정비용이 감소하는 효과 있다.
Int. CL H01L 21/768 (2006.01)
CPC H01L 23/49827(2013.01) H01L 23/49827(2013.01)
출원번호/일자 1020150056939 (2015.04.23)
출원인 한양대학교 에리카산학협력단
등록번호/일자
공개번호/일자 10-2016-0126189 (2016.11.02) 문서열기
공고번호/일자
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 공개
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 N
심사청구항수 10

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한양대학교 에리카산학협력단 대한민국 경기도 안산시 상록구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 유봉영 대한민국 경기도 성남시 분당구
2 진상현 대한민국 서울특별시 노원구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 특허법인 천지 대한민국 서울특별시 강남구 논현로**길 **, *층(역삼동, 신한빌딩)

최종권리자

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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2015.04.23 수리 (Accepted) 1-1-2015-0394050-78
2 [대리인선임]대리인(대표자)에 관한 신고서
[Appointment of Agent] Report on Agent (Representative)
2020.03.02 수리 (Accepted) 1-1-2020-0221869-04
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번호 청구항
1 1
실리콘 기판에 형성된 TSV용 비아를 충전하는 방법으로서,전해증착에 의해서 상기 비아 내부에 도전재를 충전하되, 비아 내부에 전자기유체역학 효과(MHD effect)에 의한 도금액의 유동을 유발하여 도전재 이온의 공핍을 방지하는 것을 특징으로 하는 TSV용 비아 충전 방법
2 2
청구항 1에 있어서,상기 비아의 종횡비가 9:1 내지 50:1의 범위인 것을 특징으로 하는 TSV용 비아 충전 방법
3 3
청구항 1에 있어서,상기 비아의 직경이 10㎛ 이하인 것을 특징으로 하는 TSV용 비아 충전 방법
4 4
청구항 1에 있어서,상기 전자기유체역학 효과(MHD effect)에 의한 도금액의 유동은 자기장을 인가하여 유발되는 것을 특징으로 하는 TSV용 비아 충전 방법
5 5
청구항 4에 있어서,상기 자기장은 상기 실리콘 기판의 뒤쪽에서 인가되는 것을 특징으로 하는 TSV용 비아 충전 방법
6 6
청구항 4에 있어서,상기 자기장의 방향이 상기 비아의 길이방향과 직교하는 것을 특징으로 하는 TSV용 비아 충전 방법
7 7
청구항 4에 있어서,상기 비아에 인가되는 자기장의 자속밀도가 0
8 8
청구항 1에 있어서,상기 전해증착 공정이 1 ~ 100 mA/cm2 범위의 전류밀도로 수행되는 것을 특징으로 하는 TSV용 비아 충전 방법
9 9
청구항 1에 있어서,상기 전해증착 공정에서 사용되는 도금액에 증착 가속제(accelerator)를 첨가하지 않은 것을 특징으로 하는 TSV용 비아 충전 방법
10 10
청구항 1 내지 청구항 9 중 하나의 방법으로 TSV용 비아를 충전하는 충전공정을 포함하는 3차원 적층 반도체 패키지 제조 방법
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
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순번 연구부처 주관기관 연구사업 연구과제
1 산업통상자원부 (사)한국반도체연구조합 산업기술혁신사업 / 산업핵심기술개발사업 / 전자정보디바이스산업원천기술개발사업(RCMS) High Aspect Ratio 미세 via 증착 기술